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文档简介

双端口存储器实验,一、实验类别 原理性+分析性 二、实验目的 了解双端口静态存储器IDT7132的工作特性及其使用方法； 了解半导体存储器怎样存储和读取数据； 了解双端口存储器怎样并行读写； 熟悉TEC-8模型计算机中存储器部分的数据通路。,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,1,双端口存储器实验,三、实验设备 TEC-8实验系统 1台 TDS1001数字存储示波器 1台 UT60A数字万用表 1块 逻辑测试笔（在TEC-8实验台上） 1支 四、实验电路,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,2,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,3,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,4,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,5,双端口存储器实验,五、实验任务 1从存储器地址10H开始，通过左端口连续向双端口RAM中写入3个数：85H，60H，38H。在写的过程中，在右端口检测写的数据是否正确。 2从存储器地址10H开始，连续从双端口RAM的左端口和右端口同时读出存储器的内容。,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,6,双端口存储器实验,六、实验步骤 独立方式 1 将存储器模块的外部连线按参考接线，将控制器转换开关拨到独立位置，“独立”灯亮, 将编程开关设置为正常位置，将开关DP拨到向上位置。打开电源。 2 系统复位，设置存储器地址，通过左端口写入数据，并通过左、右端口读出检测写入的数据是否正确。,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,7,双端口存储器实验,3.参考接线:,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,8,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,9,K8,K9,K10,K12,K11,K13,K14,GND,K15,55H,55H,1,1,1,0,0,55H,55H,0AAH,0,0,1,0,0AAH,0AAH,1,0AAH,55H,0AAH,0AAH,0,0,0,1,0AAH,双端口存储器实验,微程序方式 1将控制器转换开关拨到微程序位置，将编程开关设置为正常位置。打开电源。 2进行存储器读、写实验。 设置存储器读、写实验模式 设置存储器地址 依次写入第1、2、3个数 重新设置存储器地址 左、右两2个端口同时显示同一个存储器单元的内容。,TEC-8,北京邮电大学计算机学院实验中心系统结构实验室,10,双端口存储器实验,七、实验要求 1做好实验预习，掌握双端口存储器的使用方法和TEC-8模型计算机存储器部分的数据通路。 2写出实验报告，内容是： 实验目的。 根据实验结果填写表格。 结合实验现象，在每一实验步
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