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文档简介

尺寸的测量在技术测量中占有非常重要的地位。一般分绝对测量和相对测量。绝对测量如用外径千分尺、游标卡尺和测长仪等测量长度尺寸。相对测量是指从测量器具的读数装置上得到的是被立式光学计主要用途是利用量块和零件相比较的方法，来测量物体外形的微差尺寸，首先根据被测工件的基本尺寸L组成量块组，然后用此量块组将立式光学计的标尺调到零位。若从该仪器刻度尺上获得的被测长度对量块尺寸的偏差为ΔL，则被测工件的长度为L+ΔL。是一种精度高、结构简单的光学量仪。该仪器分度值为0.001毫仪器测量原理:立式光学计是利用光学杠杆放大原理1移动的距离，则仪器的放大比K为：当a很小时，tan2a≈2a,tana≈a，因此K光学计的目镜放大倍数为12，J=200mm,b=5mm,则放大比K=80。刻线尺的刻线间距C=0.08mm，故仪器的分度值i和总放大倍数n分别为immn=12K=9602以观察到毫米数值，但还需细分读数，以满足精密测量的要求。测微目镜中有一个固定分划板4，刻有十圈平面螺旋双刻线。螺旋双刻线的螺距恰与固定分划板上的刻度间距相等，其分度值也为仪器的读数方法如下：从目镜中观察，可同时看到三种刻线（图1-6b先读毫米数（7mm）,几毫米刻度值的一圈平面螺旋双刻线夹住毫米刻线，再从指示线对准的圆周刻度上读得微米数2．选择测头。测头有球形、平面形和刀口形三3．调整仪器零位。先粗调、再微调，直至在目4．进行测量。将被测件放在工作台上，并在测头下面缓慢移动，读数的最大值（即转折点）即3块夹的侧块上（或标准环内）使活动测头内缩，以保证放入可换测头时不与侧块（或标准环内壁）摩擦产生磨损。然后，松开定位护桥和活动测头，使可换测头与侧块接触，就可在垂直和水平两个分表找最小值。反复摆动几次，并相应地旋转表盘，使百分表的零刻度正好对准示值变化的最小值，零位对好后，用手轻压定位护桥使活动测头内缩，当可换测头脱离接触时，缓缓地将内径百分4．进行测量。将内径百分表插入被测孔中，沿被两个部位上各测一次。测量时轻轻摆动百分表（如图54量轴和尾管，使两侧钩头部的楔槽对齐，然后旋紧测钩上的螺钉，将测钩固定。），下标准环或量块组，然后安装被测工件，松开螺钉2，使测头与工

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