YDT 2005-2009 用于光纤通道的光收发模块技术条件

1、ICS 33.180.01 M33 YD 中华人民共和国通信行业标准 YDrr 2005-2009 用于光纤通道的光收发模块技术条件 The technical specifications for optical transceivers of fiber channel 2009-12-11发布2010-01-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 YDIT 2005-2009 目次 前言. . . . . . . . .11 1 范围 2 规范性引用文件. 3 术语、定义和缩略语. 4 分类. . . . . . .2 5 技术要求.，. . . . . . . . . . . .3

2、 6 测试方法. . . . . . . . .叮 7 机械和环境性能试验. . . . . .10 8 检验规则.11 9 标志、包装、运输和贮存. .12 w w w . b z f x w . c o m YDIT 2005-2009 前 本标准在编制过程中，主要参考了ANSIINCITS4-26(信息技术光纤通道物理接口2 CFC-PI-2) 、ANSIINCITS 364-23 (信息技术光纤通道10千兆位000:陀)等标准中的光接 口参数指标，并结合我国光通信用光模块的研制情况而制定。 本标准在编制过程中，注意到与下列行业标准的协调一致z 四厅1351-25(粗波分复用光收发合一一

3、模块技术要求和测试方法 本标准由中国通信标准化协会提出并归口. 本标准起草单位z武汉邮电科学研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司. 本标准主要起草人z高明锁、薛原、谢艺力、李春芳. E w w w . b z f x w . c o m YDIT 2005-2009 用于光纤通道的光收发模块技术条件 1 范围 本标准规定了用于光纤通道的光收发模块的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、贮存和 运输要求等。 本标准适用于速率为12ooMbyte/s、例Mbyte/s、2Mbyte/s和100Mbyte/s光纤通道用的光收发模块 (以下简称模块)。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标

4、准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的 修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准。然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GBrr 2421-1999 电工电子产品环境试验第1部分z总则 GB厅2828.1-2003计数抽样检验程序第1部份z按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计， 划(ISO2859-1: 1999,IDT) GB 9254-28 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GBrr 17626.3-26 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 YDrr

5、1351-25 粗波分复用光收发合一模块技术要求和测试方法 SJ，厅11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求 Sl厅11364-2006电子信息产品污染控制标识要求 ANSIINCITS4-2006信息技术光纤通道物理接口.2(FC-PI-2) MIL-S四-202G电子和电气元件试验方法标准 M且-SD-883G微电子器件试验方法标准 GR-468-CORE:24 用于通信设备的光电器件通用可靠性保证规程 3 术语、定义和缩略语 3.1 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。 3.1.1 光调制幅度optical modulation amplitude 光调制幅度OMA为

6、z OMA=A-B 式中z A表示逻辑1为高电平(传号时平均输出光功率: B表示逻辑0为低电平(空号)时平均输出光功率。 w w w . b z f x w . c o m YDrr 2005-2009 3.1.2 相对强度噪声relative intensity noise 在12dB回波损耗下，激光器相对于光调制幅度的噪声，用RIN12(OMA)表示，单位dBll缸。 3.1.3 确定性抖动deterministic jitter 具有非高斯概率密度函数的抖动，一般采用边界的峰值表示。 3.2 缩略语 下列缩略语适用于本标准z APD A va1anche photl丑叫e BER Bit

7、耻rorRate C币MCoarse Wavele鸣曲DivisionMu1tiplexing DFB Laser Distribu也dFeedback Laser FPLaser Fabry-Perot Laser OMA Optica1 Modu1ation Amplitude P剧Ptype-姐回nsic-ntype PRBS Pseudo Random Binary Sequence RIN Relative Intensity Noise RMS RIt Mean Square 4 分类 2 模块相应的类型描述如下z r-m-t-d 其中， 叶飞表数据速率(rate)。 1， 11M

8、b严的，简称1XFC速率: 2， 21Mb沪的，简称2XFC速率: 4，OMbyte/s，简称4XFC速率: 12， 12Mbyte/So 其他数据速率待研究。 m代表传输介质(media)。 SM, 91125阳I单模光纤: M5，如125阳多模光纤(5MHz.km) M妃，501125阳n高带宽多模光纤(20阳王z.km) M6, 62.51125J.LIn多模光纤(2MHz.km) 0 其他传输介质待研究。 t代表发射器件(位ansmitter)。 LC，低成本长波长激光器031Onm); LC4，长波长4路CWDM激光器031Onm); 雪崩光电二极管 比特差错率 粗波分复用 分布反馈

