SJT10040-1991电子元器件详细规范半导体集成电路CC4019型CMOS四2选1数据选择器.pdf

rIL .J 中华人民共和国电子工业行业标准 s .i / T 1 0 0 4 0 -9 1 电子元器件详细规范 半导体集成电路C C 4 0 1 9 型C MO s 四 2 选 1 数据选择器 1 9 9 1 一 0 4 - 0 8 发布 1 9 9 1 一 0 7 - 0 1 实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中 华 人 民 共 和 国 电 子 工 业 行 业 标 准 电子元器件详细规范 半导体集成电路C C 4 0 1 9 型 C MO s 四2 选1 数据选择器 De t a i l s p e c i f i c a t i o n f o r e l e c t r o n i c c o mp o n e n t S e m i c o n d u c t o r i n t e g r a t e d c i r c u i t - C C 4 0 1 9 CMOS Qu a d 2 - l i n e t o 1 - l i n e d a t a s e l e c t o r S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 本规范规定了半导体集成电路C C 4 0 1 9 型C MO S四 2 选 1 数据选择器质量评定的全部内 容。 本规范是参照G B 9 4 2 4 C C MO S 数字集成电 路4 0 0 0 系列电路空白详细规范 制订的， 并符 合G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件 分立器件和集成电路总 规范 及G B 1 2 7 5 0 + 半导体集成电路分规 范( 不包括混合电路) 的要求. 中华人民共和国机械电子工业部 1 9 9 1 - 0 4 - 0 8 批准 1 9 9 1 - 0 7 - 0 1 实施 一1 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质童的依据: G B 4 5 8 9 . 1 半导体器件分立器件和集成电 路总 规范 G B 1 2 7 5 0 半导体集成电路分规范( 不包括混合电 路 ) S J / T 1 0 0 4 0 - 9 1 C C 4 0 1 9型四2选 1 数据选择器详细规范 订货资料 见本规范第?章。 1 机械说明 外形依据: G B 7 0 9 2 半导体集成电路外形尺 寸 . 外形图 按G B 7 0 9 2 DP 圈 引出端排列: 一又夕一 _15 匡一习、 3D , 匡习 二 3D , 匡习 A , 2D , 匡习 4 Y 2 D , 区习 3Y ID , 区习 2Y 旧 . 匡 IY 、匡习 . 引出端符号名称见本规范第 1 1 . 1 条 标志: 按 G B 4 5 8 9 . 1 条第 2 . 5 条及本规范第 6 章。 2 简共说明 C MO S型数据选择器 半导体材料: 硅 封装: 空封、 非空封 逻辑图、 功能表见本规范第 1 1章. 品种: 理 注意: 静电徽感器件 O型5 . 3 及 5 . 3 . 1 J型5 . 4 及 5 . 4 . 1 P型5 5 及 5 . 5 . 1 从 -4 0 十 8 5 ( E) 一5 5 ro 十 1 2 5 1r ( M ) F型5 . 1 . 1 肉瓷直抽( D ) C C 4 0 1 9 E DCC 4 0 1 9 M D 黑瓷直抽( J ) C C 4 0 1 9 E JC C 4 0 1 9 MJ D 塑料直擂( P ) C C 4 0 1 9 E P 多层陶瓷扁平( F ) C C 4 0 1 9 E FC C 4 0 1 9 M F 3 质t评定类别 1， ，A. 11B. 11 C 一2 一 S I / e 1 0 0 4 0 -9 1 4 极限值( 绝对.大额定值) 若无其他规定， 适用于全工作温度范围。 基准电压为V . 。 条 款 号参数 符号 数值 单位 最小最大 4 . 1 电源电压V - 0 . 51 8V 4 . 2输入电压Vl- 0 5V m +O . 