TOFD工艺试验方案

1、TOFD探头声场测试工艺试验一、 准备器材1. TOFD仪器2. 试块：CSK-IA3. 探头：根据检测工艺选取探头和锲块4. 量角器或直尺二、 原理利用CSK-IA试块的100mm半径弧面测量-12dB扩散角。圆心到达各个弧面的距离相同，即声程相同。声程相同即在时间方向上的衰减相同。将装有发射探头楔块放在圆心处，另一个探头在60度附近的弧面上找到最高波即是主声束，在弧面上移动找该最高波降低1/4处即是-12dB扩散角。图1. -12dB扩散角示意图三、 操作A探头前沿测试1. 将探头、楔块、探头线连接到仪器上，打开仪器。2. 点击仪器“菜单”按钮，选择“辅助计算”，选择“探头前沿”。3. 点

2、击“前沿测试”，测量处探头前沿长度L。方法详见仪器上的说明。B测量主声束角度1. 点击仪器“菜单”按钮，选择“常规设置”，选择“仪器”。2. 点击“检波方式”，设置为“全波”。3. 将装有发射探头的楔块放在距离CSK-IA试块弧面一端100mm-L2的位置。4. 将接收探头卸掉楔块，在CSK-IA试块弧面60度附近处移动找到最高波，固定接收探头，移动调整发射探头找到最高波，再次固定移动探头调整接收探头找到最高波。5. 测量并记录此时角度0，并调节增益，使最高波到满屏80%。0即为该探头楔块组合的主声束角。C上-12dB扩散角测量1. 向弧面上方移动接收探头，找到波高降低到满屏的20%处。2.

3、测量并记录此时的角度1，若波幅始终大于满屏的20%，则1=903. 则上-12bB扩散角为上=1 -0D下-12dB扩散角测量1. 向弧面下方移动接收探头，找到波高降低到满屏的20%处。2. 测量并记录此时的角度23. 则下-12bB扩散角为下=0-2TOFD盲区检测工艺试验一、准备器材1TOFD仪器2盲区试块：试块应符合JB/T 4730.10-2010标准中第6条之规定，加工有深度分别为1mm、2 mm、3 mm、4 mm、5 mm、6 mm、7 mm、 8mm上开口槽，以及深度分别为3 mm、4mm、6 mm、7 mm、9 mm、10 mm、12 mm、13 mm的2侧孔。3探头：根据检

4、测工艺选取探头和锲块二、操作A上表面盲区的测试：一般以工件上直通波的宽度作为工件的上表面盲区，为更加真实测量检测系统的上表面盲区，可以采取办法如下：1根据检测工艺选择合适的探头（镜片尺寸、频率、角度）和PCS，将探头连接到仪器上，开机后准确测量探头前沿及探头延时，将探头安装在扫查架上调节好PCS。2分别对深度为3 mm、4mm、6 mm、7 mm、9 mm、10 mm、12 mm、13 mm 的2侧孔进行非平行扫查，取得相应图谱，以能够识别的最小深度为该检测系统的上表面盲区。B下表面轴偏离盲区的测试：方法1 根据制定的检测工艺确定下表面应检测的宽度范围，盲区试块的开口槽向下，以单侧宽度范围为偏

5、离距离对开口槽做偏置非平行扫查，取得相应图谱，以能够识别的最小深度为该检测系统的轴偏离检测盲区的深度。方法2 盲区试块的开口槽向下，分别对不同深度的开口槽做平行扫查，取得相应图谱，通过分析软件可以量出图谱近底面衍射信号源的可观测宽度，如下图。根据可观测宽度和槽深可以绘制出轴偏离盲区分界线，从图中可以看出下表面应检测的宽度范围轴偏离盲区的深度。横向裂纹检测工艺试验一、准备器材1TOFD仪器2带有横向裂纹的模拟试块：试块应符合JB/T 4730.10-2010标准中第6条之规定。3探头：根据检测工艺选取探头和锲块二、哪些情况必须进行横向裂纹检测及补充检测?1必须进行横向裂纹检测的情况：在以下情况对横向裂纹的检测应和非平行扫查一样要作为初始扫查方式来制定检测工艺。设计、制造文件中要求进行横向缺陷检测；按JB/4730.3-2005执行超声C级检测的对象；用户或雇主要求进行横向缺陷检测；具有横向裂纹倾向材料的焊缝检测；有应力腐蚀倾向的在用承压设备。2进行横向裂纹补充检测的情况：以下情况对横向裂纹的检测应可作为补充检测方式来制定检测工艺。按JB/4730.3-2005执行超声B级检测的工件。相同设备或工件在以往检验中发现过横向缺陷。缺陷图像有横向裂纹特征。二、操作首先按照检测工艺调试好仪器系统，对模拟试块进行非平行扫查，取得图谱，观察横向裂纹处图像的特征