GB/Z 41270.8-2026航空电子过程管理大气辐射影响第8部分：对航空电子产品中质子、电子、π介子、μ子、α射线注量率导致单粒子效应的考虑

ICS49060

CCSV.04

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z412708—2026/IECTR62396-82020

.:

航空电子过程管理大气辐射影响

第8部分对航空电子产品中质子电子

:、、

π介子子α射线注量率导致单粒子

、μ、

效应的考虑

Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffects—

Part8Protonelectronionmuonalha-rafluxesandsinleevent

:,,p,,pyg

effectsinavionicselectronicequipmentawarenessguidelines

IECTR62396-82020Processmanaementforavionics—Atmosheric

(:,gp

radiationeffects—Part8Protonelectronionmuonalha-rafluxesand

:,,p,,py

sinleeventeffectsinavionicselectroniceuiment—AwarenessuidelinesIDT

gqpg,)

2026-09-24发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/Z412708—2026/IECTR62396-82020

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义和缩略语

3、………………………1

术语和定义

3.1…………………………1

缩略语

3.2………………3

技术认知

4…………………5

大气次级粒子基础知识

4.1……………5

电子设备故障状态的种典型层次故障错误危险失效

4.24:---………8

一般辐射来源

4.3………………………10

粒子考虑

4.4……………16

结论和指南

4.5…………………………31

附录资料性半导体器件

A()CMOS……………………33

附录资料性辐射效应的一般描述

B()…………………36

带电粒子在半导体材料中引起的辐射效应电荷收集和双核效应

B.1/……………36

质子辐射效应

B.2………………………37

低能中子辐射效应

B.3…………………39

高能中子辐射效应

B.4…………………40

重离子辐射效应

B.5……………………40

参考文献

……………………41

Ⅰ

GB/Z412708—2026/IECTR62396-82020

.:

前言

本文件为报告类指导性技术文件

。

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是的第部分已经发布了以下部分

GB/T(Z)412708。GB/T(Z)41270:

大气辐射影响航空电子设备单粒子效应防护设计指南

———(GB/T34956—2017);

大气辐射影响航空电子系统单粒子效应试验指南

———(GB/T34955—2017);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分考虑大气辐射单粒子效应的系统设计

———3:(SEE)

优化

(GB/T41270.3—2025);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分控制潜在单粒子效应的飞机高压设备设计

———4:

(GB/Z41270.4—2026);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分航空电子系统中热中子注量率及其单粒子效

———5:

应影响评估

(GB/Z41270.5—2026);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分极端空间天气对航空电子设备环境和电子设

———6:

备的潜在影响

(GB/Z41270.6—2026);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管

———7:

理

(GB/T41270.7—2022);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分对航空电子产品中质子电子介子子

———8:、、π、μ、

射线注量率导致单粒子效应的考虑

α(GB/Z41270.8—2026);

航空电子过程管理大气辐射影响第部分航空电子设备单粒子效应故障率计算程序与

———9:

方法

(GB/T41270.9—2022)。

本文件等同采用航空电子过程管理大气辐射影响第部分对航空电

IECTR62396-8:2020《8:

子产品中质子电子介子子射线导致单粒子效应认知指南文件类型由的技术报告调

、、π、μ、α》,IEC

整为我国的国家标准化指导性技术文件

。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动

:

为了与现有标准协调将标准名称更改为航空电子过程管理大气辐射影响第部分对

———,《8:

航空电子产品中质子电子介子子射线注量率导致单粒子效应的考虑

、、π、μ、α》;

将更正为7见和

———“7Li”“Li”(4.4.5、B.3);

将更正为3见

———“3He”“He”();

将77更正为77见

———p(Li,n)BeLi(p,n)Be();

将注量率的单位2-1更正为-2-1见表

———n·cm·sn·cm·s(9)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国航空电子过程管理标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC427)。

