无损检测 金属材料X或伽马射线胶片照相检测 基本规则

GB/T19943-2026/ISO5579:20131无损检测金属材料X或伽马射线胶片照相检测基本规则1范围本文件规定了用于缺欠检测的X或伽马射线胶片照相检测基本规则，适用于金属材料和产品的检测。本文件不规定缺欠的验收条款。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。ISO5576无损检测工业X射线和伽马射线检测词汇（Non-destructivetesting—IndustrialX-rayandgamma-rayradiology—Vocabulary)注：GB/T12604.2-2005无损检测术语射线照相检测（ISO5576:1997,IDT）ISO5580无损检测工业射线照相观片灯最低要求（Non-destructivetesting—Industrialradio-graphicilluminators-Minimumrequirements)注：GB/T19802-2026无损检测工业射线照相观片灯最低要求（ISO5580:2023,IDT）ISO9712无损检测无损检测人员资格鉴定与认证（Non-destructivetesting-QualificationandcertificationofNDTpersonnel)注：GB/T9445-2024无损检测人员资格鉴定与认证（ISO9712:2021,IDT）ISO11699-1无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（Non-de-structivetesting—Industrialradiographicfilm-Part1:Classificationoffilmsystemsforindustrialradiogra-phy)注：GB/T19348.1-2014无损检测工业射线照相胶片第1部分：工业射线照相胶片系统的分类（ISO11699-1：2008,MOD)ISO11699-2无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理（Non-de-structivetesting—Industrialradiographicfilms—Part2:Controloffilmprocessingbymeansofreferencevalues)注：GB/T19348.2-2025无损检测工业射线照相胶片第2部分：用参考值方法控制胶片处理（ISO11699-2：2018,IDT)ISO19232-1无损检测射线照相像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（Non-destructivetesting-Imagequalityofradiographs-Part1:Determinationoftheimagequalityvalueusingwire-typeimagequalityindicators)注：GB/T23901.1-2019无损检测射线照相检测图像质量第1部分：丝型像质计像质值的测定（ISO19232-1：2013,IDT)ISO19232-2无损检测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定(Non-destructivetesting-Imagequalityofradiographs-Part2:Determinationoftheimagequalityvalueusingstep/hole-typeimagequalityindicators)GB/T19943-2026/ISO5579:20132注：GB/T23901.2—2019损测射线照相检测图像质量第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定(ISO19232-2:2013,IDT)ISO19232-3无损检测射线照相检测图像质量第3部分：最低像质值（Non-destructivetest-ing—Imagequalityofradiographs—Part3:Minimumimagequalityvalues)注：GB/T23901.3-2019无损检测射线照相检测图像质量第3部分：像质分类（ISO19232-3:2013,IDT）ISO19232-4无损检测射线照相检测图像质量第4部分：像质值和像质表的实验评价（Non-destructivetesting-Imagequalityofradiographs-Part4:Experimentalevaluationofimagequalityvaluesandimagequalitytables)注：GB/T23901.4-2019无损检测射线照相检测图像质量第4部分：像质值和像质表的实验评价（ISO19232-4：2013,IDT)EN12543（所有部分）无损检测无损检测用工业X射线系统的焦点特性（Non-destructivetest-ing—CharacteristicsoffocalspotsinindustrialX-raysystemsforuseinnon-destructivetesting)EN12679无损检测工业射线照相源尺寸的测定射线照相方法（Non-destruuctivetesting—Determinationofthesizeofindustrialradiographicsources—Radiographicmethod)3术语和定义ISO5576界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1公称厚度nominalthicknesst被检测区域内材料的标称厚度。注：不考虑制造公差。3.2透照厚度penetratedthicknessw在射线透照方向上按穿透全部材料的公称厚度而确定的厚度。3.3工件-胶片距离object-to-filmdistanceb沿射线束中心线测出的射线源侧被检工件表面至胶片的距离。3.4源尺寸sourcesized射线源的尺寸或射线管焦点尺寸。注：按EN12543确定X射线管的源尺寸，按EN12679确定伽马射线源尺寸。3.5射线源-胶片距离source-to-filmdistance;SFD沿射线束中心方向测出的射线源至胶片的距离。注：SFD为射线源-工件距离（3.6）和工件-胶片距离（3.3）之和。3.6射线源-工件距离source-to-objectdistancef沿射线束中心方向测出的射线源至射线源侧被检工件表面的距离。GB/T19943-2026/ISO5579:201334射线照相检测技术分级射线照相检测技术分为2个等级：-A级；基本技术；—B级：优化技术。当A级要求时，B。存在比B级更优的技术，可由合同各方商定全部适合的检测技术参数。应由合同各方商定射线照相检测技术等级。若因技术或结构原因，不能满足B级技术规定的透照条件（如射线源类型、射线源-工件距离等）时，经合同各方商定，可选用A级技术规定的透照条件。此时灵敏度损失应将底片最小黑度值提高到3.0，或选用更高等级胶片系统且底片最小黑度值为2.6进行补偿。B级技术其他条件特别是图像质量（见5.7）保持不变。由于补偿后的灵敏度优于A级技术，可认为被检工件是按B级技术透照。5总体要求5.1人员资格按照本文件实施射线检测的人员应按ISO9712或合同各方认可的体系取得相关工业门类的资格等级证书。5.2辐射安全防护警告-X射线或伽马射线可能对人体健康会造成严重伤害。在使用X射线设备或放射源场所时，应确保执行相关法规要求。使用射线检测时，应严格执行国家规定的安全防护措施。5.3表面处理与检测时机通常，被检工件不必进行表面处理，但如果工件表面缺欠或涂层可能影响缺陷检出，则被检工件表面应打磨光滑或去除涂层。除非另有规定，射线照相检测应在最终制造工序（如打磨或热处理）完成后进行。5.4射线照相底片标识被检工件每分段都应贴放标识。标识影像应位于射线照相底片评定区域之外，并应确保在底片上明确识别该部位。5.5标记为精确定位每张底片的透照位置，应在被检工件上做永久性标记。如果材料性质和／或使用条件不准许在工件表面上做永久性标记，可通过精确的示意图或照片等方式记录透照位置。5.6胶片搭接在检测区域内采用2张或2张以上胶片检测时，每张胶片应具有充分的搭接区域，以确保整个受检区域得到射线照相检测。胶片搭接通过放置在被检工件表面的高密度材料标记进行验证。