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道崇文大道与弘济路交叉路南300米A,2015.04.22A,2019.09.20A,2020.01.10A,2021.03.12轮廓线以及所述判定图像中存在的缺陷面积和轮廓线以及所述缺陷面积和所述缺陷位置的信2S101，采集无缺陷玻璃基板的图像作为基准图像，S301，基于所述第一轮廓线、所述第二轮廓通过所述玻璃基板缺陷检测模型确定待检测玻璃基板存在的缺陷，并判其中，若存在所述内部缺陷，所述第二轮廓线由所述近似确定所述缺陷面积占比超过预设值的子板的个数，若个数超过两基于所述二值图像进行轮廓提取，绘制所述第一轮廓线，所述第一轮配待检测玻璃基板的外轮廓线与所述第一轮廓线，确定待检测玻璃基板是否存在边缘缺34[0001]本发明涉及玻璃基板缺陷检测技术领域，尤其涉及确定玻璃基板缺陷等级的方[0003]在玻璃基板的制造过程中，一般都会基于玻璃基板缺陷存在的缺陷进行等级划分，从而无法根据缺陷等级对缺陷玻璃基板进行有效的回收利用，陷玻璃基板的缺陷等级进行相应的操作处理，能够实现缺陷玻璃基板的最大化回收利用，[0010]对所述基准图像进行灰度处理得到灰度图像，并将所述灰度图像转换为二值图56[0032]图4示出了本申请一较佳实施例确定玻璃基板缺陷等级的计算机设备的结构示意系是基于附图所示的方位或位置关系，其仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指语不能理解为对本发明的限制。[0037]参考图1，依本发明一较佳实施例的一种确定玻璃基板缺陷等级的方法将在以下7[0043]在本说明书的一个或多个实施例中，对所述基准图像进行灰度处理得到灰度图89测后的玻璃基板上施加相应的隐形标记，其中所述隐形标记为后续工位能够识别的标记，缺陷面积占比通过确定子板的数量来确定缺陷等级等一种手段或多种手段的结合来全方所述计算机设备执行前述确定玻璃基板缺陷使得所述计算机或所述处理器执行前述确定玻璃基

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