CN119487376A 多芯光纤的光学特性的测定方法及测定装置 （住友电气工业株式会社）

2024.12.30PCT/JP2023/0179692023.05.12WO2024/014103JA2024.01.18多芯光纤的光学特性的测定方法及测定装置芯光纤同径且与测定器连接的第二光纤连接于2将与所述多芯光纤同径且与光源连接的第一光纤及经由所述第一光纤将从所述光源射出的测定光照射到所述第一使用第一旋转光纤保持架保持所述多芯光纤，并且对所述第一端面的旋转使用第二旋转光纤保持架保持所述第一光纤，并且对所述第一使所述第一旋转光纤保持架与所述第二旋转光纤保持架对置，使所述第二端面与所述第二光纤的与所述第二端面连接的第所述第一端面及所述第一连接端面的旋转角度的调心是分别基于使用相机的端面观所述第一端面的端面观察是通过使从用于端面观察的第一光源射出的光入射到所述所述第一连接端面的端面观察是通过使从用于端面观察的第二光源射出的光入射到所述多芯光纤具有玻璃纤维以及包覆所述玻璃纤维的外周面的透光性的包覆所述第一端面的端面观察是通过使从配置于所述第一端面与所述相机之间的用于端面观察的第一同轴落射光源射出的光入射到所述第所述第一连接端面的端面观察是通过使从配置于所述第一连接端面与所述相机之间所述多芯光纤具有玻璃纤维以及包覆所述玻璃纤维的外周面的遮光性的包覆所述相机是计算所述多芯光纤及所述第一光纤的旋转角度的支持图像所述连接的工序在使所述第一端面与所述第一连接端面对接的工序之后还包括通过所述第一旋转光纤保持架或所述第二旋转光纤保持架进行所述第一端面与所述第一连接所述对接的工序使用内部被折射率匹配剂填充的V槽或毛细3使用第三旋转光纤保持架保持所述多芯光纤，并且对所述第二端面的旋转使用第四旋转光纤保持架保持所述第二光纤，并且对所述第二所述第二端面与所述第二连接端面的对接是在将所述第二端面及所述第二连接端面分别调心完成的状态下使所述第三旋转光纤保持架与所述第四旋转光纤保持架对置来进所述第二光纤是具有纤芯直径为所述多芯光纤的多个纤芯的外接圆的直径以上的纤所述第一光纤的中心轴与纤芯的中心轴之间的距离等于所述多芯光纤的中心轴与各光源，经由与所述多芯光纤同径的第一光纤将测定光入射到所述多芯光纤的第一端测定器，经由与所述多芯光纤同径的第二光纤来测定从第一旋转光纤保持架，保持所述多芯光纤，并且对所述多芯光第二旋转光纤保持架，保持所述第一光纤，并且对所述第第一连接部，使经所述第一旋转光纤保持架旋转调心后的所述将与所述多芯光纤同径且与光源连接的单芯光纤经由所述单芯光纤将从所述光源射出的测定光照射到所述第一在所述连接的工序中，所述单芯光纤以所述单芯光纤的纤芯在述多芯光纤的作为测定对象的纤芯整体的方式与所述多芯4[0003]专利文献1中记载了使用扇入/扇出(FIFO)器件来测定MCF的各纤芯的光学特性的与第一连接端面对接；以及使第二端面与第二光纤的与第二端面连接的第二连接端面对5机对被测定MCF和带FIFO器件的虚设MCF进行调心并进行熔接。在使用与MCF对应的熔接机[0022]本公开的目的在于，提供能够在短时间内简单地进行的MCF的光学特性的测定方[0024]根据本公开，可以提供能够在短时间内简单地进行的MCF的光学特性的测定方法面观察的第一光源射出的光入射到MCF的侧面来进行的，第一连接端面的端面观察是通过使从用于端面观察的第二光源射出的光入射到第一光纤的侧面来进行的。在这种情况下，[0029](4)在上述(3)的测定方法中，MCF也可以具有玻璃纤维以及包覆玻璃纤维的外周第一端面与相机之间的用于端面观察的第一同轴落射光源射出的光入射到第一端面来进6[0031](6)在上述(5)的测定方法中，MCF也可以具有玻璃纤维以及包覆玻璃纤维的外周[0033](8)在上述(1)至(6)中任一项的测定方法中，连接的工序也可以在使第一端面与第一连接端面对接的工序之后还包括通过第一旋转光纤保持架或第二旋转光纤保持架进[0034](9)在上述(1)至(8)中任一项的测定方法中，对接的工序也可以使用内部被折射与第二连接端面的对接是在将第二端面及第二连接端面分别调心完成的状态下使第三旋一光纤的中心轴与纤芯的中心轴之间的距离等于MCF的中心轴与各纤芯的中心轴之间的距[0039](14)本公开的另一方面所涉及的MCF的光学特性的测定方法包括以下工序：将与MCF同径且与光源连接的单芯光纤连接于MCF的第一端面，并且将与MCF同径且与测定器连接的光纤连接于MCF的第二端面；以及经由单芯光纤将从光源射出的测定光照射到第一端7[0043]图1是示出第一实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定装置的构成图。