5V 4 3输入电流 ( i d 1 0. A 4 . 4 工作环境温度范围 M T - 一 5 51 2 5 - 408 5E 4 . 5 贮存温度范围T s t g 一 6 51 5 0 4. 6 每个封装的功耗曰P n5 0 0m W 注: ” P型封装在 6 0 以上， D , J , F型封装在1 0 0 以上时， P D 按 1 2 .W/ C 线性降翻. 5 推荐工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第 8 章。 51 推荐工作条件 若无其他规定， 适用于全工作温度范围. 基准电压为V -。 条 款 号参数符号 数值 单位 最小最大 5 . 几 1 电浑 电压 V加31 5V 5 . 2 电特性 基准电压为V 。 一3 一 S J / T 1 0 0 4 0 - 9 1 续表 a s 7 / T 1 0 0 4 0 -9 1 续表 6 标志 器件上的标志示例: C C 4 0 1 9 MD斗一 一 型号 引出端识别标志 自 目 2 月 口 制造单位商标 质t评定类别 检脸批识别代码 若受器件尺寸限制， 允许 将“ 检验批识别代码” 、 “ 质 t评定类别” 标在器件背面。 了订货资料 8 .产品型号， b .详细规范的国家编号; c 质量评定类别; d .其他。 8 试验条件和检验要求 若无其他规定， 本章引用条款均为G B 4 5 8 9 . 1 的 条款。 抽样要求: 根据采用的质量评定类别， 按G B 1 2 7 5 。 第9 章的有关规定。 一5 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 A组检验的抽样要求 分组 AQ L ，类，类 I L A QL几AQL A 1I0 . 6 5l 0 . 6 5 人2I 0 . 1 I 0 . 1 A3I 0. 1 5 I0 . 1 5 M aS 41 . 0S41 . 0 A3 bS 41 . 0S41 . 0 A4S 41 . 0S 41 . 0 B组、 C组和D组检验的抽样耍求 分组 LTPD x 类 . 类 ABC B 11 51 51 51 5 C12 02 02 02 0 C2 b ( 1 ) C 2 b ( 2 )1 5 、1 5 1 51 5 B 31 51 51 51 5 B4 C 41 01 01 01 0 B5 C 5 1 01 01 01 0 C 6 2 02 02 02 0 C 7 1 51 51 51 5 B8 C81 057 1 0 C91 557 1 5 C l l 2 02 02 02 0 B2 12 0 1 01 01 5 C2 32 01 01 52 0 C 2 4 2 01 01 52 0 D81 0571 0 一6 一 s J / T 1 0 0 4 0 -9 1 A组 逐批 全部试验均为非破坏性的( 3 . 6 . 6 ) 检验或试验引用标准 条件 若无其他规定, T . . b =2 5 C 检验要求 规 范 值 A l分组 外部目检4 . 2 . 1 . 1 4 . 2 . 1 . 1 厂 标志清晰， 表面 无扭伤和气孔 A 2分组 2 5 下的功能验证按本规范5 . 22 . 5 _ 2 . 3 和 1 1 . 2 按本规范 5 . 2 . 2 . 5 . 2 . 3 和 1 1 . 2 A 3 分组 2 5 下的静态特性 GB 3 8 3 4 半导体集成电路 C MOs电路测试 方法的荃本原理 按本规范5 . 2 . 1 至5 . 2 . 9 和 1 0 . 1 按本规范 5 . 2 . 1 至 5 . 2 . 9 A 3 a 分组， ， 最高工作盆度 下的静态特性 CB 38 3 4 T . m b 按本规范4 . 4 条件: 同A3 分组同A 3分组 A3 b分组， ， 最低工作谧度 下的 静态特 性 G B 3 8 3 4 T . . b 按本规范4 . 4 条件: 同A3 分组 同A3 分组 A 4分组 2 5 下的动态特性 GB 3 8 3 4 按本规范 52 . n， 5 . 2 . 1 2 和 1 0 . 2 按本规范 5 . Zn和 5 . 2 . 1 2 注:1 )允许相关mf. B组 逐批 标有( D ) 的试验为破坏性的( 3 . 6 . 