二次离子质谱

二次离子质谱Tag内容描述：<p>1、收稿日期: 2010?04 ?26; 修回日期: 2010 ?08 ?18 作者简介: 李金英( 1957 ) , 男( 汉族) , 河北饶阳人, 研究员, 博士生导师, 从事核燃料循环与材料管理研究。 E?mail: lijinying vip. 163. com 第 31 卷 第 5 期 2010 年 9 月 质 谱 学 报 Journal of Chinese Mass Spectrometry Society Vol. 31? No. 5 Sep. 2010 电感耦合等离子体质谱、 热电离质谱和二次离子质谱技术 在核工业中的新进展 李金英1, 郭冬发2, 吉燕琴3, 赵永刚4, 李力力4, 崔建勇2, 石 ? 磊2, 4 ( 1. 中国核工业集团公司, 北京? 100822; 2. 核工业北京地质研究院, 北京? 1。</p><p>2、二次离子质谱(SIMS) Secondary Ion Mass Spectroscopy,质谱分析是将样品转化为运动的带电气态离子碎片，于磁场中按质荷比(m/z)大小分离并记录的分析方法。 其过程为可简单描述为：,离子源 轰击样品,带电荷的 碎片离子,电场加速(zeU) 获得动能(1/2mV2),磁场分离 (m/z),检测器记录,其中，z为电荷数，e为电子电荷，U为加速电压，m为碎片质量，V为电子运动速度。,质谱分析基本原理,质谱仪器一般具备以下几个部分：进样系统、离子源、质量分析器和检测器，除此之外，质谱仪需在高真空下进行工作（离子源：10-3 10-5 Pa ，质量分析器：10 -6 Pa。</p><p>3、泓域咨询MACRO/ 二次离子质谱项目可行性研究报告目录第一章 概论第二章 承办单位概况第三章 建设必要性分析第四章 项目调研分析第五章 项目规划方案第六章 项目选址方案第七章 项目建设设计方案第八章 项目工艺先进性第九章 项目环境保护和绿色生产分析第十章 项目职业安全第十一章 项目风险评估分析第十二章 节能分析第十三章 项目进度方案第十四章 投资计划方案第十五章 项目经济评价第十六章 项目综合评价第十七章 项目招投标方案第一章 概论一、项目概况（一）项目名称二次离子质谱项目（二）项目选址xx经济园区项目选址应符合城乡建。</p><p>4、I C S7 1 0 4 0 4 0 G0 4 a 亘 中华人民共和国国家标准 G B T2 2 5 7 2 - - 2 0 0 8 I S O2 0 3 41 ：2 0 0 3 表面化学分析二次离子质谱 用多6 层参考物质 评估深度分辨参数的方法 S u r f a c ec h e m i c a la n a l y s i s - - S e c o n d a r y i o nm a s ss p e c t r o m e t r y - - M e t h o df o re s t i m a t i n gd e p t hr e s o l u t i o n p a r a m e t e r sw i t hm u l t i p l ed e l t a l a y e rr e f e r e n c em a t e r i a l s 2 0 0 8 - 1 2 - 11 发布 ( I S 02 0 3 4 1 ：2 0 0 3 ，I D T ) 2 0 0 。</p><p>5、I C S7 1 0 4 0 4 0 G0 4 a 雷 中华人民共g - n 国国家标准 G B T2 5 1 8 6 2 0 1 0 I S O1 8 1 1 4 ：2 0 0 3 表面化学分析二次离子质谱 由离子注入参考物质确定 相对灵敏度因子 S u r f a c ec h e m i c a la n a l y s i s - - S e c o n d a r y i o nm a s ss p e c t r o m e t r y - - D e t e r m i n a t i o no fr e l a t i v es e n s i t i v i t yf a c t o r sf r o m i o n - i m p l a n t e dr e f e r e n c em a t e r i a l s 2 0 1 0 - 0 9 - 2 6 发布 ( I S O1 8 1 1 4 ：2 0 0 3 ，I D T ) 2 0 11 - 0 8 - 0 1 。</p><p>6、泓域咨询MACRO/ 二次离子质谱投资项目商业计划书 二次离子质谱投资项目 商业计划书 商业计划书参考模板，仅供参考 摘要 该二次离子质谱项目计划总投资2888.28万元，其中：固定资产投资2093.29万元，占项。</p><p>7、1,第六章 二次离子质谱,2,二次离子质谱 (Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS) 一、简介 二、离子与表面的相互作用 三、溅射的基本规律 四、二次离子发射的基本规律 五、二次离子质谱分析技术 六、二次离子分析方法 七、二次离子质谱的研究新方向 八、总结,3,一、简介 二次离子质谱（SIMS）是一种重要的材料成分分析方法，在微电子、光电子、材料科学、催。</p>