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ICSCCSY

X射线DomesticCeramics–Chemicalanalysis–WavelengthdispersiveX-rayspectrometricmethod2024-11-01发 2025-03-01实上海市分析测试协会T/SHAIAT/SHAIA007—T/SHAIAT/SHAIA007— GB/T1.1—20201GB/T20001.4—20154部分:试验方法标准》的规定起草。XX射线荧光光谱分析方法,A的规定。GB/T6682JJG810XX射线荧光光谱仪上测量标准样品和试样中各元素分析线强度,用标仪器应配置定性和定量分析软件、分光晶体(LiF200晶体、LiF220晶体、PET晶体、用于钠0.0001g用天平(6.3)6.8g(0.1mg)混合熔剂(7.2)0.5g(0.1mg)经烘干10%)。据不同的仪器配置进行选择。管压和管流的选择一般保证测量的功率不低于3kW。测量前应用有代表的每一批次分析前或每8h(取短者)测量一次。计算校正因子,计算机软件自动用校正因子对仪器可能Iii的谱线净强度,单位为cps或kcps;Wj——标准样品中共存元素j的质量分数;αj——共存组份j对i元素的基体校正系数;Lj——共存元素j重叠校正系数;a,bc建立的校准曲线应定期(3个月)用标准物质校准一次。当更换流气正比计数器的气体后,;X荧光光谱法测定范围XA.

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