《大尺寸测量》PPT课件.ppt

2-7 大尺寸测量,本节主要内容,尺寸测量的特点及主要误差因素； 大尺寸直接、间接测量各种方法的原理及使用场合； 大尺寸无导轨测量各种方法的原理。,一概述,大尺寸测量一般指500mm以上尺寸的测量，由 于超出了一般测量范围，以及测量条件差，因而测 量方法和使用的量仪都具有特殊性。测量方法分类 如下： 1、依有无导轨分： 有导轨测量 无导轨测量 2、依测量方式分： 直接测量 间接测量,直接测量 用通用量具 用测长机：大尺寸量值传递、高精度工件； 用激光干涉仪：依相干原理、以波长为基 准、非接触、高精度。 间接测量 辅助基面：主要是测量大尺寸工件的外 弦 高 法：直径1000mm至10000mmm的非整圆 的内外径 围 绕 法：通过测周长求直径 长杆量规：简便、现场常用 对 滚 法：利用对滚原理，被测圆柱与标准 滚柱比较转角进行测量； 经纬仪法：不仅可测量直径和长度，还可测 量安装位置误差。,二、大尺寸的直接测量法,1用通用量具测量 常用的大型通用量具： 大卡尺，大千分尺， 数显高度规，内径千分 尺，内径百（千）分表；,常用的大型通用量具,内径百分（千分）表,内径千分尺,大型量具的校准 测量误差分析 A.主要误差来源:温度、受力变形和量具 的检定误差； B.其他测量误差:示值、读数瞄准、接触 误差和量具的对零误差等 C.与中等尺寸的测量相反，大尺寸中的外 尺寸比内尺寸的测量精度为低。,2用测长机测量,测长机是机械制造中测量大尺寸的精密仪器。按其测量范围来分，有1、2、3、4、6m，甚至还有12m的。该仪器的使用主要采用绝对测量法，特别是大尺寸量具的校准工作，但也可以采用比较测量法。 绝对测量是将被测工件与仪器本身的刻度尺进行比较. 比较测量则是将被测工件和一个预先用来对准仪器零位的标准件（如量块等）相比较，从仪器上读取两者之差值。,光学补偿式测长机的基本结构,测量座,工作台,底座,尾座,支架,（1）仪器的主要技术指标 （2）仪器工作原理：图2-35为1m测长机的示意图。,测长机的光学系统： （）光学系统示意图；,（）光学系统组成；,（）光学读数原理；,（）刻度尺；,（）斜置平板玻璃的作用；,（）倍成像系统,仪器经读数显微镜3进行读数，小于01mm的读数由光学计管2完成。如图2-36所示。,（3）爱帕斯坦(Epenstien)原则 （）问题的提出 该仪器的测量轴线与基准轴线平行，不共线，违背了阿贝原则，会产生很大的测量误差。 （）补偿方法：光学补偿 光学补偿原理爱帕斯坦(Epenstien)原则 在设计上采用对称的棱镜和物镜系统，使一次误差基本上得到了综合的补偿，从而保证了本仪器仍然具有较高的测量精度。,式中： H测量线与刻线尺表面间的距离； F准直物镜9和11的焦距； l尾架测头顶端距S点的垂线的距离； 尾架偏转角；,如图2-37所示，由于床身导轨直线度误差等原因使尾架移动时绕点偏转了一个角，在测量线上使被测量线段减小了l:,同时分划板上S的象位置由s移到s”，在刻线尺7上意味 着读数的减小l1：,l和l1互相补偿，因此测量误差为:,此为二阶微量误差，故影响不大，此即爱帕斯坦原则。,将上式展开，略去三次方并化简后得：,如取H=F，则 :,3激光干涉测量法,由于激光具有良好的方向性、单色性和相干性等优点，采用激光器作为光源, 以激光稳定的波长作基准，利用光波干涉原理实现大尺寸的精密测量是目前大尺寸测量中比较理想的方法。 （1）单频激光干涉测长 单频激光干涉仪是将同一激光器发出的光束，经分光镜后分成相同频率的参考光束和测量光束,它们分别经固定参考棱镜和随被测件移动的可动棱镜(图2-38)反射，而在分光面上重新产生干涉，相应的被测长度对应于干涉场的干涉条纹信号变化的次数，通过光电接受、转换和电路处理，求出相应被测长度的数值。其基本测量原理同迈克尔逊干涉仪 单频激光干涉仪一般没有专门的空气折射率测量装置，在进行大尺寸测量时，温度误差将对被测件的尺寸有较大影响，故对测量环境应有一定的要求，必要时应对上述影响进行修正。,（2）双频激光干涉测长 双频激光干涉仪以交变信号为参考信号，可避免零点漂移，有较强的抗干扰能力，可在现场使用。测量长度可达60m左右。双频激光干涉仪的最小分辨率为0.08，最大位移速度为300m/s，其测量精度可达到L（L为被测长度）。 图2-39为双频激光干涉仪的光学系统。