CN119452401A 用于检验扁平样品的设备和方法 （捷德货币技术有限责任公司）

2024.12.27PCT/DE2023/1004752023.06.23WO2024/002420DE2024.01.04有价文件或用于制造有价文件的半成品的设备器模块设计用于在扁平样品处于或至少近似处传感器模块布置成与规定测量平面间隔模块距为在规定测量平面的区域中的测量距离偏差的函数的测量信号的信号变化由于窗口的回射效应而与在没有回射效应时出现的信号变化相比2器模块设计用于在扁平样品位于规定测量平面(E)或至少近似地位于规定测量平面中时，其中，传感器模块(24)布置成与规定测量平面(E)间隔模块距离(其中，在记录测量信号时，扁平样品能够位于与规定测量平面(E)间隔测量距离偏差窗口(4)布置成与规定测量平面(E)间隔窗口距离(g)，并且窗口距离(g)选择得这样定测量平面(E)的区域中测量距离偏差(y)的函数的测量信号的信号变化由于窗口的回射效应而与扁平样品的测量信号的在没有回射效应时出现的内测量距离偏差(y)的函数的测量信号的信号变化由于窗口的回射效应而与在没有回射效部分的照明光/激发光在扁平样品处朝向窗口反射或散射，并且之后从窗口反射4.根据前述权利要求之一所述的设备，其中，扁平样品的测35.根据前述权利要求之一所述的设备，其中6.根据前述权利要求之一所述的设备，其中，所述光/激发光以偏离扁平样品的样品法线的角度照射到块距离(d)选择得这样小，使得针对扁平样品的在窗区段上的测量位置，扁平样品的测量信号作为测量距离偏差(y)的函数具有相对于规定测作为测量距离偏差(y)的函数在整个运输路径宽度(B)上具有相对于规定测量平面中的测所述其他窗口(5)布置成与规定测量平面(E)间隔其他窗口距离，并且其他窗口距离4其中，为了对扁平样品进行光学检验，所述光学的传感器模块(扁平样品预设的规定测量平面(E)或至少近似地位于所述规定测量平面中时，尤其是在扁其中，传感器模块(24)布置成与规定测量平面(E)间隔模块距离(其中，在记录测量信号时，扁平样品能够位于与规定测量平面(E)间隔测量距离偏差传感器模块与规定测量平面的模块距离(d)选择得这样小，使得作为在规定测量平面(E)的区域中测量距离偏差(y)的函数的测量信号的信号变化由于窗口的回射效应而与扁平样品的测量信号的在没有回射效应时出现5张或纸幅，并且只有符合预设的标准的有价文件或半成品才能够作为能够流通的予以交在可能忽视实际上不可接受的质量偏差或一些伪造6记录测量信号时所检测的(例如位于样品表面)的检测区域(至少近似地)位于规定测量平于规定测量平面中或至少近似地位于规定测量平面中的运输路径例如借助设备的运输装扁平样品发出的漫反射光线或发光光线均通过位于规定测量平面中的扁平样品的在没有回射效应的情况下产生的或能记录的相应的测[0015]布置在传感器模块和扁平样品之间的窗口与规定测量平面的窗口距离优选为至规定测量平面的区域中的测量距离偏差的函数的测量信号的在没有回射效应的情况下出域中的测量距离偏差的函数的测量信号的信号变化由于窗口的回射感器模块)独立地设定模块距离，以例如使作为测量距离偏差的函数的测量信号的信号变7一系列的其他设备的模块距离。