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文档简介
1、前 言,光学研究对象: 光的现象、光的本性和光与物质相互作用。 人类对光的研究已有3000余年的历史,20世纪60年代激光问世后,光学有了飞速的发展,形成了现代光学。,几何光学:以光的直线传播规律为基础研究各种光学仪器的理论。,波动光学:研究光的电磁性质和传播规律,特别是干涉、衍射、偏振的理论和应用。,波动光学和量子光学,统称为物理光学。,量子光学:以光的量子理论为基础,研究光与物质相互作用的规律。,第十二章 光学,12-2 光源 单色光 相干光 12-3 双缝干涉 12-4 光程与光程差 12-5 薄膜干涉 12-7 光的衍射现象 惠更斯-菲涅耳原理 12-8 单缝的夫琅禾费衍射 12-9
2、圆孔的夫琅禾费衍射 光学仪器的分辨本领 12-10 光栅衍射 12-12 光的偏振状态 12-13 起偏和检偏 马吕斯定律 12-14 反射和折射时光的偏振,一、光源,光源:发光的物体,类型: 普通光源(自发辐射) 激光光源(受激辐射),热(辐射)光源,白炽灯、弧光灯、太阳,非热辐射光源(冷光源),气体放电管、日光灯、萤火虫,原子发光原子光波列:,激发态寿命 10-1110-8 s,自发辐射,一定频率、振动方向,长度有限的光波列,原子的发光模型,原子光波列,普通光源发光:,大量原子和分子持续、随机地发射的光波列,两个特点:间歇性、随机性,二、单色光,单色光:,或,普通单色光源:,激光:,三、相
3、干光,两同频单色光的叠加,光波中的电场矢量 称为光矢量。,非相干叠加,对于普通光源发出的光,如果,即两个光源发出的光之间具有确定的相位差,则把这两个光源称为相干光源,它们所发出的就是相干光。,相干叠加,平均光强:,相干条件:振动方向相同,频率相同,具有确定的相位差。,当两束相干光在空间任一点相遇时,它们之间的相位差 随空间位置不同而连续变化,从而在不同位置上出现光强的强弱分布,这种现象就是光的干涉现象。,干涉相长(明),(k = 0,1,2,3),干涉相消(暗),(k = 0,1,2,3),若,干涉的光强分布,P,S *,分振幅法:,P,薄膜,S *,两束相干光在 P 点相干叠加,分波面法:,
4、四、相干光的获得方法,两个独立的普通光源很难满足相干条件。,第十二章 光学,12-2 光源 单色光 相干光 12-3 双缝干涉 12-4 光程与光程差 12-5 薄膜干涉 12-7 光的衍射现象 惠更斯-菲涅耳原理 12-8 单缝的夫琅禾费衍射 12-9 圆孔的夫琅禾费衍射 光学仪器的分辨本领 12-10 光栅衍射 12-12 光的偏振状态 12-13 起偏和检偏 马吕斯定律 12-14 反射和折射时光的偏振,一、杨氏双缝实验,一般要求:Dd, Dx,托马斯 杨,二、干涉明暗条纹的位置,波程差:,明纹,暗纹,(k = 0,1,2,),条纹间距,(1)平行的明暗相间条纹,(3)中间级次低,(4)
5、,条纹特点:,(2)条纹等间距,明纹,暗纹,(k = 0,1,2,),条纹间距,单色光入射时双缝干涉的条纹,形状:明暗相间的直条纹(平行于缝),分布:条纹均匀 分布,可由此测。,级次:中间条纹级次低。,某条纹级次 = 该条纹相应的 之值,白光入射时双缝干涉的条纹,白光入射: 0级明纹为白色 (可用来定0级位置), 其余明纹为彩色条纹 (x )。,三、洛埃德镜实验,S1:实光源,S2:虚光源,MN:平面反射镜,阴影部分出现干涉,接触点: 暗条纹,反射光存在半波损失。,半波损失:光从光疏媒质到光密媒质的分界面上反射时,在垂直入射(i =0)或掠入射(i =90)的情况下,反射光的相位与入射光的相位