如图1所旋转光纤保持架13旋转调心后的MCF2的端面2a与经旋转光纤保持架15旋转调心后的MCF3[0051]在使用测定装置1的MCF2的光学特性的测定中，从光源10射出的测定光经由FIFO8[0053]图3是示出第一实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定方法的流程图。如图3所示，第一实施方式所涉及的测定方法包括连接工序S10及测定工序S20。连接工序S10是将面5a连接到MCF2的端面2b的工序。测定工序S20是经由FIFO器件11的SMF4及MCF3将测定光[0055]第一调心工序S11是使用旋转光纤保持架13保持MCF2并且对端面2a的旋转角度进行调心的工序。第二调心工序S12是使用旋转光纤保持架15保持MCF3并且对MCF3的连接端面3a的旋转角度进行调心的工序。第三调心工序S13是使用旋转光纤保持架14保持MCF2并且对端面2b的旋转角度进行调心的工序。第四调心工序S14是使用旋转光纤保持架16保持MCF5并且对MCF5的连接端面5a的旋转角度进行调心的使从用于端面观察的光源31射出的光入射到MCF29端面观察是通过使从用于端面观察的光源31射出的光入射到MCFMCF2的包覆树脂22从侧方射入光。相机32设置于与端面2b对置的位置。相机32接收经过MCF2并从端面2b射出的光。即，端面2b的端面观察是使用用于端面观察的光源31使光从形例所涉及的端面观察装置30A还具备由分束器或半反射镜构成的光学部件33。光学部件察是使用配置于观察端面与相机32之间的作为用于端面观察的同轴落射光源的光源31(第一同轴落射光源及第二同轴落射光源)使光以同轴落射方式入射到各观察端面来进行的。置。第一连接工序S15还包括将FIFO器件11的多个SMF4中与作为测定对象的纤芯23对应的[0067]虽然省略图示，但第二连接工序S16包括使用连接部18使端面2b与连接端面5a对器件12的多个SMF6中与作为测定对象的纤芯23对应的SMF6连接于测定器20[0068]第一精密调心工序S17是在第一连接工序S15之后通过旋转光纤保持架13或旋转序S17在端面2a与连接端面3a的旋转粗调心精度低而光的耦合不充分的情况下进行。光的耦合状态能够通过从光源10照射测定光并由测定器20对[0069]第二精密调心工序S18是在第二连接工序S16之后通过旋转光纤保持架14或旋转序S18在端面2b与连接端面5a的旋转粗调心精度低而光的耦合不充分的情况下进行。光的耦合状态能够通过从光源10照射测定光并由测定器20对接的SMF4以及与测定器20连接的SMF6换接为与下一个作为测定对象的纤芯23对应的SMF4、[0073]图7是示出第二实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定装置的构成图。对于图7与光源10连接的SMF4换接为与下一个作为测[0079]图9是示出第三实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定装置的构成图。对于图9芯8c的中心轴之间的距离等于MCF2的中心轴与各纤芯23的中心轴之间的距离。在纤芯8c[0081]第三实施方式所涉及的测定方法例如用于截止波长测定。在通常的SMF的截止波如果准备能够进行多模导波的MM_MCF作为虚设光纤，则能够各纤芯独立地测定截止波长。[0082]第三实施方式所涉及的测定方法由于不使用FIFO器件，因此芯间串扰得到抑制。[0084]图11是示出第四实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定装置的构成图。对于图[0086]图12是示出第五实施方式所涉及的MCF的光学特性的测定装置的构成图。对于图一光纤)以及与光源10连接的多个MMF44。FIFO器件42具有包括与端面2b连接的连接端面的距离等于MCF2的中心轴与各纤芯23的中心轴的距离为例进行了说明，但并不限定于此。在第一连接工序S15中，偏心MMF8也可以以纤芯8c的中心轴与作为测定对象的纤芯23的中的纤芯23的中心轴一致。如果偏心MMF8以作为测定对象的纤芯23包含于纤芯8c的方式与