尤其可以将所述设备设置用于调节传感器模块的模块距[0024]从扁平样品发出的光辐射、尤其是由照明光/激发光引起的(例如各向同性地从扁平样品向所有方向射出的)漫反射光线或发光光线射至窗口，并且尤其是在入射角较大散射，使得其能够透过窗口被传感器模块或其探测器装置/多个探测器装置检测到并且对[0025]传感器模块优选设计用于在扁平样品上的一个或多个分散的位置处例如沿着一[0027]设备或传感器模块例如设计用于使(光源的)照明光/激发光以偏离样品法线(即[0028]扁平样品或扁平样品的在记录测量信号时被检测的检测区域可以在记录测量信设计用于将扁平样品引入规定测量平面或规定测量平面的区域中，使得在记录测量信号检测的检测区域)的测量位置可以在记录测量信号时与传感器模块具有不同于模块距离的8样品这样被运输经过传感器模块旁，使得扁平样品测的检测区域)在记录测量信号时可以位于下述测量位置中，该测量位置位于规定测量平面之外/与规定测量平面相间隔或与规定测量平面具有测量距离偏差。实际测量距离可能[0030]扁平样品的测量信号(在考虑到回射效应的情况下能被检测到)作为测量距离偏得在扁平样品的最大值测量位置pm处达到或将会达到测量信号的最大值m，所述最大值测[0031]扁平样品的使得(在考虑到回射效应的情况下能被检测到的)测量信号在其处将值测量位置pm，即在其处作为测量距离偏差的函数会达到测量信号的最大值m的最大值测中将会达到(考虑到回射效应能被检测到的)测量信号的最大值的测量距离尤其以至少[0032]附加地或者备选地，传感器模块与规定测量平面之间的[0033]扁平样品的测量信号作为与规定测量平面的测量距离偏差y的函数发生信号变平面的区域中(沿着样品法线的方向或垂直于窗1mm的范围内)测量距离偏差y的函数的测量信号的信号中测量距离偏差的函数的测量信号在没有窗口的回射效应的情况下出现的信号变化相比，[0035]备选地或者附加地，传感器模块与规定测量平面之间的使得针对扁平样品的下述测量位置，即这些测作为测量距离偏差的函数(由于窗口的回射效应)具有相对于规定测量平面中的测量信号使得如果扁平样品的测量位置沿着两个方向偏离规定测量平面不超过1.0mm(y＝+/_9[0036]备选地或者附加地，传感器模块与规定测量平面之间的量信号作为测量距离偏差的函数(由于窗口的回射效应)具有相对于规定测量平面中的测传感器模块的一侧上被窗口限制并且在远离传感器模块一侧上被机械限制部或者其他窗口限制。运输路径宽度(沿着样品法线的方向/垂过窗口到达扁平样品的光束路径，并且基于从扁平样品透过窗口到达传感器模块的光辐传感器模块与规定测量平面的模块距离d选择得比预定模块距离d0小侧上具有其他窗口，穿过扁平样品透射的照明光/激发光能够由所述其他窗口反射回到扁[0041]透过扁平样品透射的照明光/激发光例如可以在其他窗口处经过反射，从而再次半成品，在该设备中或通过该设备借助光学的传感器模块对有价文件或半成品进行检验，[0047]在所述方法中，当扁平样品位于传感器模块外的规定测量平面中或至少近似地着(位于规定测量平面中或至少近似地位于规定测量平面中的)运输路径被运输经过传感器模块和扁平样品之间布置有窗口，从传感器模块入射到扁平样品上的照明光/激发光和时被检测的检测区域)可以在记录测量信号时位于与规定测量平面间隔测量距离偏差的测面内的扁平样品的在没有回射效应的情况下出现的相应测量信号相比增大至少10％。此没有回射效应的情况下出现的信号变化(作数)相比，即与窗口例如由于其与扁平样品的距离较远而不产生回射效应或仅产生可忽略靠地得出半成品或有价文件中是否存在确定的或期望的是否大于预定的阈值和/或在预设的接受范围内。