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LED专用测试仪器LED测试仪主要有LED电性能测试仪、LED光通量测试仪、LED光强仪（也称LED光强分布测试仪）、LED光谱分布系统（LED光谱分析仪），LED光色电测试仪，LED老化仪，大功率LED测试仪。LED测试仪主要用于测量LED的正反向电性能、光通量、光强、角度、波长、色温、色坐标、显色性（也称显色指数）、光衰等参数。LED101 LED标准校准源 高性能的LED标准校准源主要用于校准LED光度、色度和辐射度仪器，是LED发光特性准确测量的基础。LED101 LED标准校准源，采用半导体精密制冷技术，直接测量并控制LED PN 结温度，并精密恒流驱动，因此具有极高的输出稳定性及复现性。HAAS-2000高精度快速光谱辐射计测试精度和测试速度的完美结合。HAAS-2000采用世界最先进的平场衍射光栅和日本HAMAMATSU科学级CCD可同时实现毫秒级的测试速度和实验室级的测试精度。配合LED300E可编程LED测试电源可实现脉冲式LED光色参数测量。PMS-80 Sync-Skan LED精密光色电测试系统PMS-80是远方公司十多年单色仪光谱仪研究制造经验与现代技术相结合的产物，该新型光谱仪在保持与传统单色仪光谱仪相同精度的同时,测量速度大大提高。采用远方专利Sync-Skan快速采扫同步技术，380-800nm间的光谱只需数秒即可完成，远远快于传统机械扫描单单色仪光谱仪几分种测量时间。PMS-50增强型LED精密光色电测试系统PMS-50属单单色仪光谱仪，系统成熟、可靠，灵敏度及精度高，采用分光积分结合于一体的专利， 既解决了全光谱法存在的动态范围小、线性差的缺点，又解决了纯积分法存在的异谱误差相对较大的缺点。STC4000快速光色电综合测试系统 STC4000是一个紧凑型多通道CCD光谱仪,测量速度快，性价比高，适用于测试速度要求高的场合；快速测量LED的相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、显色指数、色容差、光谱半宽度、主波长、色纯度、光通量、光辐射功率、光效、正反向电性能等参数。 红外LED光色电测试系统用于测量红外发光二极管LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。该系统为国内众多LED科研机构、院校、高端客户的质检及工程分析提供有力的保证。紫外LED光色电测试系统用于测量紫外发光二极管LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。该系统为国内众多LED科研机构、院校、高端客户的质检及工程分析提供有力的保证。多晶LED光色电测试系统用于测量多晶LED的相对光谱功率分布、峰值波长、半宽度、辐射功率、电压电流参数。提供多路LED供电电源，同时测量单晶、双晶、三晶LED光色测量。配有多晶LED专用的三路稳流稳压全数控电源。LED626 LED分布光度计（也称LED光强分布测试仪) LED可自动沿水平轴和竖直轴自动转动，自动绘制三维光强分布图、配光曲线、自动测定光束角及正反向电性能，内置恒流源。受光面尺寸1cm2标准级（CIE Class A）光度探测器，完全符合最新ISO/CIE国际标准要求。精密LED机械定位装置，精密一体化设计中心对准系统，测试条件符合CIE pub.No.127条件A或条件B。LED620 LED光强分布测试仪LED可自动沿竖直轴自动转动，沿水平轴手动转动，自动绘制三维光强分布图、自动测定光束角及正反向电性能，内置恒流源。受光面尺寸1cm2标准级（CIE Class A）光度探测器，完全符合最新ISO/CIE国际标准要求。精密LED机械定位装置，精密一体化设计中心对准系统，测试条件完全符合CIE pub.No.127条件A或B。LED520LED光强自动分布测试仪专用于LED光强和光强分布曲线（配光曲线）(极坐标或直角坐标)的快速配光测量。LED绕水平轴自动旋转和竖直轴手动旋转，绘制三维空间光强分布曲线、自动测定光束角及正反向电性能参数，内置恒流源。仪器采用国家一级（CIE Class B）光度探头及精密LED机械定位装置，精密一体化设计中心对准系统，完全符合CIE pub.No.127条件A或B。LED622 LED光强测试仪用于测量LED各角度的光强值及电性能，内置恒流源，并可以根据用户设定的限值进行光强分级。操作方便、显示直观，符合CIE pub.No.127条件A或B，适合LED光强快速测试、筛选分级和质量控制。