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测试技术与信号处理 1/10 测试技术与信号处理 Measurement and Testing Techniques And Signal Processing 小测 测试技术与信号处理 2/10 第一章 1对多次测量的数据取算数平均值，就可以减 少随机误差的影响。 （ ） 2传感器的线性范围越宽，表明其工作量程越 大。 （ ） 3一台仪器的重复性很好，但测得的结果并不 准确，这是由于存在随机误差的缘故。（ ） 4一台仪器的重复性很好，但其静态测量结果 也可能存在很大的误差。 （ ） 5频率不变性原理是指任何测试装置的输出信 号的频率总等于输入信号的频率。 （ ） 测试技术与信号处理 3/10 第二章 1凡频谱是离散的信号必然是周期信号。 （ ） 2. 平稳随机过程的时间平均统计特征等于该过程 的集合平均统计特征。（ ） 3非周期性变化的信号就是随机信号。 （ ） 4非周期信号的幅值谱表示的是其幅值谱密度 与时间的函数关系。 （ ） 5. 由周期信号相互叠加的信号必为周期信号。 （） 测试技术与信号处理 4/10 第三章 1. 测试装置的灵敏度越高，其测量范围就越大( ) 2.一阶系统的时间常数 越小越好.( ) 3.当输入信号x(t)一定时，系统的输出 y(t)将完全 取决于传递函数H(t) ,而与系统的物理模型无关.( ) 4. 测试装置的相频特性表示了信号各频率分量的 初相位和频率间的函数关系。（） 5.灵敏度不属于测试装置动态特性的参数（） 测试技术与信号处理 5/10 1半导体应变片是基于材料的 （ ）工作的。 A应变效应 B压阻效应 C热电效应 D压电效应 第四章 测试技术与信号处理 6/10 2.（ ）传感器属于根据敏感元 件材料本身的物理性质变化而 工作的物性型传感器。 A电感式 B电容式 C磁电式 D压电式 测试技术与信号处理 7/10 3电阻应变片的灵敏度定义为（ ）。 A应变片的电阻变化与应变之比； B应变片电阻的相对变化与应变之比； C应变片的电阻变化与形变之比； D应变片电阻的相对变化与形变之比。 测试技术与信号处理 8/10 4. 半导体应变片在测量某一构件应变时， 其电阻相对变化是由（ ）来决定的。 A变形； B电阻率的变化； C弹性模量的变化； D泊松比的变化 测试技术与信号处理 9/10 5 金属丝应变片在测量某一构件的应变时， 其电阻的相对变化主要由（ ）引起的。 A贴片位置的温度变化； B电阻丝几何尺寸的变化；
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