9、式激光器 法布里一躏罗激光器 光调制幅度 PlN光电二极管 伪随机二进制序列 相对强度噪声 均方根 w w w . b z f x w . c o m SN，短波长激光器(850nm); SN4P，短波长4路并行激光器(85伽un) SN4，短波长4路CWDM激光器(85位un) LL，长波长激光器031伽unI155臼un)。 其他发射器件待研究。 d代表传输距离(distance)。 I.中距离(2m-2km) L，长距离(2m-l0km); V，超长距离(2m-50km)0 其他传输距离待研究。 5 技术要求 5.1 极限工作条件 模块极限工作条件见表10 表1极限工作条件 参数名称符号

10、 存储温度 Ist b)开启电源，调节供电电压达到规定数值，由误码仪给模块提供服BS2 7_1 测试码型和规定的测试 速率: c)由光功率计读出平均发射光功率并记录数值。 6.2.2 中心波长、谱宽和边模抑制比的测量 6.2.2.1 测试配置 中心波长、谱宽和边模抑制比测试配置如图2所示。 固2模块中心波长、i曾宽和边模抑制比测试配置 6.2.2.2 测试条件 a)检查和测试光谱分析仪的测量精度: b)检测环境温度和被测模块的外亮温度: c)应采取静电放电防护措施。 6.2.2.1 测试步骤 a)按图2连接好线路: b)开启电源，调节供电电压达到规定数值，由误码仪给模块提供PRBS2 7_1

11、测试码型和规定的测试 速率: c)调整好光谱分析仪，通入被测光，调节光可变衰减器于适当数值，由光谱分析仪读出中心波长、 谱宽和边模抑制比并记录数值。 6.2.3 光调制幅度、上升门=降时间、确定性抖动、总抖动和眼固的测量 6.2.3.1 测试配置 光调制幅度、上升/下降时间、确定性抖动、总抖动和眼图测试配置如图3所示。 | 光明.1 示波器l 固3光调制幅度、上升门=降时间、确定性抖动、总抖动和眼固测试配置 6.2.3.2 测试条件 a)检查和测试示波器的测量精度: b)检测环境温度和被测模块的外壳温度: c)应采取静电放电防护措施。 6.2.3.3 测试步骤 8 w w w . b z f

12、x w . c o m YDrr 2005-2009 a)按图3连接好线路: b)开启电源，调节供电电压达到规定数值，由误码仪给模块提供P27_1测试码型和规定的测试 速率: c)调整好示波器，并从示波器上观察眼图: d)当眼图正常时，由示波器读出光调制幅度、上升/下降时间、确定性抖动和总抖动并记录数值。 6.2.4 相对强度噪声的测量 按ANSIINCITS404-26 FC-PI-2中附录A.3执行。 6.3 模块光接收接口参数的测试 6.3.1 灵敏度的测量 6.3.1.1 测试配置 灵敏度测试配置如图4所示。 日 固4灵敏度测试配置 6.3.1.2 测试条件 a)检查和测试光功率计的测

13、量精度: b)检测环境温度和被测模块的外壳温度: c)应采取静电放电防护措施。 6.3.1.3 测试步骤 a)按图4连接好线路: b)开启电源，调节供电电压达到规定数值，由误码仪给模块提供PRBS2 7_1 测试码型和规定的测试 速率; c)缓慢增加光衰减器的衰减量，减少被测模块的输入光功率，并使误码率优于1X 10.12; d)用光功率计测得模块此时的输入光功率并记录数值，即为该模块的灵敏度。 6.3.2 过载光功率的测量 6.3.2.1 测试配置 同6.3.1.1. 6.3.2.2 测试条件 同6.3.1.2 6.3.2.3 测则试步骤 a)按照测试配置和测试条件进行操作，使得被测模块进入

