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文档简介

号本发明公开了两种硅胶表面硅羟基含量的测试方法,通过将硅胶样品进行称量和转移/活不仅适用于改性硅胶,同样适用于未活化的硅2转移:在保护气体氛围中,将准确称量的改性硅胶样品转移至耐高温容其中,所述脱附步骤在流动的保护气体氛围中进行,所述活化:将称量后的未活化硅胶样品进行加热,以脱附:将所述活化后的硅胶样品进行程序升温以脱附其中的硅其中,所述脱附步骤和所述活化步骤均在流动的保护气所述未活化硅胶样品和所述改性硅胶样品的平均粒径均态程序升温仪内进行,且所述动态程序升温仪内设有用于检测并记录信号的热导检测器;34[0003]硅胶作为聚烯烃催化剂载体材料,对推动聚烯烃工业的发展具有十分重要的意所用催化剂载体都是硅胶,如Unipol工艺聚乙烯催化剂载体、茂金属聚乙烯催化剂载体、硅胶载体的年需求量约为500吨,虽然80年代开始我国科研工作者开始实现聚烯烃用硅胶另一个特点——表面硅羟基,表面硅羟基是硅胶可以进行表面化学键合或者改性的基础。现有技术中对硅胶进行改性的方式主要分为物理改性和化学改性,其中常用的是物理改SiO2andTiO2bythermo_gracimetricanalysis[J]Langmuir,2003,19(1):1silanolspeciesonvarioussilicasbycouplingIRspectroscopyandin_situ热重分析法相结合实现红外和热重同步测量,准确测定摩尔综合吸收系数的值,再根据5析中的应用”中采用沉淀法或气相法对白炭黑进行脱水,需要在管外通气加热至1羟基含量对保证聚烯烃催化剂的负载工艺及催化剂的活法无法准确测定改性后硅胶表面硅羟基含量[0022]可选的,本发明提供的上述两种硅胶表面硅羟基含量的6[0026]可选的,本发明提供的上述两种硅胶表面硅羟基含量的[0027]可选的,本发明提供的上述两种硅胶表面硅羟基含量的改性硅胶样品),所述转移步骤中,可将保护气体的出口置于耐高温容器的密封处上方2_体分析仪的质谱MID扫描的质量范围为1~300amu,优选1~200amu;检测限浓度为5ppb~7温容器内的石英棉(石英棉能够防止后续在流[0044]其中,所述脱附步骤和所述标曲步骤的整个过程都在流动的保护气体氛围中进[0048]脱附:将活化后的硅胶样品进行程序升温以脱附所述活化后硅胶样品中的硅羟[0051]其中,所述脱附步骤和所述标曲步骤的整个过程都在流动的保护气体氛围中进8的MID扫描模式进行测量并记录18质量数的信号进行定性;整个过程都是在无水无氧环境件下通过焙烧(如在600_850℃下焙烧),除去[0054]除此之外,本发明提供的检测方法不仅适用于室温下硅胶表面硅羟基的准确测聚烯烃硅胶载体及活性金属的负载方案提供了保障。随着炼油向化工高端材料转型升级,可以根据上述本发明内容对本发明作出一些非本质的改[0061]为方便比较,以下各实施例中均采用检测质量范围为1~300amu,检测限浓度为5ppb~10ppm的在线气体分析仪。且各实施例中采用的保护气体中的氧含量均小于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的Ar胶样品的U型管放入动态程序升温仪中,然后保持Ar气流速为20ml/min的条件下,以5℃/9min速率将改性硅胶样品从室温升温至1000℃,并在1000℃下保持60min,然后自然降至室温。整个升温和保持高温的过程中动态程序升温仪内的热导检测器进行检测并记录信号,于调节保护气体的流速的质量流量控制器MFC,第二管线上依次设有用于调节保护气体的一管线上经MFC计量的保护气体进入动态程序升温仪经热导检测器TCD检测并记录信号N1,第二管路上经MFC计量的保护气体与水蒸气形成的混合气体进入动态程序升温仪经热导检[0067]动态程序升温仪的升温程序与脱附步骤的升温程序相同(以5℃/min速率将改性[0068]控制第二管路中进入动态程序升温仪的混合气体中水蒸气质量含量分别为0、[0069]定量:将脱附步骤中热导检测器记录的信号数值代入上被检测的改性硅胶样品表面硅羟基含量为3置于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的并对动态程序升温仪吹扫30min置换完其中的空气后,将处于流动的Kr气氛围中的含改性U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的Xe并对动态程序升温仪吹扫20min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含改性置于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的并对动态程序升温仪吹扫10min置换完其中的空气后,将处于流动的Xe气氛围中的含改性硅胶样品的U型管放入动态程序升温仪中,然后调整Xe气流速为30ml/min的条件下,以10温。整个升温和保持高温的过程中动态程序升温仪内的热导检测器进行检测并记录信号,0.05g未活化硅胶样品(粒径集中分布在70_120微米)并放入石英棉上方,然后开启Xe气并使得含未活化硅胶样品的U型管处于流动的并对动态程序升温仪吹扫10min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含未活10℃/min速率将改性硅胶样品从室温升温至650℃,并在650℃下保持100min,然后自然降并置于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的K并对动态程序升温仪吹扫10min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含改性置于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的对动态程序升温仪吹扫20min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含改性硅胶样品的U型管放入动态程序升温仪中,然后调整Ar气流速为5ml/min的条件下,以20℃/置于U型管内未放入改性硅胶样品的一端上部距离端口2_3mm处,然后打开U型管两端的封口膜使得含改性硅胶样品的U型管处于流动的对动态程序升温仪吹扫30min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含改性硅胶样品的U型管放入动态程序升温仪中,然后调整Ar气流速为5ml/min的条件下,以10℃/0.35g未活化硅胶样品(粒径集中分布在80_150微米)并放入石英棉上方,然后开启Ar气并使得含未活化硅胶样品的U型管处于流动的并对动态程序升温仪吹扫15min置换完其中的空气后,将处于流动的Ar气氛围中的含未活15℃/min速率将改性硅胶样品从室温升温至750℃,并在750℃下保持150min,然后自然降

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