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文档简介
1、.,第七章四节 集成光学器件的材料,.,集成光学是以光的形式发射、调制、控制、和接收信号,集光信号的处理功能为一身的新一代集成光学器件。 其最终目的是代替目前的电子通信手段,实现全光通讯。,.,.,光子集成用材料的共同要求,包括无源器件和有源器件的集成 共同要求 要易于形成质量良好的光波导,满足器件功能要求;包括:易于实现光波导;在给定波长范围内损耗1dB/cm 集成性能良好,即在同一衬底上可以制备出尽可能多的不同功能的器件;包括制作有源器件的带隙宽度、阈值等,电/光器件的兼容性等-目前最大的困难 材料本身和加工的经济性,.,半导体材料,是目前唯一可以同时制作光子有源器件、电子有源器件、光子无
2、源器件的材料 但对于某些特性不是最佳 分为: 间接带隙半导体材料 直接带隙半导体材料,.,间接带隙半导体材料 直接带隙半导体材料,光子与半导体作用遵循 能量守恒: 动量守恒:pk,电子波矢k=2/,.,间接带隙半导体材料 -Si,优势 硅片尺寸大(12)、质量高、价格低、机械性能好、加工方便 平面硅工艺是目前最重要的IC工艺,最成熟 具有诸如电光等效应、波导损耗低、可制作光检波器件 问题-作为光源量子效率太低,载流子迁移速度低 用途 混合集成的衬底-硅基集成光子学! 光波导及光波导器件(光分波/合波器件,) 热光/电光器件(调制器、开关,),.,SOI光波导 (Silicon-on-Insul
3、ator, 绝缘体上硅),SOI-低功耗、高速CMOS器件的基本材料,被称为“二十一世纪的硅基础电路技术”。也具备许多优越的光学特性,比如低损耗(在光通信波段)、高折射率差,这使得它不但能用来制作灵巧紧凑的光集成器件,也为利用CMOS微电子工艺实现光电集成提供了一个很好的平台。SOI材料中作为波导芯层的硅折射率很大,与作为包层的SiO2之间有很大的折射率差,.,SOI光波导特点,可以将SiO2包覆层做的很薄(小于1微米),便于OEIC工艺的实现 具有抗核辐射能力,在空间和军工应用广泛 单模波导损耗可以很低,适合制作无源器件,.,直接带隙半导体材料,InGaAsP材料体系(-族为主) GaAs、
4、InP(二元化合物) InGaAs、AlGaAs (三元化合物) InGaAsP (四元化合物) GaN材料体系 GaN、AlN MgZnSSe材料体系 ZnSe、ZnS ZnSSe,.,表7.1 InGaAsP材料体系主要参数,.,表7.2 纤锌矿型GaN、AlN材料体系主要特性,.,相的GaN为直接带隙半导体,Eg=3.39eV InxGa1-xN的Eg=1.953.39eV; AlxGa1-xN的Eg=3.397.28eV;均为直接带隙半导体材料。是紫外LED、LD的主要材料。 主要问题: 衬底材料为Al203(蓝宝石)和SiC,异质外延生长 高的缺陷密度 缺乏解理面(国家“863”计划
5、VCSEL) InGaN/GaN量子阱的发光机理不清,热电、压电 等理论和实验均有许多问题有待解决,.,表7.3 闪锌矿型GaN、AlN材料体系主要特性,.,7.3 介质材料(dielectric material ),介质材料-介电常数比较高的材料,可分为微波介质材料、光学介质材料;按材料的状态和性质分为光学晶体、光学玻璃 等 光学晶体材料:具有非常突出的电光或者声光、热光、磁光等性能,特别适合于光开关、光调制器、耦合器等器件 常用的包括: -LiNbO3和LiTaO3晶体 -ZnO晶体,.,LiNbO3和LiTaO3晶体,属于3m点群的负单轴晶体 LiNbO3很高的电光 LiNbO3很高的
6、声光系数和最小的声衰减系数(0.05dB/cm) 容易制出光、声两波场重叠系数很高的光波导和声波导,提高声光器件的效率 短波长强光密度下容易出现“光损伤” 耐热冲击性能差,加工困难,.,6.1 典型材料与制作技术,用于制作波导的不同材料,需要不同的制作技术。,.,材料与制作方法的选择需遵循下述原则: 波导层厚度和折射率的误差要小且均匀; 传输损耗小,即光学透明度好,表面凹凸小,光学散射少; 在晶体情况下,纯度和光轴符合要求; 强度大,与衬底附着性好; 工艺重复性好。,.,.,各种制作方法特点,旋转甩涂法:将高分子材料溶于溶剂做成粘稠的液体,把少量的液滴滴在衬底上,通过衬底的高速旋转而得到薄膜。
7、 浸渍涂敷法:将高分子材料溶于溶剂做成粘稠的液体,把衬底浸入这种溶液中,然后将衬底提起,从而在衬底表面附着一层薄膜。 上述两种方法制作工艺最简单,成本最低,但是薄膜的纯度和均匀性也比较低。,.,加热蒸发淀积法:在高真空状态下,将蒸发材料加热使之蒸发,蒸汽分子到达衬底表面淀积下来,形成薄膜,所以该方法也称为真空蒸发镀膜法。随着蒸发的材料不同,加热的方法也不同。通常,低熔点的材料采用电阻加热蒸发法,高熔点的材料采用电子束加热蒸发法。,.,溅射法:使溅射气体(一般为惰性气体)通过放电而等离子化,位于等离子体中的靶材由于正离子的轰击,靶材的原子被打出,这些原子淀积在衬底上而形成薄膜。 溅射法特别适用于
8、难于用加热蒸发淀积法制作薄膜的高熔点材料。 上述溅射法中采用的是不与靶材发生反应的惰性气体作为溅射气体,如果改用能够与靶材发生反应的气体作为溅射气体,就会得到二者的化合物薄膜,称为反应溅射法。,.,化学气相沉积法(CVD):以某种气体为原料,通过化学反应,在衬底上淀积薄膜。 聚合法:将单体在真空中加热使之蒸发,同时通过加热、电子束照射、紫外线照射或者等离子体照射的方法,使单体蒸汽在衬底表面淀积下来并且聚合形成薄膜。 热扩散法:先将需要进行热扩散的材料淀积在衬底的表面,然后放入高温炉中,使淀积材料扩散进衬底中,在衬底表面形成一层折射率略高的扩散层。扩散材料随纵向深度的浓度分布是从大到小的平滑分布,又称为内扩散。,.,与内扩散法相对应的是外扩散法。外扩散法是将衬底加热,使衬底内部的物质往外部扩散出去,以制作高折射率层。 离子交换法:将衬底浸入某种溶液中,通过衬底中的离子与溶液中的离子之间
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