6 ) 检脸或试验引用标准 条件 若无其他规定T . o .b =2 5 *C 检验要求 规 范 值 B 7 分组 尺寸42 . 2 及附录 B 按本规范第1章 B 3 分组 引线强度 弯曲( D) 拉力( D ) G B 4 5 9 0 半导体集 成电路机械和气候 试脸方法D: 2 条 GB 4 5 9 0 . 2 . 1 外加力的值按 2 . 2 表 2 外加力的值按 2 . 1 表 1 无损伤 B 4分组 可焊性GB 4 5 9 0 . 2 . 5 按方法b ( 柑焊法) 怪润良好 7 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 续表 检脸或试验引用标准 条件 若无其他规定T , m b =2 5 检验要求 规 范 值 B 5 分组 温度快速交化: a )空封器件 沮度快速变化 随后进行: 电侧t 密封: 细位漏 粗检偏 b )非空封及环权 封空封器件 沮度快速变化 随后进行 外部目检 称态湿热 电侧t ( 同A2 和A3 分组) GB 4 5 9 0 , 3 . 1 CB 4 5 9 0 , 3 . 1 1 或 3 . 1 2 GB 4 5 9 0 , 3 . 1 3 GB 4 59 0, 3 . 1 4 . 2 . 1 . 1 G B 4 5 9 0 , 3 . 7 T , = - 6 5 C , T e = 1 5 0 r 循环次数: 1 0 同A2 和 A 3分组 按规定 按规定 T 二 一 6 5 C , T. 二 1 5 0 0 循环次数: 1 0 严格度 A : ( 8 5 C , 8 5 肠R . H) 2 4 h 同A 2和A3 分组 同A2和A3 分组 同A2 和A3 分组 B 8分组 电耐久性 ( 1 6 8 h ) 最后侧f ( 同A 2 , A3 和 A 4分组) GB 1 2 7 5 , 1 2 . 3 退度按本规范4 . 4最大值， 其他按本规范1 0 . 3 同A2 , A3 和A4 分组同A2 , A3 和 A 4分组 B 2 1分组 高压燕汽( D) ( 非空封器件) 最 后侧t ( 同A 2和A3 分组) G B 4 5 9 0 , 4 . 5 严格度C. 2 4 h 同A2 和A3分组同A2 和 A3 分组 C R R L分组 就B 3 , B 4 , B S , B 8 和B 2 1 提供计数检查结 果 C组周期 标有( D ) 的试验为破坏性的( 3 . 6 . 6 ) 检验或试脸 引用标准 条件 若无其他规定T . m b =2 5 C 检验要求 规 范 值 c 1分组 尺寸 C2 b 分组( 1 ) 最高和最低工作很度 下的功能验证 4 . 2 . 2及附录B GB 3 8 3 4 同A2 分组 按本规范第1章 同A2 分组 一8 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 续表 检验或试验引用标准 条件 若无其他规定T , m b = 2 5 C 检验要求 规 范 值 C 2 b分组( 2 ) 最高和最低工作温度 下的动态特性 GB 3 8 3 4 按本规范5 . 2 . 1 1 , 5 . 2 . 1 2 和 1 0 . 2 小于1 . 5 U S L “ C 4 分组 耐焊接热( D) 最后侧t ( 同 A 2和A3 分组) G B 4 5 9 0 , 2 . 6 按方法 1 同A2 和 人 3分组同A 2和A3 分组 C 5分组. ， 温度快速变化( D) ( 非空封及环氧封 空封器件) 随后进行: 外部目检 稳态湿热 电测 t ( 同 A 2和A3 分组) ( ; B 4 5 9 0, 3 . 1 4 . 2 . 1 . 1 G B 4 5 9 0 , 3 . 7 T A 二一“C , T . =1 5 0 0 循环次数; 5 0 0 严格度A( 8 5 C, 8 5 纬R. H) 2 4 h 同A2 和 A 3分组同A2 和 A3 分组 C 6 分组1 1 稳态加速度( D) ( 空封器件) 最 后 测 t ( 同A2和A3 分组) G B 4 5 9 0 , 2 . 1 0 加速度， 1 9 6 0 0 0 m/ s 同A2 和 A 3分组同A2 和 A3 分组 C 7 分 组 稳态湿热( D) a )空封器件幻 b )非空封及环氧 封空封器件 最 后 测 t : ( 同A2和A3 分组) G B 4 5 9 0 , 3 . 