该标记GB/T19943-2026/ISO5579:20134应在每张对应的底片上显现。5.7像质计（IQI）图像质量应按照指定应用标准和ISO19232-1、ISO19232-2、ISO19232-3及ISO19232-4规定的像质计（IQI）进行验证。6射线照相检测技术推荐6.1检测准备检测准备应按照选用的标准确定。6.2X射线管电压和射线源选择6.2.1X射线设备为获得良好的检测灵敏度，宜尽可能选择较低的X射线管电压。最大管电压与透照不同材料厚度的关系见图1。标引序号与符号说明：1-铜、镍及其合金；2-钢；3—钛及其合金；4-铝及其合金；U-X射线管电压，单位为千伏（kV)；w-透照厚度，单位为毫米（mm）。图11000kV及以下X射线机使用的最大管电压与透照不同材料厚度的关系GB/T19943-2026/ISO5579:201356.2.2其他射线源伽马射线源和1MeV以上X射线对钢、铜和镍基合金材料适用的透照厚度范围见表1。经合同各方商定，采用以下射线源检测时，可降低透照厚度最小值：-采用Ir192检测时，最小透照厚度可降至10mm；-采用Se75检测时，最小透照厚度可降至5mm。对于薄钢工件，Se75、Ir192和Co60等伽马射线获得的射线照相检测灵敏度低于X射线，但由于伽马射线源有操作方便、易于接近被检部位等优点，当无法使用X射线机时，可在表1给出的透照厚度范围内使用伽马射线源。在某些特定的应用场合，如能获得足够高的图像质量，也允许将透照厚度范围放宽。使用伽马射线照相检测时，输送射线源的往返时间不应大于总曝光时间的10％。表1伽马射线源和1MeV以上X射线对钢、铜和镍基合金材料适用的透照厚度范围射线源透照厚度（w）mmA级B级Tm170w≤5w≤5Yb169a1≤w≤152≤w≤12Se75b10≤w≤4014≤w≤40Ir19220≤w≤10020≤w≤90Co6040≤w≤20060≤w≤150X射线1MeV~4MeV30≤w≤20050≤w≤180X射线>4MeV∼12MeVw≥50w≥80X射线>12MeVw≥80w≥100对铝和钛，A级时，10≤w≤70；B级时，25≤w≤55。b对铝和钛，A级时，35≤w≤120。不宜使用B级检测。6.3胶片系统和金属屏射线照相检测应采用按照ISO11699-1确定的胶片系统类别（C1~C5）。对不同的射线源，最低胶片系统类别见表2和表3。使用金属屏时，胶片与金属屏之间应接触良好。可通过使用真空包装的胶片或适当按压方法实现接触良好。采用不同射线源透照时，宜选用的金属屏材质及厚度见表2和表3。只要能达到要求的图像质量，经合同各方商定，也可选用其他材质和厚度的金属屏。表2钢、铜和镍基合金射线照相检测所适用的胶片系统类别和金属屏射线源透照厚度（w）mm胶片系统类别金属屏类型和厚度（w）mmA级B级A级B级X射线≤100kV-C5C3不用屏或用铅屏（前、后)≤0.03GB/T19943-2026/ISO5579:20136表2钢、铜和镍基合金射线照相检测所适用的胶片系统类别和金属屏（续）射线源透照厚度（w）mm胶片系统类别金属屏类型和厚度（w）mmA级B级A级B级X射线>100kV∼150kV-C5C3铅屏（前、后）≤0.15X射线>150kV∼250kVC4铅屏（前、后）0.02~0.15Yb169Tm170w<5C5C3不用屏或用铅屏（前、后）)≤0.03w≥5C4铅屏（前、后）0.02~0.15X射线>250kV∼500kVw≤50C5C4铅屏（前、后）0.02~0.2w>50C5铅屏（前）0.1~0.2b；铅屏（后）0.02~0.2bX射线>500kV∼1000kVw≤75C5C4钢或铜屏（前、后）0.25~0.7°w>75C5C5Se75-C5C4铅屏（前、后）0.02~0.2Ir192-C5C4铅屏（前）0.02~0.2铅屏（前）0.1~0.2b铅屏（后）0.02~0.2Co60w≤100C5C4钢或铜屏（前、后）0.25~0.7°w>100C5C5X射线>1MeV∼4MeVw≤100C5C3钢或铜屏（前、后）0.25~0.7°w>100C5X射线>4MeV∼12MeVw≤100C4C4铜、钢或钽屏（前)≤铜或钢屏（后）≤1及钽屏（后)≤0.100<w≤300C5C4w>300C5X射线>12MeVw≤100C4不适用钽屏（前)≤不用后屏100<w≤300C5C4w>300C5银屏(前)≤钽屏（后)≤0.