6、有 的突变。,例1 杨氏双缝的间距为0.2mm,距离屏幕为1m。 (1)若第一到第四明纹距离为7.5mm,求入射光波长。(2)若入射光的波长为600nm,求相邻两明纹的间距。,解:,第十二章 光学,12-2 光源 单色光 相干光 12-3 双缝干涉 12-4 光程与光程差 12-5 薄膜干涉 12-7 光的衍射现象 惠更斯-菲涅耳原理 12-8 单缝的夫琅禾费衍射 12-9 圆孔的夫琅禾费衍射 光学仪器的分辨本领 12-10 光栅衍射 12-12 光的偏振状态 12-13 起偏和检偏 马吕斯定律 12-14 反射和折射时光的偏振,一、光程,单色光()在真空中的波长:,在介质(折射率为 n)中的
7、波长:,光程( nx ): 将光在介质中通过的路程折算到同一时间 内在真空中所通过的相应路程。,二、光程差,相位差和光程差的关系:,光程差:,例:两相干波源S1 、S2产生相干波叠加,例: 在S2P间插入折射率为n、厚度为d的媒质,求:光由S1、S2到P的相位差 。,解:,练习题:P204,12-11,三、物像之间的等光程性,光路中插入薄透镜不会产生附加的光程差。,四、反射光的相位突变和附加光程差,半波损失:光从光疏媒质到光密媒质的分界面上反射时,反射光有 相位突变,相当于一个附加光程差 :,在薄膜上下表面反射的两束光发生附加光程差/2的条件:,n1 n3 或 n1 n2 n3,注意:反射光发
8、生在光疏介质到光密介质时的半波损失 。,n2,n1,n3,n1n2n3,或n1 n3,或n1n2n3,n2,n1,n3,n1n2n3,反射光无半波损失。,2,1,2,1,反射光有半波损失。,第十二章 光学,12-2 光源 单色光 相干光 12-3 双缝干涉 12-4 光程与光程差 12-5 薄膜干涉 12-7 光的衍射现象 惠更斯-菲涅耳原理 12-8 单缝的夫琅禾费衍射 12-9 圆孔的夫琅禾费衍射 光学仪器的分辨本领 12-10 光栅衍射 12-12 光的偏振状态 12-13 起偏和检偏 马吕斯定律 12-14 反射和折射时光的偏振,薄膜干涉有两种条纹 一般情况下薄膜干涉的分析比较复杂 (
9、因L和 d、i两因素有关) 通常只研究两个极端情形(只有d在变 或只有i在变),分别对应两种条纹。,等厚条纹 (对应仅d变的情况) 等倾条纹 (对应仅i变的情况),一、等倾干涉条纹,光经薄膜上下两表面反射后相互叠加所形成的干涉现象,称为薄膜干涉。振幅分割法,可分成等倾干涉和等厚干涉两类。,点光源照射到表面平整,厚度均匀的薄膜上产生的干涉条纹,称等倾干涉条纹。,对于两反射光:,半波损失,明纹,暗纹,1.由于薄膜厚度均匀,光程差由入射角确定,对于同一级条纹具有相同的倾角,因此称为等倾干涉条纹。,3.是否要考虑半波损失看具体情况而定。,讨论,2.对于透射光,,与反射光的干涉条纹形成互补。,等倾干涉条