LED522 LED光强测试仪主要用于生产线LED光强值(mcd或cd)、光束角及正反向电性能参数的快速人工测量，LED可沿水平轴和竖直轴手动转动，内置恒流源，测试条件完全符合CIE条件A或CIE条件B，采用国家一级（Class B)高灵敏度光度探头，并可以根据用户设定的限值进行光强分级。LED310 结温热阻测试仪测量LED热阻、LED结温、热校准系数以及LED电性能数的分析测量，具有测量精度高、响应速度快等特点。满足国标GB/T4023-1997、部标SJ 20788-2000、美军标MIL-STD-750D、国际JEDEC JESD 51、部标QB/T XXXX-2008普通照明用发光二极管性能要求（送审稿）等国际和我国最新制定的标准要求。LHS-1000单颗LED光色热一体化测试系统集色参数、光度参数、电参数、结温热阻测试功能于一体，可同时实现LED在不同温度或工作电流下的瞬态和稳态参数的测量。测试功能强大、软件功能丰富、测试精度高，满足科研及质检机构、工程分析等不同客户的需求。DJ5000 LED加速老化试验仪(大功率型)采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对60个不同工位LED进行单独老化。可同时实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验内置微电脑控制，具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点。 DJ5000 LED加速老化试验仪（小功率型）采用电流、频率、占空比、老化时间均智能可调的6组独立恒流电源对480个不同工位LED进行单独老化。可同时实现额定参数的常规老化试验和过载冲击加速老化试验。内置微电脑控制，具有可靠性好、调节方便、使用寿命长的优点。 LT-200 单颗LED和LED模组加速老化寿命试验系统用于对单颗LED灯及LED模组进行老化筛选试验、可靠性和寿命加速试验、高低温下的光电参数的测试。60 工位老炼、壳温及光参数的实时检测，用国际最新寿命测量标准预测LED可靠性和寿命。LT-300 LED灯和灯具可靠性和寿命加速测试系统用于对LED灯及LED灯具进行老化筛选试验、可靠性和寿命加速试验、高低温下的光色变化曲线的测试。多工位老炼、壳温及光参数的实时检测。 SMS-300 LED辐射安全性能测试系统本系统主要根据IEC 62471-2006/CIE S009:2002、GB/T 20145-2006、IEC60825-1:2007、等标准要求等标准要求设计而成，满足62471等标准的测试要求。用于LED单颗封装、LED模组、LED灯、LED灯具的视网膜蓝光危害、视网膜热危害等辐射安全测试。EX-1000荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统测量荧光材料激发光谱特性有利于筛选高效的激发光源，或者在激发光源特定的前提下，改进荧光材料的激发光谱特性，以实现更高的激发-发光转换效率，测量荧光材料在真实工作状态（高温状态）下的发光特性（热猝灭特性），避免用其常温特性来代替真实的工作状态，确保荧光材料发光质量。LED荧光粉精密光色测试系统 HAAS-2000或PMS-80或PMS-50与LED荧光粉激发装置、标定系统等组成LED荧光粉光色测试系统。该系统经过专业配置可以测量白光LED中的黄色YAG荧光粉的光色测量，满足国际照明委员会CIE对光和颜色测量要求。远方公司是LED荧光粉、三基色荧光粉测试方法国家标准起草单位，本系统测量方法为国家标准方法所推荐。 LED荧光粉相对亮度测试仪JY2003相对亮度测试仪与PE-5荧光粉激发装置配合使用，用于测试荧光粉相对亮度，测量范围宽，稳定度高，线性好。 配前置放大LED荧光粉专用的高灵敏度探测器，V()探测器修正达到国家标准级（CIE CLASSA）水平。 LED芯片光色电测试系统可用于测量相对光谱功率分布，色品坐标，主波长，峰值波长，光谱纯度，色温，显色指数，半宽度，光通量，辐射功率，红色比，色容差、正向电压、正向电流、反向电压、反向电流等参数。 Flash-10 LED芯片计数远方Image IC LED芯片计数系统实现LED芯片的计算机自动计数，代替了传统人员计数，可以实现快速、准确的LED芯片计数。 LED300E 可编程LED测试电源主要用于给被测LED供电，测量LED的正反向电性能。仪器恒流输出方式可实现连续模式、单脉冲模式和重复脉冲等多种模式。配合快速光谱仪可实现LED的瞬态脉冲测量。大功率LED温度控制器大功率LED工作时，PN结温温度持续升高，LED工作不稳定，无法得到稳定的光电特性，LED温度控制器通过控制LED壳体温度，以此控制LED结温，使LED稳定地工作，从而使大功率LED的稳定光色测量成为可能。 LED610 LED光通量测试仪本仪器主要用于测量L