在时间t内与被测长度对应的多普勒频差为：,故被测长度为,由于：,则：,三、大尺寸的间接测量,1辅助基面法 图2-40为以机床的床面 为基面，对大尺寸工件的外 径进行测量的示意图。,图2-41为测量安装在机 床上的大尺寸工件内径的示 意图。,2弦高法,图2-42所示的专用量具适用于从1000到10000mm的内外径测量。,被测直径的基本尺寸； d定位圆柱直径；,带正负号的测微计读数值。 这类方法测量精度不高。,测内径时：,量块尺寸按下式计算： 测外径时：,被测直径对于基本尺寸的偏差值为：,3围绕法,图2-43 ，图b所示为金属带尺两端附有角铁，以便 拉紧带尺。 带尺的厚度不用考虑，因为它并未计入带尺长度的 测量结果。,4用长杆规测量大孔直径,式中： 长杆规定长度L的极限误差； l摆动距离的极限误差。 可用于IT8甚至IT7的内孔测量。为了检验被测孔是否存在圆度误差，应 在同一圆周的三个等分处进行测量。,如图2-45所示,被测孔径的极限测量误差为：,5对滚法,对滚法根据无滑动对滚原理，利用已知直径的标准滚柱1所 转过的累积角度(见图2-46、2-47)，测出被测件2的直径，即,式中: 被测直径(mm) 与基准滚轮同轴的光栅 盘所发出的脉冲数； q脉冲角度当量(度/脉冲)； M被测件测量时的转数。,图2-47为DY1型大直径测量仪。,它的分度值为0.01mm，测量范围最大为10m。滚轮直径误差可引入附加补偿脉冲进行修正，该仪器可测7级精度以下有连续表面的工件直径。 影响对滚法测量精度的主要因素是滑动的影响，,6经纬仪法: 尺寸大于5米的零件，可用经纬仪测量。用经纬仪不但可测 大尺寸零件的直径和长度，还能测量在装配中机件的位置误差。 (1) 中心标尺法 如图2-48所示。,被测直径D可由下式算出：,(2) 弧长法 如图2-49所示,由abc可求出被测长度为 ：,其中:,(3) 两个经纬仪法,7光电对准干涉测量法,如图2-51所示，对准部分由激光准直仪、五角棱镜和定 位块组成，定位块由永久磁铁吸附在圆周上，定位块上的四 象限硅电池用于判断五角棱镜的位置。当激光束恰好对准硅 光电池中心（位置 A）时，干涉仪清零开始计数，这时将定 位块移到对径位置并翻转180o，仍然使硅光电池向着五角棱 镜方向，移动五角棱镜直到再次使激光束落到硅光电池中心 （位置 B），读出干涉仪的读数，减去定位块翻转偏离值就 可计算出直径。 干涉仪，既可使用增量式的也可使用无导轨的，因为五角棱镜需要导轨，要看经济条件、体积、具体条件决定。 8测直径变化量 图2-52中给出了二种测量方法：聚焦法,光点检测法。,四、无导轨测量,（一）概述 1激光干涉仪测量过程中的问题 :增量式、不能间断、需要导轨 这限制应用场合 迫切需要无导轨绝对距离测量 2历史 无导轨测量的研究历史应该追溯到迈克尔逊时代，在1892年把国际标准米尺与Cd红线波长相比较，提出了小数重合法 ； 在激光出现之后，激光光谱学的研究结果向人们展示了极为丰富的谱线系列和令人振奋的相干特性。 1976年C.R.Tilford和A.G.Orszag首先报导了使用CO2激光器进行多波长干涉测长，而不必求助于其他初测手段，成为严格意义上的激光多波长无导轨测量的开端 。,（3）1977年C.R.Tilford对于由条纹尾数确定长度的分析法进行了系统的理论分析，并且提供了合成波长的概念，对激光多波长干涉测量起了重要的推动作用 。 2无导轨测量的优点： 与有导轨测量比 省导轨，快速，避免累加计数过程中的误差、错误等； 推动测量机器人的发展； 3.无导轨测量的测量方法： 多波长测量 半导体激光线性绝对距离的干涉测量 激光测距,（二）多波长测量的原理（绝对距离干涉测量方法）,1小数重合法：采用小数重合法的典型仪器是 Kosters干涉仪，如图2-53（a）所示。,图2-53 Kosters干涉仪,棱镜5是色散棱镜，通过转动棱镜可使光源1的不同谱线被选用以实现波长转换。 8，9， 10，12 构成Michelson干涉仪，11 为被测量块，通过目镜可以观察到干涉场上的条纹见图2-53（b）。,（ i=1，2，3对应三波长） 式中：mi为干涉级整数部分, i（i=1,2,3）为干涉级的小数部分 假设测量结果为: 1=0.1， 20.0， 3=0.5,量块名义尺寸：10 mm的，初测误差为0.001mm, 光源：氦灯 三条谱线为: 红 1=667.8186nm， 黄 2=587.5652nm， 绿 3=501.5704nm， 根据干涉仪的原理,只有10.000 95mm所对应的条纹尾数和测量所得的干涉完全相符。