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测试分析方法

1. X 射线产生的基本条件1. X 射线产生的基本条件 答。2. 连续 X 射线产生实质2. 连续 X 射线产生实质 答。X射线的波长越短。1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是(&#160。A.X射线透射学。B.X射线衍射学。C.X射线光谱学。第七章 热分析技术。什么是热分析。热分析和热分析仪。

测试分析方法Tag内容描述:<p>1、材料近代测试技术 (材料学科硕士研究生学位课程) 高分子结构分析方法 (“高分子化学与物理”学位点博士 研究生选修课程) 第一章 现代分析测试方法概述 主要内容 1. 分析科学与测试技术的发展 2. 分析测试方法的分类 3. 光谱分析的基本原理 4. 分析测试方法的选择 5.分析测试在材料科学研究中的作用 1. 分析科学与测试技术的发展 1.1 分析化学的诞生 拉瓦锡(A. L. Lavoisier) (17431794)为化学 引进了极为重要的定量测量观念和方法,从而 诞生了分析化学。 分析化学是研究获 得物质化学组成,结构 信息,分析方法及相关 理论的科学。 。</p><p>2、答案均为同学整理,仅供参考 1 材料分析测试方法复习题 第一部分 简答题: 材料分析测试方法复习题 第一部分 简答题: 1. X 射线产生的基本条件1. X 射线产生的基本条件 答:产生自由电子; 使电子做定向高速运动; 在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。 2. 连续 X 射线产生实质2. 连续 X 射线产生实质 答:假设管电流为 10mA,则每秒到达阳极靶上的电子数可达 6.25x10(16)个,如此之多的电子到达 靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时 产生一系列能量为 hv(i)的。</p><p>3、一、名词解释(30分,每题3分)1)短波限:连续X射线谱的X射线波长从一最小值向长波方向伸展,该波长最小值称为短波限。P7。2)质量吸收系数指X射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量,这样就摆脱了密度的影响,成为反映物质本身对X射线吸收性质的物质量。P12。3)吸收限吸收限是指对一定的吸收体,X射线的波长越短,穿透能力越强,表现为质量吸收系数的下降,但随着波长的降低,质量吸收系数并非呈连续的变化,而是在某些波长位置上突然升高,出现了吸收限。每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。P12。4)X射线标识谱当加于。</p><p>4、第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是( B )A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )A. K;B. K;C. K;D. L。3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选( C )A Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称( A )A. 短波限0;B. 激发限k;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生( D ) (多选题)A. 光电子;B。</p><p>5、考试后的自我分析方法试卷的自我分析。一般要写出以下几点:一、总体评价。本次考试哪些题目完成得比较好,哪些题目出现的错误比较多。二、记录错题。做错的题目挑出来,根据老师讲解的答题思路,写出正确答案。还要通过类似的题来验证自己到底会不会。三、试卷分析。(一)得分、失分分析。1. 得分分析:2. 失分分析:(1)时间安排不合理,会做的试题未作完失去的分数(2)由于失误、粗心失去的分数(3)由于过去未及时订正,造成这次考试失去的分数(4)未掌握的知识失去了多少分(5)其他原因失去的分数(二)归纳分析:把错题按某种。</p><p>6、X射线光电子能谱 ( X-ray Photoelectron Spectroscopy ),XPS 的发展 基本概念 XPS 的工作流程及原理 利用XPS谱图鉴别物质 XPS的实验方法 XPS谱图的解释步骤 XPS 的特点,主要内容:,XPS 的发展:,XPS理论首先是由瑞典皇家科学院院士、乌普萨拉大学物理研究所所长 KSiebahn 教授创立的。 原名为化学分析电子能谱: ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 1954年研制成世界上第一台双聚焦磁场式光电子能谱仪。 XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。,基本概念:,光电子能谱: 反应了原。</p><p>7、材料检测方法,主讲老师:杨 可,材料科学与工程专业主干专业课程,2019年8月2日,第七章 热分析技术,亲善产生幸福, 文明带来和谐。 雨 果,什么是热分析?,在受控程序温度条件下和规定的气氛测量物质的物理性质随温度或时间变化的技术。 数学表达式: Pf(T) 等速升温 程序温度 等速降温 组合 恒温 Pf(T/t),可测量的物理性质?,热焓的变化 质量的变化 比容、比热、热膨胀率变化 模量、形变等力学性质变化 光学性能变化 电磁性能变化,主要的热分析方法,热分析的特点,测量温度范围很宽; 可使用不同的温度程序; 对样品的物理形态无特殊要求。</p><p>8、热分析方法及其测试技术,曾春莲,2010年4月,(TGA,DSC),热分析介绍 热重分析仪(TGA) 差热分析(DTA,DSC) 热膨胀仪(DIL) 热机械分析(TMA) 动态热机械分析(DMA) 实验室介绍,主要内容,仪器工作原理及应用; 实验方法建立; 数据分析及表征。,仪器和夹具选择; 实验参数设置方法; 数据分析及表征。,加热炉,物理化学过程,热分析和热分析仪,玻璃化转变温度的表征,热分析定义:,在程序控温和一定的气氛下,测量物质的物理性质与温度的关系的一种技术。,程序控温:物体承受的温度程序; 气氛:合适的气氛及其流速; 物理性质:物理过程; 测量物。</p>
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