标准解读
GB/T 4937.12-2018《半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动》是中华人民共和国国家标准之一,该标准规定了半导体器件在特定条件下进行扫频振动试验的方法。它旨在评估半导体器件对由于运输、安装或使用过程中可能遇到的振动环境所造成的机械应力的耐受能力。
本标准适用于各种类型的半导体器件,包括但不限于晶体管、二极管、集成电路等。通过执行扫频振动测试,可以模拟实际应用中这些组件可能会遭遇的不同频率范围内的振动情况,从而帮助制造商了解其产品在面对外部机械冲击时的表现如何,并据此作出相应改进以提高产品质量和可靠性。
根据GB/T 4937.12-2018的规定,扫频振动试验通常会在一个可控环境中进行,其中包含了对加速度值、频率范围以及扫描速率的具体要求。此外,还详细描述了样品准备、安装方式、测量设备的选择与校准等方面的内容,确保每次实验都能按照统一的标准来进行,保证结果的一致性和可比性。
对于参与测试的每个半导体器件来说,需要记录下它们在整个振动过程中的性能变化情况,比如是否有物理损伤出现、电气特性是否发生变化等关键指标。基于这些数据,研究人员能够更准确地判断出不同型号或批次间的产品差异,并为后续设计优化提供依据。
此标准作为一套完整的指导方针,不仅有助于提升国内半导体行业的技术水平,同时也促进了国际间的技术交流与合作,对于推动整个电子工业的发展具有重要意义。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2018-09-17 颁布
- 2019-01-01 实施
©正版授权




文档简介
ICS3108001 L40 . . 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 GB/T4937122018/IEC60749-122002 . : 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分 扫频振动 : SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods Part12 Vibrationvariablefreuenc : , q y (IEC60749-12:2002,IDT)2018-09-17发布 2019-01-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 发 布 中国国家标准化管理委员会 GB/T4937122018/IEC60749-122002 . : 前 言 半导体器件 机械和气候试验方法 由以下部分组成GB/T4937 : 第 部分 总则 1 : ; 第 部分 低气压 2 : ; 第 部分 外部目检 3 : ; 第 部分 强加速稳态湿热试验 4 : (HAST); 第 部分 稳态温湿度偏置寿命试验 5 : ; 第 部分 高温贮存 6 : ; 第 部分 内部水汽含量测试和其他残余气体分析 7 : ; 第 部分 密封 8 : ; 第 部分 标志耐久性 9 : ; 第 部分 机械冲击 10 : ; 第 部分 快速温度变化 双液槽法 11 : ; 第 部分 扫频振动 12 : ; 第 部分 盐雾 13 : ; 第 部分 引出端强度 引线牢固性 14 : ( ); 第 部分 通孔安装器件的耐焊接热 15 : ; 第 部分 粒子碰撞噪声检测 16 : (PIND); 第 部分 中子辐照 17 : ; 第 部分 电离辐射 总剂量 18 : ( ); 第 部分 芯片剪切强度 19 : ; 第 部分 塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响 20 : ; 第 部分 对潮湿和焊接热综合影响敏感的表面安装器件的操作 包装 标志和运输 20-1 : 、 、 ; 第 部分 可焊性 21 : ; 第 部分 键合强度 22 : ; 第 部分 高温工作寿命 23 : ; 第 部分 加速耐湿 无偏置强加速应力试验 24 : (HSAT); 第 部分 温度循环 25 : ; 第 部分 静电放电 敏感度试验 人体模型 26 : (ESD) (HBM); 第 部分 静电放电 敏感度试验 机械模型 27 : (ESD) (MM); 第 部分 静电放电 敏感度试验 带电器件模型 器件级 28 : (ESD) (CDM) ; 第 部分 闩锁试验 29 : ; 第 部分 非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理 30 : ; 第 部分 塑封器件的易燃性 内部引起的 31 : ( ); 第 部分 塑封器件的易燃性 外部引起的 32 : ( ); 第 部分 加速耐湿 无偏置高压蒸煮 33 : ; 第 部分 功率循环 34 : ; 第 部分 塑封电子元器件的声学扫描显微镜检查 35 : ; 第 部分 恒定加速度 36 : ; GB/T4937122018/IEC60749-122002 . : 第 部分 采用加速度计的板级跌落试验方法 37 : ; 第 部分 半导体存储器件的软错误试验方法 38 : ; 第 部分 半导体元器件原材料的潮气扩散率和水溶解率测量 39 : ; 第 部分 采用张力仪的板级跌落试验方法 40 : ; 第 部分 非易失性存储器件的可靠性试验方法 41 : ; 第 部分 温度和湿度贮存 42 : ; 第 部分 集成电路 可靠性鉴定方案指南 43 : (IC) ; 第 部分 半导体器件的中子束辐照单粒子效应试验方法 44 : 。 本部分为 的第 部分 GB/T4937 12 。 本部分按照 给出的规则起草 GB/T1.12009 。 本部分使用翻译法等同采用 半导体器件 机械和气候试验方法 第 部分 IEC60749-12:2002 12 : 扫频振动 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。 。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出 。 本部分由全国半导体器件标准化技术委员会 归口 (SAC/TC78) 。 本部分起草单位 中国电子科技集团公司第十三研究所 : 。 本部分主要起草人 迟雷 彭浩 岳振鹏 李树杰 崔波 高金环 裴选 张艳杰 : 、 、 、 、 、 、 、 。 GB/T4937122018/IEC60749-122002 . : 半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分 扫频振动 :1 范围 的本部分的目的是测定在规定频率范围内 振动对器件的影响 本试验 是 破 坏 性 试 GB/T4937 , 。 验 通常用于有空腔的器件 , 。 本试验与 基本一致 但鉴于半导体器件的特殊要求 采用本部分的条款 GB/T2423.102008 , , 。2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件 仅注日期的版本适用于本文 。 , 件 凡是不注日期的引用文件 其最新版本 包括所有的修改单 适用于本文件 。 , ( ) 。 电 工 电 子 产 品 环 境 试 验 第 部 分 试 验 方 法 试 验 振 动 正 弦 GB/T2423.102008 2 : Fc: ( ) (IEC60068-2-6:1995,IDT)3 试验设备 本试验所需设备包括能在规定条件下进行扫频振动的振动装置 以及试验后进行测量所必需的光 , 学和电气设备 。4 试验程序 样品应刚性地安装在振动台上 引出端和电缆也应安全固定 以避免引入额外的引线共振 应使样 , , 。 品做简谐振动 其振幅两倍幅值为 峰 峰值 或其峰值加速度为 2 取较小者 振动频 , 1.5mm( - ), 200m/s , 。 率在 范围内近似对数变化 从 再回到 的整个频率范围的振 20Hz2000Hz 。 20Hz2000Hz 20Hz 动时间不应少于 在 X Y 和Z 个方向上各进行 次这样的循环 共 次 4min。 、 3 4 ( 12 )。41 检验 . 按照相关文件的规定 进行外观检查 电性能测试 包括电参数测试和功能测试 及密封性检查 气 , 、 ( ) ( 密性封装器件 )。42 失效判据 . 按照相关文件的规定 如
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