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模拟电路与数字电路 物理教研室 参考文献: 童诗白,华成英主编, 高等教育出版社。 阎石主编,高等教育出 版社。 教材: 林捷等编,人民邮电 出版社。 第一章 半导体器件 1、半导体基础知识 2、二极管 3、三极管 4、场效应管 导体、半导体和绝缘体 导体:自然界中很容易导电的物质称为导体,金属 一般都是导体。 绝缘体:有的物质几乎不导电,称为绝缘体,如橡 皮、陶瓷、塑料和石英。 半导体:另有一类物质的导电特性处于导体和绝缘 体之间,称为半导体,如锗、硅、砷化镓 和一些硫化物、氧化物等。 半导体的导电机理不同于其它物质,所以它具有 不同于其它物质的特点。例如: 当受外界热和光的作用时,它的导电能 力明显变化。 往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使 它的导电能力明显改变。 一、本征半导体的结构特点 Ge Si 通过一定的工艺过程,可以将半导体制成晶体。 现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们 的最外层电子(价电子)都是四个。 本征半导体 本征半导体:完全纯净的、结构完整的半导体晶体。 在硅和锗晶体中,原子按四角形系统组成 晶体点阵,每个原子都处在正四面体的中心, 而四个其它原子位于四面体的顶点,每个原子 与其相临的原子之间形成共价键,共用一对价 电子。 硅和锗的晶体结构: 硅和锗的共价键结构 共价键共 用电子对 +4+4 +4+4 +4表示除 去价电子 后的原子 共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为 束缚电子,常温下束缚电子很难脱离共价键成为自 由电子,因此本征半导体中的自由电子很少,所以 本征半导体的导电能力很弱。 形成共价键后,每个原子的最外层电子是 八个,构成稳定结构。 共价键有很强的结合力,使原子规 则排列,形成晶体。 +4+4 +4+4 二、本征半导体的导电机理 在绝对0度(T=0K)和没有外界激发时,价 电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可 以运动的带电粒子(即载流子),它的导电能力 为 0,相当于绝缘体。 在常温下,由于热激发,使一些价电子获 得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为自由电 子,同时共价键上留下一个空位,称为空穴。 1.载流子、自由电子和空穴 +4+4 +4+4 空穴 束缚电子 自由电子 二、本征半导体的导电机理 1.载流子、自由电子和空穴 2.本征半导体的导电机理 +4+4 +4+4 在其它力的作用下, 空穴吸引附近的电子 来填补,这样的结果 相当于空穴的迁移, 而空穴的迁移相当于 正电荷的移动,因此 可以认为空穴是载流 子。 本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即 自由电子和空穴。 温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半 导体的导电能力越强,温度是影响半导体性 能的一个重要的外部因素,这是半导体的一 大特点。 本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。 本征半导体中电流由两部分组成: 1. 自由电子移动产生的电流。 2. 空穴移动产生的电流。 电子和空穴产生过程动画演示 杂质半导体 在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会 使半导体的导电性能发生显著变化。其原因是掺 杂半导体的某种载流子浓度大大增加。 P 型半导体:空穴浓度大大增加的杂质半导体,也 称为(空穴半导体)。 N 型半导体:自由电子浓度大大增加的杂质半导体 ,也称为(电子半导体)。 一、N 型半导体 在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷 (或锑),晶体点阵中的某些半导体原子被 杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子, 其中四个与相邻的半导体原子形成共价键, 必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚 ,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原 子就成了不能移动的带正电的离子。每个磷 原子给出一个电子,称为施主原子。 一、N 型半导体 +4+4 +5+4 多余 电子 磷原子 N 型半导体中的载流子是什么? 1.由施主原子提供的电子,浓度与施主原子相同。 2.本征半导体中成对产生的电子和空穴。 掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所 以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子 称为多数载流子(多子),空穴称为少数载流 子(少子)。 