CN114689170B 大拓扑荷值单模完美涡旋光的测量装置和方法 （中国科学院上海光学精密机械研究所）_第1页
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大拓扑荷值单模完美涡旋光的测量装置和一种大拓扑荷值完美涡旋光的测量装置和反射式纯相位液晶空间光调制器的控制端与第一PC控制端相连，所述的CCD相机的控制端与第二PC控制端相连，所述的CCD照相机置于所述的射式纯相位液晶空间光调制器和傅里叶透镜之2相机(11)，所述的反射式纯相位液晶空间光调制器(6)的控制端与第一PC控制端(7)相连，次光场，所述的平凸柱面镜(8)的对称轴与y轴重合，所述的平凸柱面镜(8)的透过率函数2.利用权利要求1所述的大拓扑荷值完美涡旋光的测量装置进行大拓扑荷值完美涡旋到所述的起偏器(3)产生线偏振光；该线偏振光经所述的反射式纯相位液晶空间光调制器lgg2)从所述的CCD照相机(11)检测面上观测到的光斑呈倾斜条纹状分布，两最亮点之间34环半径会随着拓扑荷的增大而增大。2013年，Ostrovsky等人首次提出完美涡旋光这一概旋光。对于完美涡旋光，最常用的方法是与高斯光同轴干涉法【OptLet40，597-6005[0008]利用上述大拓扑荷值完美涡旋光的测量装置进行大拓扑荷值完美涡旋光的测量[0016]2)从所述的CCD照相机检测面上观测到的光斑呈倾斜条纹状分布，两最亮点之间直接通过CCD接收到的条纹的数量与方向确定待测完美涡旋光的拓扑荷值的大小6相位液晶空间光调制器6的控制端与第一PC控制端7相连，所述的CCD相机11的控制端与第CCD照相机11置于所述的傅里叶透镜9的后焦平面，所述的平凸柱面镜8位于反射式纯相位[0028]利用上述大拓扑荷值完美涡旋光的测量装置进行大拓扑荷值完美涡旋光的测量7[0034]2)从所述的CCD照相机11检测面上观测到的光斑呈倾斜条纹状分布，两最亮点之相位液晶空间光调制器(SLM)6上，使用第一PC控制端7控制所述的反射式纯相位液晶空间x和gy分别为屏幕范围内的闪耀光栅在x和y8柱面镜8，则如图2(a)所示，此时的后焦面上为一系列完美涡旋光的环径不受拓扑荷值影对值l等于衍射条纹中两最亮点之间的暗条纹数，拓扑荷值的符号根据条纹的倾斜方向判同时保持其它元件的位置不变，图4(a)与(b)分别表示移动前与移动后的接收面光强分布

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