由此能够以简单的方式得出半成品或有价文件中/上是否存在确定的或期望的数量的期望[0054]防伪特征的被检验的表征性的特性或预设的特性例如是半成品或有价文件的防应的情况下扁平样品的测量信号随着与规定测量平面E的测量距离[0059]图2b示意性示出了传感器模块与扁平样品的规定测量平面E间隔预定模块距离d0[0061]图3a_c示出了针对不同的窗口距离g1(图3a)和g2(图3b)在回射效应中光束的示[0062]图4a示出了在传感器模块按照本发明地布置成间隔模块距离d、具有回射效应的情况下扁平样品的测量信号随着与规定测量平面E的测[0063]图4b示出了在仅有一个窗口的情况下，传感器模块与扁平样品的规定测量平面E[0064]图5a示出了在由于其他窗口产生附加的回射效应的情况下测量信号由于回射效[0065]图5b示出了在存在其他窗口的情况下传感器模块与规定测量平面E间隔较小距离下扁平样品的测量信号随着与规定测量平面[0068]图1a示出了用于有价文件的有价文件处理设备1的示意图，该有价文件处理设备也可以通过运输区段13向有价文件处理设备1的其[0069]图1b示出了能够在制造有价文件时使用的制造设备100的示意图，所述制造设备幅10进行光学的质量检验。根据纸幅的分别检验的区段是否符合光学检验中应用的标准，[0070]然而制造设备100也可以是用于制造有价文件页幅10的页幅印刷设备，所述有价[0073]在相应的设备1、100中借助适宜的运输装置沿运输方向x将扁平样品10运输经过[0074]由扁平样品响应入射至扁平样品上的照明光/激发光而发出的光辐射例如是漫反探测器装置21例如分别设置用于检测扁平样品在一个或多个光谱范围或光谱通道K1、道SP1至SP5设置自身的光源22和必要时的22'。了位于规定测量平面E(所述规定测量平面位于y＝0处)中的扁平样品10的能够借助传感器模块24透过窗口4检测到的测量信号随着与规定测量平面E的测量距离偏差y的预期变化。将传感器模块24布置成与规定测量平面E(由设备1、100为扁平样品预设)间隔该模块距离因为该回射效应对测量信号的信号变化走向的影响在本发明的准备阶段中才被认识[0079]图2b示出了传感器模块24与扁平样品10的预设的规定测量平面E间隔预定模块距离d0的相应的迄今的布置结构。窗口4位于传感器模块和规定测量平面E之间的下述位置示出了扁平样品10(虚线)的位置，该扁平样品与规定测量平面E间隔测量距离偏差y＝dy，并且相应地与传感器模块具有实际测量距离a，所述实际测量距离与预定模块距离d0存在[0084]图3a和图3b中实线所示的光线在检测区域20的中心从样品表面发出，在窗口4处测区域20内，则在窗口4处反射回去并且再次在样品上散射的照明光也对传感器模块24的[0087]首先，激发光在扁平样品处发生散射，然后如上所述地在窗口4处反射回扁平样朝向扁平样品的方向反射。这些光线仍可能在样品表面处朝向传感器模块24的方向散射。只有在光线在窗口4处反射之后在样品上的检测区域20内照射(撞击)时，这两种效应才对[0088]图3c示出了在测量距离较小时由于回射效应导致的测量信号的增大，参见曲线是传感器模块24定位在与规定测量平面E的距离d0时传感器模块的固有的距离依赖性，参迄今通常的预定模块距离d0，测量信号的信号变与回射效应的强度或存在与否无关地也产生测量信号的所测量的高度或所能测量的高度部分地相互补偿。传感器模块24所定位到的模块距离d优选比迄今常用的预定模块距离d0[0093]图4a中以i标记的曲线示出了在传感器模块24与规定测量平面E之间的模块距离曲线t示出了，由于模块距离与预定模块距离d0存在偏差而导致的测量信号的降低能够良径的整个宽度上(从一g到+g)，作为测量距离偏差y的函数的测量信号的信号变化仅为b=有在改变的模块距离d和窗口的回射效应之间的相互作用，测量信号的信号变化将会明显[0097]根据本发明通过优化传感器距离实现的信号变化的降低能够用于所有照明和/或通常定位在预定模块距离d0中时，图5a中所示的曲线i0'表示传感器模块24的固有的距离[0100]通过背侧的窗口5的附加的回射效应产生传感器模块24的不同的优选的模块距离量距离偏差y的依