二、P 型半导体 在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼 (或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质 取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的 半导体原子形成共价键时 ,产生一个空穴。这个空 穴可能吸引束缚电子来填 补,使得硼原子成为不能 移动的带负电的离子。由 于硼原子接受电子,所以 称为受主原子。 +4+4 +3+4 空穴 硼原子 P 型半导体中空穴是多子,电子是少子。 三、杂质半导体的示意表示法 P 型半导体 + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + N 型半导体 杂质型半导体多子和少子的移动都能形成电流。但 由于数量的关系,起导电作用的主要是多子。近 似认为多子与杂质浓度相等。 PN 结的形成 在同一片半导体基片上,分别制造P 型半导体和N 型半导体,经过载流子的扩 散,在它们的交界面处就形成了PN 结。 2.1.2 PN结及半导体二极管 P型半导体 N型半导体 + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + 扩散运动 内电场E 漂移运动 扩散的结果是使空间电 荷区逐渐加宽,空间电 荷区越宽。 内电场越强,就使漂移 运动越强,而漂移使空 间电荷区变薄。 空间电荷区, 也称耗尽层。 漂移运动 P型半导体 N型半导体 + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + 扩散运动 内电场E 扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当 于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固 定不变。 + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + 空间 电荷 区 N型区P型区 电位V V0 1.空间电荷区中没有载流子。 注意: 2.空间电荷区中内电场阻碍P区中的空穴、N 区中的电子(都是多子)向对方运动(扩散 运动)。 3. P 区中的电子和N区中的空穴(都是少子), 数量有限,因此由它们形成的电流很小。 PN结的单向导电性 PN 结加上正向电压、正向偏置的意思都是: P 区 加正、N 区加负电压。 PN 结加上反向电压、反向偏置的意思都是: P区 加负、N 区加正电压。 + + + + RE 一、PN 结正向偏置 内电场 外电场 变薄 PN + _ 内电场被削弱,多子 的扩散加强能够形成 较大的扩散电流。 二、PN 结反向偏置 + + + + 内电场 外电场 变厚 NP + _ 内电场被被加强,多子 的扩散受抑制。少子漂 移加强,但少子数量有 限,只能形成较小的反 向电流。 RE PN结的伏安特性: u 为PN结两端的电压降 i 为流过PN结的电流 IS 为反向饱和电流 UT =kT/q ,称为温度的电压 当量 其中k为玻耳兹曼常数 1.381023 q 为电子电荷量1.6109 T 为热力学温度,对于室温 (相当T=300 K) 则有UT=26 mV。 当 u0 uUT时 当 u|U T |时 PN结的伏安特性曲线及表达式 根据理论推导,PN结的伏安特性曲线如图 正偏 IF(多子扩散) IR(少子漂移) 反偏 反向饱和电流 反向击穿电压 反向击穿 热击穿烧坏PN结 电击穿可逆 3、 PN 结的击穿 雪崩击穿:反向电压过大,阻挡层内电场 很强而造成。 齐纳击穿:PN结两边掺杂浓度高,使阻挡 层宽度变小所致。 二、温度对二极管伏安特性的影响 在环境温度升高时,二极管的正向特性将左移,反 向特性将下移。 二极管的特性对温度很敏感,具有负温度系数 。 50 I / mA U / V 0.20.4 25 5 10 15 0.01 0.02 0 温度增加 1、在N型半导体中如果掺入足够量的三价 元素,可将其改型为P型半导体。 2、因为N型半导体的多子是自由电子,所 以它带负电。 3、PN结在无光照、无外加电压时,结电 流为零。 () 判断题 () () 半导体二极管 一、基本结构 PN 结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。 引线 外壳线 触丝线 基片 点接触型 PN结 面接触型 PN 二极管的电路符号: 半导体二极管按其结构不同可分为点接触型和面 接触型两类。 点接触型二极管PN结面积很小,结电容很小,多 用于高频检波及脉冲数字电路中的开关元件。 面接触型二极管PN结面积大,结电容也小,多用 在低频整流电路中。 二、伏安特性 U I 死区电压 硅管 0.6V,锗管0.2V。 导通压降: 硅 管0.60.7V,锗 管0.20.3V。 反向击穿 电压UBR 1.最大整流电流I 2.最高反向工作电压UR 3.反向电流I 4.极间电容(结电容) 5.最高工作频率fM 器件的参数是对其特性的定量描述,也 是我们正确使用和合理选择器件的依据。半 导体二极管主要参数有: 二极管的主要参数 指二极管长期运行时允许通过的最大 正向平均电流,它是由结的结面积和 外界散热条件决定的。实际应用时,二极 管的平均电流不能超过此值,并要满足散 热条件,否则会烧坏二极管。 二极管使用时所允许加的最大反 向电压,超过此值二极管就有发生 反向击穿的危险。通常取反向击穿 电压UBR的一半作为UR 。 指在室温下,二极管未击穿时的反向电流值。 该电流越小,管子的单向导电性能就越好。