数电实验(实验一_逻辑门功能测试及其应用研究).ppt

1、a,1,检查数电试验箱是否工作正常,拨动开关提供输入信号：向上拨为1；向下拨为0,指示灯用于接输出信号：为1时灯亮；为0时灯灭,数码管用于显示输出信号：0F,三组电位器,接Vcc,接GND,管座 用于插芯片,电源指示灯,a,2,检查数电试验箱是否工作正常,a,3,检查数电试验箱是否工作正常,a,4,检查芯片功能是否完好,将芯片的缺口对着左边，对应针脚插入管座；,缺口端,将芯片的左上针脚接Vcc，右下针脚接GND ；,缺口端,根据芯片的引脚结构图以及真值表进行验证。,a,5,准备一定数量的导线,将万用表拨到欧姆档，10欧姆倍率；,将导线两端直接接到万用表的“+”、“*”端 ；,观察万用表的电阻读

2、数，如较小则导线好；如较大则导线不好。,a,6,准备3根探头线,按图进行自校准接线，观察是否出现方波；,将探头线的黑端子也接到自校准钩子上，观察是否出现一根“0”电平线 ；,a,7,准备1付万用表表笔,直接将表笔短接，观察万用表的电阻读数,a,8,二 实验内容,内容一： TTL与非门逻辑功能（电压传输特性）的测试 要求自己设计电路，测试TTL的电压传输特性，得到电压传输特性的曲线。,设计步骤如下： （1）了解TTL与非门（74LS00）的引脚结构图,1 2 3 4 5 6 7,14 13 12 11 10 9 8,74LS00,Vcc 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y,1A 1B 1Y 2A

3、 2B 2Y GND,可见：芯片74LS00有14个引脚，左上针脚接Vcc，右下针脚接GND，含有4组与非门（每一组左边两个引脚为输入，右边引脚为输出）。,a,9,实验内容一,设计步骤如下： （2）自己设计电路,Vcc,1A,1B,1Y,电位器,74LS00,1,2,3,Vcc,14,GND,7,Vi,V0,a,10,实验内容一,设计步骤如下： （3）验证所用与非门芯片（74LS00）的逻辑功能正确,观察： 当拨动开关往上拨时，指示灯是否灭； 当拨动开关往下拨时，指示灯是否亮 即是否满足与非门的逻辑关系 Y=A1 如果逻辑关系不正确，则建议更换芯片！,a,11,实验内容一,设计步骤如下： （4

4、）设计表格测量，画出电压传输特性曲线,注意点： 将红表笔放在Vi待测点，调节电位器使电压值为0伏，然后将红表笔放在V0待测点，将测量值写入表格中，依次进行。 万用表直流电压档量程的选择 2.5V 与 10V 量程,a,12,二 实验内容,内容二：用三态门实现三路信号分时传送的总线结构。框图如图所示，功能如表所示 。,a,13,实验内容二,设计步骤如下： （1）了解三态门（74LS244）的引脚结构图,1 2 3 4 5 6 7 8 9 10,20 19 18 17 16 15 14 13 12 11,74LS244,Vcc 1Y1 1Y2 1Y3 1Y4,1G 1A1 1A2 1A3 1A4

5、GND,可见：芯片74LS244有20个引脚，左上针脚接Vcc，右下针脚接GND，含有2组三态门（每组三态门有4位对应输入、输出,实验时选一位即可）。,Vcc 2G 2A4 2A3 2A2 2A1,2Y4 2Y3 2Y2 2Y1 GND,a,14,实验内容二,设计步骤如下： （2）自己设计电路,1,2,3,4,5,6,1,19,1,2,18,2,18,11,9,a,15,实验内容二,设计步骤如下： （3）静态验证 控制输入和数据输入端加高、低电平(用拨动开关提供)，观察输出状态（用指示灯表示），并用电压表测量输出高、低电平的电压值。,a,16,实验内容二,设计步骤如下： （4）动态验证 控制输入加高、低电平，数据输入加连续矩形脉冲，用示波器对应地观察数据输入波形和输出波形。,注：控制输入端C1C2C3接 100时，数据输入端D1接1khz的方波（具体见下表）；用示波器同时观察D端和输出Y端的波形。,a,17,