10、纹的实验装置,条纹特点,形状:,同心圆环,条纹间隔分布:,内疏外密,条纹级次分布:,d一定时,,膜厚变化时,条纹的移动:,k一定时,,中央级次高,边缘级次低,条纹由中央冒出,二、增透膜和高反射膜,若n n0,增透膜的最小厚度:,利用薄膜干涉使反射光减小,这样的薄膜称为增透膜。,高反射膜(HLHLH),反射镜表面交替镀上光学厚度均为/4的高折射率ZnS膜和低折射率的MgF2膜,形成多层高反射膜。,例 如用白光垂直入射到空气中厚为320nm的肥皂膜上(其折射率n1=1.33),问肥皂膜呈现什么色彩?,解:,黄光!,取 k = 1,2,3代入上式,分别得:,红外,紫外,例 平面单色光垂直照射在厚度均
11、匀的油膜上,油膜覆盖在玻璃板上。所用光源波长可以连续变化,观察到500nm与700nm波长的光在反射中消失。油膜的折射率为1.30,玻璃折射率为1.50,求油膜的厚度。,解:,三、等厚干涉条纹,平行光照射到表面平整,厚度不均匀的薄膜上产生的干涉条纹。,薄膜厚度d 相同之处对应于同一级条纹,因此称为等厚干涉条纹。,光线垂直入射时:,明纹,暗纹,1、劈尖膜,平行光垂直入射,薄膜上下表面之间夹角极小。,明纹,暗纹,条纹特点,形状:平行于劈尖棱边的直条纹,条纹等间距分布。,相邻条纹所对应的厚度差:,条纹级次分布:厚度越大,级次越高。,劈尖处为0级暗纹半波损失,相邻条纹间距:,劈尖膜干涉的应用,测量微小
12、直径、厚度,表面平整度、平行度等。,测波长、折射率,薄膜厚度:,条纹数,测量薄膜厚度D,例2 为了测量金属细丝的直径,把金属丝夹在两块平玻璃之间,形成劈尖,如图所示,如用单色光垂直照射 ,就得到等厚干涉条纹。测出干涉条纹的间距,就可以算出金属丝的直径。某次的测量结果为:单色光的波长 =589.3nm金属丝与劈间顶点间的距离L=28.880mm,30条明纹间得距离为4.295mm,求金属丝的直径D?,解:,相邻两条明纹间的间距,例3 利用空气劈尖的等厚干涉条纹可以检测工 件表面存在的极小的加工纹路, 在经过精密加工的工件表面上放一光学平面玻璃,使其间形成空气劈形膜,用单色光照射玻璃表面,并在显微
13、镜下观察到干涉条纹,如图所示,试根据干涉条纹的弯曲方向,判断工件表面是凹的还是凸的;并证明凹凸深度可用下式求得 :,观察到的干涉条纹弯向空气膜的左端,可判断工件表面是下凹的,如图所示。,解:,由图中相似直角三角形:,2、牛顿环,平行光垂直入射球面透镜与平玻璃表面之间的空气膜。,由几何关系,形状:同心圆环(由等厚条纹+几何结构决定),条纹间隔分布:内疏外密,条纹级次分布:,条纹特点,圆心处为0级暗纹。,半径越大,级次越高。(与等倾干涉条纹不同),若压紧透镜, 牛顿环的条纹向外扩张。,牛顿环的应用,检验透镜表面质量,波长或球面透镜半径,测量第k + m和第k级暗条纹半径,解:,联立求解:,例4 用钠灯( = 5893 )观察牛顿环,看到第k条暗环的半径为r = 4mm,第k+5条暗环半径r = 6mm,求所用平凸透镜的曲率半径R。,例5 已知标准平凸透镜 R1=102.3 cm,入射光 =5839 ,测得第4条暗环(k=4)的半径 r4=2.25 cm, 求待测凹面镜的半径 R2。,解:,迈克尔孙干涉仪,S,M2,M1,迈克尔逊干涉仪 (1880年),1. 结构,2. 原理,半透半反膜,补偿板,补偿板,半透半反膜,条纹的移动也可由其他原因引起,如介质膜的插入或移去,此时引起的条纹移动数目: 由此可测定介质膜的厚度 d 或折射率 n 。,可测定光谱的精细结构。,若M2
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