标准解读

《GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法》是一项国家标准,旨在规范使用增强型二次离子质谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)技术进行材料表面及近表面区域成分分析过程中涉及的离子束对准以及束流或束流密度测量的具体操作流程。该标准适用于需要通过溅射去除材料表层来获取不同深度信息的研究与工业应用场合。

标准详细描述了如何正确设置实验条件以确保获得准确可靠的分析结果。对于离子束对准部分,它提供了包括但不限于调整入射角度、选择合适的靶材位置等指导原则,这些都是为了保证离子能够均匀地轰击样品表面,从而避免由于局部过度侵蚀而导致的数据失真问题。此外,还特别强调了在实际操作前应当根据所用设备的特点进行适当的校准工作。

针对束流或束流密度测量方面,《GB/T 34326-2017》规定了几种常用的测定方法,并指出了每种方法适用的情况及其局限性。例如,直接法适用于那些可以直接读取电流值的仪器;而对于无法直接测量电流的情形,则推荐采用间接法,如利用已知灵敏度的标准样品来进行相对比较。同时,该文件也提到了一些影响测量精度的因素,比如环境温度变化可能引起读数波动等问题,并给出了相应的解决方案建议。

此外,本标准还涵盖了数据处理的相关内容,介绍了如何从原始信号中提取有用信息的方法,以及如何评估实验误差并报告最终结果的方式。通过遵循这些指南,研究人员可以更加有效地利用AES和XPS技术开展科学研究或质量控制活动。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-09-29 颁布
  • 2018-08-01 实施
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GB∕T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法_第1页
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文档简介

ICS7104040 G 04 . . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T343262017/ISO165312013 : 表面化学分析 深度剖析 AES和 XPS深度剖析时离子束对准方法及其 束流或束流密度测量方法 SurfacechemicalanalysisDepthprofilingMethodsforionbeam alignmentandtheassociatedmeasurementofcurrentorcurrentdensity fordepthprofilinginAESandXPS (ISO16531:2013,IDT)2017-09-29发布 2018-08-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发 布 中 国 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 GB/T343262017/ISO/165312013 : 目 次 前言 引言 范围1 1 规范性引用文件2 1 术语 定义 符号和缩略语3 、 、 1 系统要求4 2 离子束对准方法5 3 何时进行离子束对准及其检查6 10 附录 资料性附录 离子束对准优劣情况下 深度剖析谱图对比 A ( ) AES 11 附录 资料性附录 使用同轴电极杯对准 B ( ) 12 参考文献 13 GB/T343262017/ISO/165312013 : 前 言 本标准按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。 本标准使用翻译法等同采用 表面化学分析 深度剖析 和 深度剖析 ISO16531:2013 AES XPS时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 。 本标准由全国微束分析标准化技术委员会 提出并归口 (SAC/TC38) 。 本标准起草单位 中国计量科学研究院 : 。 本标准主要起草人 王海 王梅玲 张艾蕊 宋小平 : 、 、 、 。 GB/T343262017/ISO/165312013 : 引 言 俄歇电子能谱 和 射线光电子能谱 用于表面化学分析时 离子溅射常与它们广泛结 (AES) X (XPS) , 合用于许多器件和材料的表面清洁及其层状结构的深度表征 目前 厚度小于 的超薄膜在现代 。 , 10nm 器件中日益得到应用 较低能量的离子在深度剖析中变得更加重要 为了得到可重现的溅射速率和好 , 。 的深度分辨率 在最佳位置对准离子束非常重要 随着要求越来越好的深度分辨率 优化过程变得愈加 , 。 , 至关重要 定期进行离子束对准通常不是必需的 但当仪器参数发生改变时应该进行离子束对准 例如 。 , , 更换离子枪灯丝或烘烤仪器后 在离子束对准过程中 需停止溅射 否则会影响样品台上的待分析样 。 , , 品 离子束对准涉及仪器的不同部件 本标准描述了 种方法 用以保证大多数分析人员可使用其中 。 。 7 , 的至少一种方法 两种方法对于测量离子束流或束流密度也非常有用 且在测量溅射产额和溅射速率 。 , 的一致性时非常重要 对于商业化仪器 制造商会提供一种方法和设备用于对准离子束 如果制造商 。 , 。 提供的方法合适 本标准描述的方法或许不是必需的 但它们能帮助确认制造商提供方法的有效性 , , 。 文献 描述了利用层状样品测量深度分辨率 以及如何利用深度分辨率去监测深度剖析是否充 1 , 分 正确优化或符合预期 然而 文献 描述的方法 从仪器设置经深度测量至深度分辨率评估 非常 、 。 , 1 ( ) 耗时 为了保证离子束被正确对准 本标准提供了更加快捷的方法 它可用于文献 描述方法的第一 。 , , 1 步或者更多的日常检查 。 GB/T343262017/ISO/165312013 : 表面化学分析 深度剖析 AES和 XPS深度剖析时离子束对准方法及其 束流或束流密度测量方法1 范围 本标准规定了在俄歇电子能谱 和 射线光电子能谱 中使用惰性气体离子以保证溅射 (AES) X (XPS) 深度剖析具有好的深度分辨率以及最佳表面清洁效果而采取的离子束对准方法 这些方法分为两类 。 : 一类通过法拉第杯测量离子束流 另一类通过成像方法 法拉第杯方法也规定了离子束束流密度和束 , 。 流分布的测量 这些方法不包括深度分辨率的优化 。 。 这些方法均适用于束斑直径小于 的离子枪 1mm 。2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改单 适用于本文件 。 , ( ) 。 表 面 化 学 分 析 词 汇 第 部 分 通 用 术 语 和 谱 学 术 语 ISO18115-1 1 : (SurfacechemicalanalysisVocabularyPart1:Generaltermsandtermsusedinspectroscopy)3 术语 定义 符号和缩略语 、 、 界定的术语和定义以及下列符号和缩略语适用于本文件 ISO18115-1 。 A 法拉第杯孔面积 (AreaofFaradaycupaperture) A 样品平面上离子束扫描面积 0 (Areaofionbeamrasterinsampleplane) A 在离子束已知取向上的扫描面积 R (Rasterareaataknownorientationtotheionbeam) B 离 子 束 宽 化 参 数 等 于I I 之 比 I , outer/ inner (Ionbeam broadeningparameterequaltoratio outer/I inner) 束流 C (Current) 束流密度 CD (Currentdensity) D 样品上的离子剂量速率 (Iondoserateatthesample) F 离子枪传递的离子流量速率 (Ionfluenceratedeliveredbyiongun) 法拉第杯 FC (Faradaycup) 半高宽 最大高度一半处的全宽度 FWHM , (Fullwidthatthehalfmaximum) I 在法拉第杯孔处测得的扫描离子束流 (RasteredionbeamcurrentmeasuredinapertureofFar-adaycup) I 在法拉第杯孔处测得的静态 小直径离子束流 0 、 (Stationary,smalldiameterionbeamcurrent measuredinapertureofFaradaycup) I 在同轴杯内电极处测得的离子束流 inner (Ioncurrentmeasuredatinnerelectrodeofco-axialcup) I 在同轴杯外电极处测得的离子束

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