标准解读
《GB/T 48209-2026 半导体器件封装用梯度材料外壳设计要求》是一项国家标准,主要针对半导体器件封装中使用的梯度材料外壳的设计提出了一系列规范。该标准适用于采用梯度材料作为外壳的各类半导体器件封装产品,旨在通过定义明确的技术参数和测试方法来确保这类产品的性能、可靠性和安全性。
在材料选择方面,标准强调了梯度材料应具备良好的热导率、低热膨胀系数以及足够的机械强度等特性,以适应不同应用环境下的需求。同时,对于材料的具体成分比例及制备工艺也给出了指导性意见,确保最终制成的梯度材料能够满足特定功能要求。
关于结构设计,文件详细描述了梯度材料外壳的基本形状尺寸、壁厚分布规律及其与内部芯片或组件之间的匹配关系等内容。此外,还特别关注了密封性能、电磁屏蔽效果等方面的要求,规定了相应的检测项目和技术指标。
为了验证设计方案的有效性,标准还列举了一系列试验方法,包括但不限于热循环测试、湿度存储试验、机械振动冲击实验等,用于评估梯度材料外壳在实际使用条件下抵抗外界因素影响的能力。
在整个文档中,除了技术规格外,还包含了质量控制流程、标识信息标注规则等方面的建议,帮助制造商建立健全的质量管理体系,保证每批次产品的稳定性和一致性。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 即将实施
- 暂未开始实施
- 2026-09-28 颁布
- 2027-04-01 实施
文档简介
ICS31200
CCSL.56
中华人民共和国国家标准
GB/T48209—2026
半导体器件封装用梯度材料
外壳设计要求
Designrequirementsforgradientmaterialpackagesofsemiconductordevices
2026-09-28发布2027-04-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T48209—2026
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
设计程序
4…………………2
设计要求
5…………………2
设计验证
6…………………6
Ⅰ
GB/T48209—2026
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出
。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会归口
(SAC/TC599)。
本文件起草单位中国电子科技集团有限公司第二十九研究所南京瑞为新材料科技有限公司
:、、
哈尔滨工业大学有研金属复合材料北京股份公司哈尔滨铸鼎工大新材料科技有限公司成都瑞雪
、()、、
丰泰精密电子股份有限公司西南交通大学中国电子技术标准化研究院深圳市联润丰电子科技有限
、、、
公司深圳市先进连接科技有限公司日照旭日电子有限公司宁波赛墨科技有限公司西安赛尔电子材
、、、、
料科技有限公司中国电子科技集团公司第十四研究所中国电子科技集团公司第三十八研究所中国
、、、
航天科技集团有限公司第五研究院西安分院北京无线电测量研究所
、。
本文件主要起草人崔西会方杰王长瑞邢大伟刘旭奕张坤刘彦强赵永红赵明林阳荟晨
:、、、、、、、、、、
李文廖玉堂于慧慧陈静青黎康杰贾斌彭颐豫黄梓泓吴昊刘婉莹马洪兵王宇飞操卫忠
、、、、、、、、、、、、、
王传伟李斌翁俊
、、。
Ⅲ
GB/T48209—2026
半导体器件封装用梯度材料
外壳设计要求
1范围
本文件规定了半导体器件封装用金属基梯度材料外壳通用设计材料设计结构设计表面处理设
、、、
计和图纸绘制要求
。
本文件适用于半导体器件封装用金属基梯度材料外壳以下简称外壳的设计和制造
(“”)。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文
。,
件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于
,;,()
本文件
。
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