14、正常测试状态: b)缓慢调整光衰减器，使得被测模块的输入光功率增加，并使误码率优于110lz: c)用光功率计测得模块此时的输入光功率并记录数值，即为该模块的最小过载光功率。 9 w w w . b z f x w . c o m YDIT 2005-2009 7 机械和环境性能试验 7.1 试验环境要求 试验环境要求同6.1。 7.2 机械和环境性能试验 机械和环境性能试验项目见表8。 褒8机械和环境性能试验 试验项目引用标准试验条件 抽样方案 LTPO SS C 可焊性b MIL-SD-883G方法23.8焊槽法，不要求蒸汽老化20 11 o 物理特性试验静电放电敏感 MIL-S1D-88

15、3G方法3015.8 度 标准人体放电模型6 机械冲击MIL-S1D-883G方法22.4 加速度3g.脉冲持续时间3.Oms.5 20 11 o 洗刷向 机械完整性试验条件A频率20日z-2(阴险，加 试验变频振动 MIL-STD-883G方法27.3速度2饨，扫频速率I4min1循环，循20 11 环次数4循环/轴向，方向X、Y、Z 插拔重复性d GR-468-CORE 2次插拔20 11 o I 高温贮存GR-468-CORE 3.3.2.1 T.=85C如1)()h20 11 o 非工作环境试验 低温贮存 T塑=-4OC在=72hGR-468-CORE 3.3.2.1 20 11 o

16、温度循环MIL-SD-883G方法1010.8-40C-+85C. 5次循环20 11 o 非工作环境试验 恒定湿热MIL-S1D-202G方法103B温度85C.相对湿度85%.如5h20 11 o 工作环境试验寿命高温GR-468-CORE 3.3.3.1 T.=70C.正常工作条件下1=2)()h 20 11 O a LTPO一批允许不合格品率.SS一最少样品数.C一允许失效数. b 不要求参数测试的试验，可用参数不合格的产品进行. c注意在ESO试验中，所有样品须测试到其失效为止通过不断增加电压).咐，(失效数表示测试ESO极限值小于 最小容许值的器件数. d仅适用于插拔式模块 7.3

17、 机械和环境性能试验的失效判据 物理特性试验、机械完整性试验、非工作环境试验和工作环境试验完成后，在相同测试条件下，出 现下列故障现象中的任意一种情况即判定为不合格。 a)模块不能正常工作: b)模块光电技术指标不满足第5章中相应表中所列的各项参数的指标要求，或者平均发射光功率和 灵敏度的变化量大于组B; c)外壳封装破裂或有裂纹、器件有错位。 10 w w w . b z f x w . c o m yorr 2005-2009 8检验规则 8.1 检验分类 模块检验分为出厂检验和型式检验。 8.2 出厂检验 8.2.1 常规检验 常规检验应百分之百进行，检验项目如下z a)光电性能检测:

18、按第5章中相应表的要求进行检测，应符合相应表的规定。 b)高温电老化z 在最高工作温度下，模块正常工作状态，老化时间至少24h. 恢复z在正常大气条件下恢复lh后测试。 失效判据:模块光电技术指标不满足第5章中相应表中所列的各项参数的指标要求，或者平均发射 光功率和灵敏度的变化量大于2础。 8.2.2 抽样检验 从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GBrr2828.1-23规定，取一般检查水平II.接收质 量限(AQL)和检验项目如下: a)外观z AQL取1.5.检验方法:目:测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固。 b)外形尺寸: AQL取1.5。检验方法:用满足精度要求的量

19、度工具测量，应符合产品技术条件规定。 c)光电性能检测: AQL取0.4。检验方法:按本标准6.2和6.3节的规定进行检测，测试结果应符合第5章中相应表的 规定。 8.3 型式检验 8.3.1 模块有下列情况之一时，应进行型式检验z a)产品定型时: b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时: c)产品长期停产12月后，恢复生产时: d)出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时: e)正常生产2年后: f)国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。 8.3.2 型式检验的抽样方案 型式检验的抽样方案见表8。 8.3.3 型式检验样品的处理 a)凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。 b)各项试验完成后，在相同测试条件下，各项参数应满足产品标准规定。若其中任何一项试验不符 合要求时，则判该批不合格。 11 w w w . b z f x w . c o m YDIT 2005-2009 c)对不合格分组的