另 由于反向电流是由少数载流子形成,所以温度 升高,反向电流会急剧增加,因而在使用时要 注意温度的影响。 主要由结的结电容大小决定 。结电容越大,则其允许的最高 工作频率越低。 1.2.4 二极管等效电路 一、由伏安特性折线化得到的等效电路 1. 理想模型 2. 恒压降模型 3. 折线模型 二极管:死区电压=0 .5V,正向压降0.7V(硅二极管) 理想二极管:死区电压=0 ,正向压降=0 RL uiuo ui uo t t 二极管的应用举例:二极管半波整流 桥式整流电路 与门电路 稳压二极管 U I IZ IZmaxUZ IZ 稳压 误差 曲线越陡 ,电压越 稳定。 + - UZ 动态电阻: rz越小,稳 压性能越好 。 稳压管的参数主要有以下几项: 1. 稳定电压UZ 指稳压管工作在反向击穿区时的稳定工作电压。 2. 稳定电流IZ(IZminIZmax) 指稳压管正常工作时的参考电流。若工作电流小 于IZmin,则不能稳压;若工作电流大于IZmax ,则 会因功耗过大而烧坏。 3. 动态电阻rZ 指稳压管两端电压和电流的变化量之比。 rZ =U /I rZ愈小,反映稳压管的击穿特性愈陡,稳压性越好 . 4. 电压的温度系数稳定电压aU 指稳压的电流保持不变时,环境温度每变化 所引起的稳定电压变化的百分比。 一般: UZ 7V, aU为正值; UZ UZ 7V, aU值较小,稳压性能稳定。 5. 额定功率Z 指稳压管工作电压UZ与最大工作电流IZmax的乘积. Z= UZ IZmax 额定功率决定于稳压管允许的温升。 发光二极管 LED (Light Emitting Diode) 1. 符号和特性 工作条件:正向偏置 一般工作电流几十 mA , 导通电压 (1 2) V 符号 u /V i /mA O 2 特性 发光二极管 二极管极性的简易判别法 黑表笔-阳极 红表笔-阴极 二极管正向偏置 电阻很小 黑表笔-阴极 红表笔-阳极 二极管反向偏置 电阻很大 基本结构 B E C N N P 基极 发射极 集电极 NPN型 P N P 集电极 基极 发射极 B C E PNP型 2.1.3 半导体三极管 B E C N N P 基极 发射极 集电极 基区:较薄, 掺杂浓度低 集电区: 面积较大 发射区:掺 杂浓度较高 B E C N N P 基极 发射极 集电极 发射结 集电结 晶体管放大原理 B E C N N P EB RB IE 基区空穴 向发射区 的扩散可 忽略。 IBE 进入P区的电子 少部分与基区的 空穴复合,形成 电流IBE ,多数 扩散到集电结。 EC Rc 发射结正 偏,发射 区电子不 断向基区 扩散,形 成发射极 电流IE。 B E C N N P EB RB IE 集电结反偏,有 少子形成的反向 电流ICBO。 ICBO IC=ICE+ICBOICE IBE ICE EC Rc 从基区扩散 来的电子作 为集电结的 少子,漂移 进入集电结 而被收集, 形成ICE。 IB=IBE-ICBOIBE IB EB RB IE ICBOICE IBE B E C N N P IC=ICE+ICBO ICE EC Rc 基极电流IB 小,集电极电流IC 大, 根据基尔霍夫第一定律: 直流电流放大系数 若取电流的变化量,则有 交流放大系数 要使三极管能放大电流,必须使发射结正偏,集电 结反偏。 B E C IB IE IC NPN型三极管 B E C IB IE IC PNP型三极管 (UCIC,UCE0.3V 称为饱和区。 IC(mA ) 1 2 3 4 UCE(V)36912 IB=0 20A 40A 60A 80A 100A 此区域中 : IB=0,IC=ICEO, UBEIC,UCE0.3V (3) 截止区: UBE0时 UGS足够大时( UGSVT)感应 出足够多电子, 这里出现以电子 导电为主的N型 导电沟道。 感应出电子 VT称为阈值电压 UGS较小时,导 电沟道相当于电 阻将D-S连接起 来,UGS越大此 电阻越小。 P NN GSD UDSUGS P NN GSD UDSUGS 当UDS不太大 时,导电沟 道在两个N区 间是均匀的 。 当UDS较大 时,靠近D 区的导电沟 道变窄。 P NN GSD UDSUGS 夹断后,即 使UDS 继续 增加,ID仍 呈恒流特性 。 ID UDS增加,UGD=VT 时 ,靠近D端的沟道被夹 断,称为予夹断。 漏极特性曲线(分三个区域) 截止区 恒流区 可变电阻区 漏极特性曲线(分三个区域) 截止区:VGS 109 漏极特性曲线(分三个区域) 恒流区: iD 基本上由VGS决定,与VDS 关系不大 漏极特性曲线(分三个区域) 可变电阻区:当VDS 较低(近似为0), VGS 一 定时, 这个电阻受VGS 控制 、可变。 1.7.2 场效应管的主要参数及注意事项 1.主要参数 1) 开启电压U GS(th)和夹断电压U GS(off) UDS等于某一定值,使漏极电流ID等于某一微小电 流时,栅源之间所加的电压UGS,对于增强型管,称 为开启电压U GS(th);对于耗尽型管和结型管,称为夹 断电压U GS(off)。 2) 饱和漏极电流I DSS 饱和漏极电流是指工作于饱和区时,耗尽型场效 应管在UGS=0时的漏极电流。 3)低频跨导gm(又称低频互导) 低频跨导是指UDS为某一定值时,漏极电流的微变 量和引起这个变化的栅源电压微变量之比,即 式中,ID为漏极电流的微变量; UGS为栅源电压微变量。 gm反映了UGS对ID的控制 能力,是表征场
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