本文件起草单位中国商用飞机有限责任公司上海飞机设计研究院中国航空工业集团公司洛阳电

:、

光设备研究所中国科学院高能物理研究所中国航空综合技术研究所

、、。

本文件主要起草人宋杨孟恩丞周方元熊威李钧梁天骄莫莉华任海涛

:、、、、、、、。

Ⅲ

GB/Z412708—2026/IECTR62396-82020

.:

引言

航空电子过程管理大气辐射影响规定了航空电子过程管理领域大气辐射对航

GB/T(Z)41270《》

空电子产品影响的管理要求与技术要求拟由个部分构成

,9。

第部分航空电子设备单粒子效应防护设计指南目的在于为以下飞行的飞机中

———1:。18.3km

航空电子设备大气辐射效应防护设计提供指导

。

第部分航空电子系统单粒子效应试验指南目的在于给出微电子器件测量大气中子单粒

———2:。

子效应敏感特性的试验方法指南

。

第部分考虑大气辐射单粒子效应的系统设计优化目的在于规定航空电子产品在

———3:(SEE)。

大气辐射诱发单粒子效应影响下的技术要求用于指导航空电子产品的设计

(SEE),。

第部分控制潜在单粒子效应的飞机高压设备设计目的在于规定高电压标称高于

———4:。(200V)

航空电子设备的大气辐射影响及其管理的指南

。

第部分航空电子系统中热中子注量率及其单粒子效应影响评估目的在于描述热中子对

———5:。

航空电子产品构成的影响

。

第部分极端空间天气对航空电子环境和电子设备的潜在影响目的在于给出对极端空间

———6:。

天气事件理解的信息描述由于太阳表面活动的大量增加而产生极端空间天气的机制和条

,“”

件并根据极端空间天气的记录讨论其潜在的辐射环境

,。

第部分航空电子产品设计中单粒子效应分析过程管理目的在于规定航空电子产品设计

———7:。

中电子元器件单粒子效应分析的方法和程序

。

第部分对航空电子产品中质子电子介子子射线注量率导致单粒子效应的考虑

———8:、、π、μ、α。

目的在于推荐小粒子质子电子介子和子注量率和单粒子效应对在英

(、、πμ)18.3km(60000

尺高度飞行的飞机上使用的航空电子设备的影响的认识和指导

)。

第部分航空电子设备单粒子效应故障率计算程序与方法目的在于规定航空电子设备单

———9:。

粒子效应故障率通用计算方法总故障率计算方法软故障率计算方法硬故障率计算方法与

、、、

计算程序

。

本文件为航空电子系统设计师电子设备元器件制造商及其客户提供了额外的指导采用标准方

、、,

法优化系统设计以适应大气辐射单粒子效应以中关于单粒子效应的系统级方

,(SEE)。IEC62396-1

法的信息和指导为基础考虑了一些航空电子系统并提供了适应单粒子效应的基本方法以满

,,(SEE),

足系统硬件保证水平

。

Ⅳ

GB/Z412708—2026/IECTR62396-82020

.:

航空电子过程管理大气辐射影响

第8部分对航空电子产品中质子电子

:、、

π介子子α射线注量率导致单粒子

、μ、

效应的考虑

1范围

本文件旨在提供关于小粒子即质子电子介子和子注量率影响和单粒子效应对到

(、、πμ)18.3km

英尺高度范围内飞行的飞机上使用的航空电子设备的影响的认识和指导这是一个新兴的

(60000)。

研究方向缺乏实质性的数据支持本文件旨在帮助航空航天或地面电子设备设计者和制造商为这一

,。,

新兴的研究方向提供认识和指导

。

本文件提供了辐射环境的详细信息介绍了由于受到大气辐射而引起的潜在问题并给出了电子器

,,

件中单粒子效应率评估的推荐的定量方法

(SEE)。

注1总体系统安全方法通常得到扩展以适应单粒子效应概率并证明电子产品是否适合在电子器件电子设备

:,,、

和系统一级应用

。

注2本文件中电子器件和电子元件两个术语等同使用

:“”“