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晶体结构的 X-射线研究劳厄(Laue)法晶体结构的 X-射线研究劳厄(Laue)法

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晶体结构的X射线研究/劳厄(LAUE)法相关内容RELATEDTOPICS晶格、晶系、晶族、不拉伐格子、倒格子、密勒指数、结构振幅、原子波形因子、不喇格方程原理和任务PRINCIPLEANDTASK多色X射线束照射一单晶,得到的衍射结果记录在胶片上,并做计算。实验设备EQUIPMENTX射线基本组件,35KV09058991钼X射线管的插入组件09058601晶体锂氟化物,裱好的09056051劳厄(LAUE)衍射的晶体支架09058111底片夹09058081游标卡尺,塑料的030101偏振片胶片,(ISO3000),(912)CM,20片09058201偏振片转换器09058211或者X射线胶片,(90120)MM,10片06696031X射线胶片为451开发的06696201X射线胶片为451定制的06696301实验室盘子,PP,1824CM47481003课题PROBLEMS1.在胶片上记录LIF单晶的LAUE衍射。2.相应晶体表面的密勒指数被分派给LAUE反射。实验设备组装和实验过程SETUPANDPROCEDURE在X射线仪的输出管固定一个孔直径1MM光圈管。将裱好的晶体锂氟晶体的两管脚固定在晶体支架上做LAUE衍射,以致裱好的晶体圆形边总是朝者X射线源。将这些放置在光圈管的上面。在离晶体15CM到2CM处,在胶片支架上放置带有防光套的X射线胶片。为了得到不扭曲的LAUE图像,必须保证晶体表面和胶片板面平行,还有这两者必须和主光束垂直。将胶片在最大阳极电压和阳极电流下曝光。若要得到强的反射,30MINS的曝光时间足够。要想弱的反射也能被看见,那么需要60MINS甚至更长的曝光时间。为了以后确定衍射方向,必须精确测量晶体和胶片间的距离。理论和计算THEORYANDEVALUATION用多色X射线照射单晶可以得到LAUE摄影图。这种方法主要用来确定晶体的对称性和晶体的方向。从一个简单结构的LAUE放射图像中可以做出估计。由于反射晶格面的指数和波长是未知的,它的规则变得很复杂。例图2显示了LIF单晶的LAUE反射图像,它是面心立方晶格结构的(FCC)。将图像绕主光束的方向旋转90,得到的图像和原来是一致的。因此,可以有四倍轴对称,主光束方向和晶体(100)方向之间是相同的。反射强度取决于晶体特征和X射线特殊强度分布。相干干涉的条件由不喇格方程决定2DSINΘ
编号:201403122037019884    类型:共享资源    大小:225.62KB    格式:PDF    上传时间:2014-03-12
  
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晶体结构 射线 研究 钻研 laue
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本文标题:晶体结构的 X-射线研究劳厄(Laue)法
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