CN115118956B 一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法及系统 （清华大学）

一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量本发明提供一种线性偏振图像传感器的偏子效率的测量来评估线性偏振图像传感器的偏2选取图片的中心区域，得到不同偏振方向像素的灰度响应值，通过拟合通过对消光比、角度标定值、校正参数矩阵和各偏振方向量子效在明场和暗场环境中，在转台的某一相对旋转角度下，利用在等间距曝光时间和波长下，旋转转台，得到各偏振方向像素设置在某一特定的波长和曝光量下，旋转转台，得到各偏振方向像设置相同的波长和曝光量，旋转转台，得到各偏振方向像素的灰度响应差(o;-o;uax)随灰度响应平均值(μy-μy.dark)变化的第一线性曲线，所述第一线性曲线斜在相同的明场条件下，设置相同等间距的曝光时间与波长，拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝光时间texp变化的第二线性曲线3在某一特定曝光时间和某一特定波长下，将各个偏振方向全通过改变积分球光源的光照强度或者调整线性偏振图像传感器的曝光时间控制曝光旋转高性能线偏振片，在某一特定曝光量下，求得各偏振方向的灰度响旋转角变化的序列；针对各偏振方向，获取每个偏振方向像素的灰度响应均值随相对对第一组序列进行傅里叶拟合，得到各偏振方向像素的灰度响应值选取各偏振方向像素的灰度响应值随旋转角度变化的序列进行傅里叶拟根据偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝光时间texp变化拟合生成第二线性曲线4在明场和暗场环境中，在转台的某一相对旋转角度下，利用在等间距曝光时间和波长下，旋转转台，得到各偏振方向像素设置在某一特定的波长和曝光量下，旋转转台，得到各偏振方向像设置相同的波长和曝光量，旋转转台，得到各偏振方向像素的灰度响应在相同的明场条件下，设置相同等间距的曝光时间与波长，拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝光时间texp变化的第二线性曲线5的测试标准为欧洲机器视觉协会制定的摄像机及图像传感器测试标准：EMVAStandard图像传感器。目前，已集成的商用分焦平面偏振图像传感器大多为线偏振传感器。EMVA6[0017]拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝[0018]转换不同波长的滤光片，得到不同的量子效率，画出波长λ与η(λ)的变化关系曲测值与理想值做最小二乘拟合得到所有超像素的均匀[0024]通过改变积分球光源的光照强度或者调整线性偏振图像传感器的曝光时间控制对旋转角变化的序列；7感器的曝光量随曝光时间变化的第二线性曲线，根据第二线性曲线的斜率求取量子效率，[0032]根据线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝光时间t[0040]图1是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法的流程示意图[0041]图2是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法的流程示意图[0042]图3是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法的流程示意图[0043]图4是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法的流程示意图[0044]图5是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法的流程示意图8[0045]图6是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量设备光线传播示意[0046]图7是本发明提供的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量系统的模块连接示[0050]下面结合图1-图5描述本发明的一种线性偏振图像传感器的偏振性能测量方法，[0054]参考图6，为了获取线性偏振图像传感器拍摄的图像，本发明中设置了积分球光入射到线性偏振图像传感器感光面的平行均匀9[0065]S208、拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-[0073]S2021、通过改变积分球光源的光照强度或者调整线性偏振图像传感器的曝光时变化的第一组序列。全部的像素灰度响应值为i≤30000)个像素的响应值为xi,则该偏振像素在可旋转高性能线性偏振片旋转到该角度光时间下每个偏振方向包含360个点的像素响应平均值的序像素的灰度响应均值随相对旋转角度变化的第[0083]拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝[0085]通过明暗场各偏振方向的像素灰度响应平均值之差与曝光时间平均值texp的线性[0088]参数计算模块120，用于选取图像的中心区域像素得到不同偏振方向的灰度响应振方向量子效率评估线性偏振图像传感器的值随相对旋转角变化的第一组序列。[0095]根据线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝光时间t[0097]拟合出线性偏振图像传感器的曝光量(μy-μy.dark)随曝以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；