可使用更好的胶片系统类别。b在工件与胶片之间放置厚度为0.1mm的附加铅屏，可使用前屏厚度不大于0.03mm的真空包装胶片。A级，可使用厚度为0.5mm~2mm的铅屏。d经合同各方商定，A级可使用厚度为0.5mm~1mm的铅屏。°经合同各方商定可使用钨屏。表3铝和钛射线照相检测所适用的胶片系统类别和金属屏射线源胶片系统类别”增感屏类型和厚度（w）mmA级B级X射线≤150kVC5C3不用屏或用铅屏（前✓)≤0.03;；铅屏（后)≤0.15X射线＞150kV~250kV铅屏（前、后）0.02~0.15GB/T19943-2026/ISO5579:20137表3铝和钛射线照相检测所适用的胶片系统类别和金属屏（续）射线源胶片系统类别增感屏类型和厚度（w）mmA级B级X射线＞250kV~500kVC5C3铅屏（前、后）0.1~0.2Yb169铅屏（前、后）0.02~0.15Se75铅屏（前）0.2b；铅屏（后）0.1~0.2可使用更好的胶片系统类别，见ISO11699-1。b可用2个厚度为0.1mm的铅屏取代1个厚度为0.2mm的铅屏。6.4射线方向射线束应指向被检区域中心，并在该点宜垂直于工件表面，若证明采用其他透照方向能有效地检出某些特定缺欠时，允许采用合适的透照方向。可由合同各方商定射线照相检测其他透照方向。6.5散射线防护6.5.1滤光板和准器为减小散射线的影响，射线束应控制在被检区域内。采用Se75、Ir192和Co60射线源或存在边缘散射时，能在工件与暗盒之间放置1个铅质滤光板滤除低能量散射线。根据透照厚度不同，滤光板厚度在0.5mm~2mm之间选择。6.5.2背散射屏蔽为防止散射线对胶片的影响，必要时，应在胶片暗袋后贴附厚度至少为1mm的铅板或厚度至少为1.5mm的锡板。当采用新的透照布置时，应在每个暗袋后背贴上铅字“B”（高度不小于10mm，厚度不小于1.5mm)，以验证是否存在背散射。若底片出现该字符的较亮影像，底片应拒收；若此字符影像较暗或不可见，表明散射线屏蔽良好，底片接受。6.6射线源-工件距离射线源-工件距离最小值(fmin)与源尺寸或焦点尺寸（d应按照EN12543或EN12679确定的方法测定源尺寸或焦点尺寸（d）。当源尺寸或焦点尺寸有2个维度的尺寸时，应取其中较大值。在具备条件的情况下，射线源-工件距离（f）的选择应使该距离与源尺寸或焦点尺寸（d）的比值，即f/d，满足公式（1）或公式（2)：A级：fd式中：b-工件-胶片距离，单位为毫米（mm）。B级：fdGB/T19943-2026/ISO5579:20138式中：b-工件-胶片距离，单位为毫米（mm）。当b<1.2t,，公式（1）和公式（2）及图2中的b应由公称厚度t取代。可按图2给出的诺模图确定射线源-工件距离最小值fmin，即从b轴到d轴画一条直线，并根据检测等级从直线与中间比例尺(fmin根据公式（1）和公式（2）绘出诺模图，见图2。使用A级技术检测平面型缺欠时，为使几何不清晰度减小为原来的1/2，射线源-工件距离最小值fmin应按B应选用比B级灵敏度更优的技术进行透照裂纹敏感材料。单位为毫米标引符号说明：b-工件-胶片距离；d—源尺寸。A级的fbB级的f图2确定射线源-工件距离最小值fmin与工件-胶片距离b及源尺寸dGB/T19943-2026/ISO5579:201396.7一次透照长度B级透照时，射线经过厚度均匀评定区外端的斜向穿透厚度与中心束的穿透厚度之比不应大于1.1。A级透照时，射线经过厚度均匀评定区外端的斜向穿透厚度与中心束的穿透厚度之比不应大于1.2。底片上由于射线穿透厚度变化所引起的黑度值变化的范围，其下限值不宜小于6.8规定的数值，同时不宜大于观片灯允许观察的黑度最大值。6.8底片黑度曝光条件宜确保被检区域的底片总黑度（包括片基黑度和灰雾度）大于或等于表4所示的黑度。表4底片黑度等级黑度A≥2.B≥2.允许测量误差±0.1。b经合同各方商定，可降为1.5。°经合同各方商定，可降为2.0。当观片灯亮度满足6.10规定时，能观察黑度较大的底片，这对检测有利。可评定底片黑度的最大数值取决于观片灯最大亮度（见ISO5580）。观片灯应标识可评定底片黑度的最大数值。为避