关于电子元器件储存期限的调研报告

关于电子元器件储存期限的调研报告 在积压物资处理过程中，我们发现有较多的电子元器件因过期 而报废。查阅集团仓储管理制度第 4.3.4 规定：电子元器件保 质期一年，如库存时间超期，则一律报废处理。经对 117 库、212 库现存的电子元器件进行分析，查阅相关论文，咨询权威专家教授， 并对供应商技术负责人、电子元器件市场进行了调研，具体情况如 下： 一、查阅权威论文 1、信息产业部电子第五研究所可靠性研究分析中心、电子元器 件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室工程师杨丹女士的论 文电子元器件的贮存可靠性及评价技术 （详见附件一） ，得到信 息如下： “影响元器件贮存寿命的主要因素是元器件本身包含的各种 缺陷，凡含有缺陷的元器件都不能满足系统长期贮存的要求，无缺 陷或缺陷少的元器件，只要正确使用，就能满足系统十几甚至是二 十年的长期贮存要求” 。 “美国桑迪亚国家实验室（ SNL）的专项研究证实了这一点 5。他们收集了美国国防部（ DOD）的部分“高可靠”微电子器件 （如 MOSLSI、双极型 SSI）在非工作状态下的大量贮存数据，贮存 年份主要在 810 年之间，甚至 20 年以上。数据分析表明，非工 作状态下元器件的贮存失效并非单纯地呈指数分布规律，其失效在 较大程度上由设计、制造和生产过程的质量监控造成的缺陷所引起。 基于这些贮存试验数据，对 MIL-HDBK-217 中的预计模型进行了修 正，新模型充分考虑到制造过程中引入的工艺和结构缺陷对贮存可 靠性的影响，模型对比如图 1 所示。分析认为预计手册 6低估了 微电子器件的短期贮存（不高于 5 年）可靠性，而高估了长期贮存 （高于 20 年）的可靠性” 。 “杨家铿 .电子元器件长期贮存可靠性分析 A .第九届全 国可靠性物理学术讨论会论文集C .广州：信息产部电子第五研究。 我们曾对近万只元器件在北京室内的贮存数据进行分析，确定 贮存失效率随时间的变化规律、失效模式和影响贮存可靠性的主要 因素，进而结合广州、广元、桂林等地的长期贮存试验结果，估算 出国产一般半导体器件的贮存寿命（允许管腿沾锡处理的情况）可 达 14 年或以上” 。 2、机电部第四十研究所黄秀铭的论文论现行 IEC 密封电子元 器件密封性标准的合理性 （详见附件二） ，得到信息如下： “级标准为最低级的密封性标准，可用于一般商用的密封电 子元器件。这类元器件内部无电接触零件（如触头、插脚等） ，也无 需充有保护气体。常用于腔体小于 0.1cm3的半导体，一般储存寿命 （在正常环境中）可达数年以上” 。 二、供应商、电子元器件市场调查 电子元器件供应商与电子市场商家均反馈，无法确定电子元器 件具体的储存期限，只要储存环境达到要求（温度：-1040， 相对湿度：10%80%） ，可存放几年到几十年不等。 附件三：关于对电子元器件供应商、电子市场的调研报告 三、咨询权威专家教授 1、黄洪钟，电子科技大学机械电子工程学院院长，博士，教授， 博士生导师，2011 年质量、可靠性、风险、维修性、安全性国际学 术会议（ICQR2MSE 2011，EI 收录）大会主席。 经咨询，其答复：电子元器件没有保质期一说，一般电子元器 件，如电容，只要表面包装没损坏，也是可以用的。 2、许军，装甲兵工程学院控制工程系，教授，研究方向：电路 故障。 经咨询，其答复：电子元器件在一般情况下，可存放 3-5 年。 3、费庆宇，高级工程师，理学硕士， “电子产品可靠性与环境 试验”杂志编委，长期从事半导体器件的可靠性、失效机理和失效 分析技术研究。 “VLSI 失效分析与可靠性评价技术”课题第一完成 人，该课题荣获 2006 年度“国防科技二等奖” 。 经咨询，其答复：电子元器件在一般情况下，可存放 3-5 年。 四、调研结论 1、查阅权威论文的结论 无缺陷或缺陷少的电子元器件，在一定的环境下，能储存几年 甚至十几年。 2、对供应商、电子元器件市场调研的结论 只要储存环境达到要求（温度：-1040，相对湿度： 10%80%） ，可存放几年到几十年不等。 3、咨询权威专家教授的结论 电子元器件在一般情况下