可以确定该量块的长度为10.000 95mm。,因为块规的长度是在10.001和9.999之间，所以红线的干 涉级应为29952.1和29945.1之间。各谱线的相应干涉级以及对 应的长度列于下表。,实际情况还要复杂些。例如空气折射率的修正和条纹尾数符号的判断。 小数重合法虽然使用了多个波长，并没有使用合成波这个概念，在当时的技术条件下，还没有条件得到两条谱线之间的拍波。 小数重合法对于初测提出了严格的要求 。 C.R.Tilford对于由条纹尾数确定长度的分析法进行了系统的理论分析，并且提供了合成波长的概念 。,2合成波法,合成波干涉测长实际上是利用两光波形成的拍波的波长为单位去度量被测长度。 （1） 无导轨绝对距离测量原理 用光学干涉仪测量长度时干涉仪的干涉条纹与被测光程差之间的关系如下： L= ( N +) /2 其中：L为被测长度，N 、分别为干涉条纹的整数级次和小数部分，它们都是正数，是光波波长。 上式中，可以直接通过干涉仪精确测量出来，N可以有两种方法获得： 一是利用条纹计数，单频和双频激光测量系统就是利用了条纹计数方法。 二是利用L的已知初始值，通过计算估计，确定N，即无导轨绝对距离测量法。,设被测长度L的粗测值为L0，其测量的不确定度为L，即LL0L，那么,两式相减得,要使整数唯一确定，只需使m1-m21 即,即如果已知L的初值不确定度小于所用波长的四分之一，那么2L/s 的整数部分唯一确定，这时只需测量出小数级次，就可精确测量出长度L，这就是绝对距离干涉测量的基本原理 。 由于直接用于长度测量的光波波长很短，因此，利用单波长实现绝对距离测量是很困难的（对粗测精度要求太高，难于实现）。要实现绝对距离测量，必须有一个波长较长的波。,频率相近的两束光叠加形成“拍”,如果当两光波的波长1、2相差较小时， s将远大于 1和 2。就是说可以获得一个波长较长的拍波，该拍波也称为合成波 。,（2）光学拍波 如果两频率为1、2的两光波在空间相遇，那么它就形 成光学拍波。由于合频项的频率很高，探测器探测不到，因 此，将其忽略，所得的其合成光场的光强为：,式中 ：,可见拍波合成波波长只与两个波光频差有关。 综上所述 ： 光学拍波可为实现绝对距离测量提供合适的波长 。 为了放宽对被测量长度初始值的要求，可采用多个波长相近的光波，形成多级合成波长链。根据粗测值得到的各波长的小数级次计算值与测量值的重合程度，确定整数级次，从而得到被测距离的精确值。,由于波长与频率间存在这样的关系，有 ：,（）合成波测长,初测条件： 我们称条件e s/4为初测条件； 如果再考虑到小数条纹的估读误差为p，则初测的要求应为： e s/4 p,设被测长度为L，则合成波测长原理公式为：,式中s为合成波条纹的剩余小数， s为合成波长，且：,s为合成波条纹的整数级，它是由被测长度的初测值得到。设初测值为Le，初测值的范围Lee ，Ks-1，Ks， Ks+1是连续的三个整数 ，将它们带入由下式可唯一地确定s。,而,半导体激光调频的原理基于光的传播时间测量 。,式中：为光的传播时间间隔；n为空气折射率；2d为干涉仪的几何程差；c为真空中的光速。 只要想设法精确测出t值就可以求出d，而且不存在多值性问题。,（三）、半导体激光线性绝对距离的干涉测量原理,半导体激光的线性调频就是使激光发射的光频随时间线性变化，以这一线性调频激光作为臂长差为d的迈克尔孙干涉仪的光源。,LD为光源的干涉系统,由于参考光束和测量光束的传播距离不相等，有一个相对延时，所以当两束光会合时就会产生一个光拍，这个拍的频率随着的增大而增大。通过这拍的频率的测量也就间接地实现了 的测量。,式中：c为激光中心频率；2为激光光频调制系数；m为对激光进行调制的三角波频率。,调频光波的相位为,式中： 0为初位相。,迈克尔孙干涉仪中参考臂和测量臂的光波矢量可以表达为,由于光频光电探测器无法响应，而2是可测出来的，即,所以只要测出b就可以得到 值 因此,c为真空中的光速，是一个很大的数，于是这种测量方法的灵敏度是一个令人关注的问题。,可见，提高测距离灵敏度的途径是提高半导体激光的调频率2，也就是说，需选择一种激光器，在调制三角波的一周期内，光频的变化量要大，而且调制波的频率也要尽量高才好。,半导体激光线性调频示意图,1、脉冲激光测距 待测目标距离L,c：光速，t光脉冲往返时间。,（四）、激光测距,脉冲激光测距原理图,（a）激光测距仪