6 GB 4 5 9 0 , 3 . 7 严格度D: 5 6 d 严格度A: ( 8 5 ,0, 8 5 %R. H) 时间: 3 0 0 0 6 同A2 和 A 3分组 同A 2和A3 分组 C 8 分组 电耐久性( 1 0 0 0 6 ) 最后测t ( 同A2 , A3 和A4 分组) CB 1 2 7 5 0 . 1 2 . 3同B 8 分组 同A2 , A 3和A4 分组同A2 , A3 和A4 分组 C 9 分 组 商温贮存( D) 最后侧盆 ( 同A2 , A3 和A4 分组) GB 4 5 9 0 . 3 . 3 l o o o h 严格度C, 1 5 0 C 同A2 , A3 和A4 分组同A2 , A3 和A4 分组 一9 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 续表 检验或试验引 用 标 准 条件 若无其他规定T . . t = 2 5 C 检验要求 规 范 值 C 1 1 分 组 标 志 耐 久 性( ; B 4 59 0, 4. 3 按方法1 : 溶液 A型按GB 4 5 9 0 , 4 . 3 . 2 C2 3 分 组 抗溶性( D) 非空封器件) G B 4 5 9 0 , 4 . 4 按 G B 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2按GB 4 5 9 0 , 4 . 4 . 2 C 2 4分组 易燃性( D ( 非空封器件) G B 4 5 9 0 , 4 . 1 按 G B 4 5 9 0 , 4 . 1 . 2按 G B 4 5 9 0 . 4 . 1 . 2 C R RL分 组 就C 4 , C5 , C 6 , C 7 , C 8 , C9 , C1 1 , C 2 3和C 2 4 提供计数检查结果. 注:1 ) US L表示 A组规范值的最大值. 2 ) 连续三次通过后. 周期可放宽为一年一次. g D组 D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行， 其后每年进行一次。 检 验 或 试 验引 用 标 准 条件 检脸要求 规 范 值 D 8 分 组 电耐久性( D ) 最 后 测 量 : ( 同A2 , A3 和A4 分组) GB 1 2 7 5 0 , 1 2 . 3 e类: 2 0 0 0 1 , .类 3 0 0 0 1 其它同B 8 分组 同A2 , A 3和A4 分组同A2 , A3 和A4 分组 附加 资料 静 态特性 的测 量 n曰nU 月月JI 符号 侧试方法 G B 3 8 3 4 1 。 。 一 所 有 输 入 端 分 别 同 时 接 v 二 和 V a Vo 1 一 输 人 端 按 功 能 表 接 V n 或 v ， V o ” 一2 . 7一 输 入 端 按 功 能 表 接 V 2 或 V w V 1l 2 . :一 非 被 测 输 入 端 分 别 同 时 接V u 或 V x x VIIt2 . 1 非被测翰入端分别同时接 V s s 或V x x l o , .2 . 1 2 输 入 端 按 功 能 表 接 V a 或 v ， I -2 . 1 1 输 入 端 按 功 能 表 接 v 二 或 V w I2 . 1 0 I ,x 一 1 0 . 2 动态特性的测量 一1 0 一 S J / T 1 0 0 4 0 -9 1 1 0 . 2 .基本测试线路 C , 侧试方法G B 3 8 3 4 非被测输入端按功能表接V S s 或V- 负载线路 输人端 R , n C , V n 1 0 . 3电耐久性试验线路 C , , 包括探头及夹具的电容 凡。 一I N1 1 2 叽 。 f - 5 0 七 日 V r -1 3 V 1 0 . 4 特性曲线 制造厂应提供各种电特性曲线， 如典型的输出电流， 功耗曲线及典型的传输延迟时间随负 载电容的变化曲线。 1 1 型号说明 1 1 . 1 逻辑符号和逻辑图 s ,J / T 1 0 0 4 0 -9 1 a . 逻辑符号 A o ( 9 ) AI ( 1 4 ) 引出端符号名称 A o -A , 选择输入 D D, 教据输入 Y 数据翰出 b . 逻辑 图 A , .