标准解读

《YS/T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法》是一项专门针对高纯度钴材料中杂质元素进行定量分析的标准。该标准规定了使用辉光放电质谱（Glow Discharge Mass Spectrometry, GDMS）技术来检测高纯钴样品中的多种痕量杂质元素的方法。适用于高纯钴及其合金材料的质量控制与科学研究领域。

根据此标准，首先需要对样品进行适当的预处理，包括但不限于切割成适合GDMS分析的尺寸和形状。然后，在特定条件下通过辉光源激发样品表面产生等离子体，使待测元素从固态转变为气态，并进一步电离形成正离子。这些正离子经过质量分析器分离后被检测器记录下来，从而实现对不同元素的定性及定量分析。

该标准详细描述了实验操作流程、仪器参数设置以及数据处理方法等内容。例如，对于仪器条件的选择，包括工作气体种类、压力、功率等都有明确指示；而对于数据处理，则提供了如何校正背景信号干扰、计算检测限值等方面的指导。此外，还列出了常见杂质元素如铁、镍、铜等的推荐测试条件，帮助用户更准确地完成分析任务。


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  • 废止
  • 已被废除、停止使用，并不再更新
  • 2014-10-14 颁布
  • 2015-04-01 实施
©正版授权
YS∕T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法_第1页
YS∕T 1011-2014 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法_第2页
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文档简介

ICS7712070

H13..

中华人民共和国有色金属行业标准

YS/T1011—2014

高纯钴化学分析方法

杂质元素含量的测定

辉光放电质谱法

Methodsforchemicalanalysisofhighpuritycobalt—

Determinationofimpurityelementscontent—

Glowdischargemassspectrometry

2014-10-14发布2015-04-01实施

中华人民共和国工业和信息化部发布

YS/T1011—2014

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准由全国有色金属标准化技术委员会归口

(SAC/TC243)。

本标准负责起草单位金川集团股份有限公司

:。

本标准参加起草单位北京有色金属研究总院昆明冶金研究院峨嵋半导体材料研究所

:、、。

本标准主要起草人邱平秦芳林王长华杨海岸孙平墨淑敏罗舜李继东胡芳菲

:、、、、、、、、。

Ⅰ

YS/T1011—2014

高纯钴化学分析方法

杂质元素含量的测定

辉光放电质谱法

1范围

本标准规定了高纯钴中杂质元素的测定方法测定元素见表

,1。

本标准适用于高纯钴中杂质元素含量的测定各元素质量分数测定范围为

,0.1μg/kg~

20000μg/kg。

2方法原理

在氩气气氛下试样作为阴极进行辉光放电其表面原子被溅射而脱离试样进入辉光放电等离子体

,,

中在等离子体中离子化后被导入质谱仪在每一元素同位素质量数处以预设的扫描点数和积分时间对

,,

相应谱峰积分所得面积即为谱峰强度无标样时计算机根据仪器软件中的典型相对灵敏度因子自

,。,“”

动计算出各待测元素的质量分数有标样时需通过在与被测样品相同的分析条件离子源结构以及测

;,、

试条件下对标准样品进行独立测定获得灵敏度因子应用该灵敏度因子计算出各元素的质量分数

,。

通过应用每个杂质元素X与基体元素M的比值即相对灵敏度因子可以从质谱图中计算

(RSF),

出试验样品的组分含量相对灵敏度因子是通过在与试验样品相同的分析条件离子源结构以

。(RSF)、

及测试方案下对标准样品进行独立分析得到的

。

选择适当的同位素丰度因子AXiAYj和相对灵敏度因子并根据质谱图中的相关同

()、()(RSF),

位素离子强度IXi和IYj计算离子束比并对元素X和Y的相对质量分数进行计算

()()(IBR),“”“”。

IXi和IYj是指根据元素种类X和Y的同位素Xi和Yj分别测量的离子强度具体如下

()()“”“”,:

XXM×AYj×IXi

()=RSF(/)()()

YYM×AXi×IYj

()RSF(/)()()

式中XY为元素种类X与种类Y的质量分数比如果种类Y是基体MM

:()/()“”“”。“”[RSF(/)=

则X为X的绝对杂质质量分数对于纯元素基体仅有非常小的误差

1.0],()“”(,)。

3试剂与材料

除非另有说明试验中所用的试剂均为分析纯所用的水为三级水

,;。

31冰醋酸纯度不小于

.(99.5%)。

32硝酸

.(1+1)。

33无水乙醇纯度不小于

.(99.7%)。

34氩气纯度不小于

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