材料分析方法周玉

材料分析方法周玉Tag内容描述：<p>1、第一章 X 射线物理学基础1、在原子序24（Cr）到74（W）之间选择7 种元素，根据它们的特征谱波长（K），用图解法验证莫塞莱定律。（答案略）2、若X 射线管的额定功率为1.5KW，在管电压为35KV 时，容许的最大电流是多少？答：1.5KW/35KV=0.043A。4、为使Cu 靶的K线透射系数是K线透射系数的1/6，求滤波片的厚度。答：因X 光管是Cu 靶，故选择。</p><p>2、第一章 X 射线物理学基础 1 在原子序24 Cr 到74 W 之间选择7 种元素 根据它们的特征谱波长 K 用图解法验证莫塞莱定律 答案略 2 若X 射线管的额定功率为1 5KW 在管电压为35KV 时 容许的最大电流是多少 答 1 5KW 35KV 0 043A 4 为使Cu 靶的K 线透射系数是K 线透射系数的1 6 求滤波片的厚度 答 因X 光管是Cu 靶 故选择Ni 为滤片材料 查表得。</p><p>3、,1,第二篇材料电子显微分析,第八章电子光学基础第九章透射电子显微镜第十章电子衍射第十一章晶体薄膜衍衬成像分析第十二章高分辨透射电子显微术第十三章扫描电子显微镜第十四章电子背散射衍射分析技术第十五章电子探针显微分析第十六章其他显微结构分析方法,.,2,第十四章电子背散射衍射分析技术,本章主要内容第一节概述第二节电子背散射衍射技术相关晶体学基础第三节电子背散射衍射技术硬件系统第四节电子背散射衍射。</p><p>4、1 第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 2 第三章X射线衍射强度 本章主要内容第一节多晶体衍射图相的形成第二节单位晶胞对X射线的散射与结构因数第三节洛伦兹因数第四节影响衍射强度的其他因数第五节多晶体衍射的积分强度公式 3 以德拜 谢乐法为例 该法。</p><p>5、1 材料分析方法 第3版 获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖 主编哈尔滨工业大学周玉参编漆璿范雄宋晓平孟庆昌饶建存魏大庆主审刘文西崔约贤 2 本教材主要内容 绪论第一篇材料X射线衍射分析第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 3 本教材主要内容 第二篇材料电子显微分析。</p><p>6、第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 1 第二节布拉格方程 X射线与原子内受束缚较紧的电子相遇时产生的相干散射波 在某些方向相互加强 而在某些方向相互减弱 称这种散射波干涉的总结果为衍射X射线晶体学以X射线在晶体中的衍射现象作为基础 衍射可归结为衍射。</p><p>7、第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 1 第四章多晶体分析方法 本章主要内容第一节德拜 谢乐法第二节其他照相法简介第三节X射线衍射仪 2 第一节德拜 谢乐法 一 德拜花样 衍射线构成若干个以试样为顶点 以入射线为轴线圆锥面 德拜花样为一系列同心衍射环。</p><p>8、绪论 一 材料的组织结构与性能的关系 1 组织结构与性能的关系 2 微观组织结构控制 二 显微组织结构的内容 材料显微组织是指相组成 尺寸形状及其分布 显微组织是性能的内在根据 性能是显微组织的对外表现 1 晶体结构和晶体缺陷 2 晶粒的大小与空间形态 3 第二相的成分 结构 尺寸形态 数量及分布 4 微区成份及分布 5 界面 6 两相间的取向关系 1 三 为什么需要电子显微镜 绪论 2 第二篇材。</p><p>9、1 第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 2 第三章X射线衍射强度 本章主要内容第一节多晶体衍射图相的形成第二节单位晶胞对X射线的散射与结构因数第三节洛伦兹因数第四节影响衍射强度的其他因数第五节多晶体衍射的积分强度公式 3 以德拜 谢乐法为例 该法。</p><p>10、,1,材料分析方法,第3版,获2002年全国普通高等学校优秀教材一等奖,主编哈尔滨工业大学周玉参编漆璿范雄宋晓平孟庆昌饶建存魏大庆主审刘文西崔约贤,.,2,本教材主要内容,绪论第一篇材料X射线衍射分析第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定,.,3,本教材主要内容,第二篇材料电。</p><p>11、VeV hc 3 0 1024 1 kk k VeV hc 3 1024 1 eVeV k V 3 3 1010 V V 102410 VeV hc 2 0 1024 1 kk k VeV hc 2 1024 1 7 1 13 10 12 1 352 10 C 8 34 10s K k k C 118 9 8 10223 4 10071 0 10998 2 s m sm kk 11834 102。</p><p>12、1 第一篇材料X射线衍射分析 第一章X射线物理学基础第二章X射线衍射方向第三章X射线衍射强度第四章多晶体分析方法第五章物相分析及点阵参数精确测定第六章宏观残余应力的测定第七章多晶体织构的测定 2 第五章物相分析及点阵参数精确测定 本章主要内容第一节定性分析第二节定量分析第三节点阵参数的精确测定第四节非晶态物质及其晶化过程的X射线衍射分析 3 一 基本原理X射线衍射分析以晶体结构为基础 每种结晶物质。</p>