射线探伤作业指导书.doc

1范围 1.1该程序用于根据ASME规范设计和生产的锅炉和动力管道中对接焊缝X射线和射线的检验。其透照厚度范围为2-175 mm。1.2该程序符合ASME规范V卷和I卷ASME B31.1的要求。2无损检验人员资格 2.1RT人员应按无损检验人员认证控制程序作资格认证。评定应由至少级资格人员评定。 2.2 所有无损检验人员应按ASME规范和本程序执行检验。3设备、工具和材料 3.1放射源和使用钢材厚度 放射源和使用钢材厚度如表1所示表1 放射源和使用钢材厚度放射源使用钢材厚度(in)110-250 kv X-rays=50mmIr19219-753.2 胶片 射线照相应使用工业射像胶片制成。暗带中允许放置两个或多个相同或不同感光速度的胶片。应使用工业射线胶片加工质量控制标准SE-999作为胶片加工的指导。3.3 增感屏表2显示可以使用铅(Pb)箔厚度 表2 放射源和增感屏放射源增感屏厚度 (in)前后110-250 kv X-rays0.0010.004Ir 1920.010.013.4 黑度计胶片黑度计应由黑度计测量。黑度计在使用期间至少90天应如下校准:3.4.1应使用由国家标准阶梯片式阶梯楔形校准片，应至少有5个1.0-4.0的中等阶梯黑度。阶梯楔形校准片应当在最后一年内通过与国家标准阶梯黑度比较片进行比较来验证。3.4.2 应按黑度计生产商的每一步指导操作黑度计。3.4.3 应读出在国家标准阶梯黑度比较片或阶梯楔形校准胶片上接近1.0, 2.0, 3.0和 4.0 的黑度等级。3.4.4 黑度计读数与国家标准阶梯黑度比较片或阶梯楔形校准胶片上标出的实际黑度相差不超过0.05黑度单位的黑度计为合格黑度计。 3.4.5 NDE级人员应执行校准并填写黑度计校准记录（附页B）。记录应由NDE级审核。 3.5 象质计的设计和挑选ASME 标准的象质计应由表3的孔型和表4的线型组成。指定的具有基础孔型的象质计孔型或指定的线型直径应见表5。表5 象质计的选用透度计射线源一侧底片一侧单壁材料的标称厚度范围in. 孔型透度计编号基本孔线径 in.孔型透度计编号基本孔线径 in.0.25, incl.122T0.008102T0.0060.25 0.375152T0.010122T0.0080.375 0.50172T0.013152T0.0100.50 0.75202T0.016172T0.0130.75 1.00252T0.020202T0.0161.00 1.50302T0.025252T0.0201.50 2.00352T0.032302T0.0252.00 2.50402T0.040352T0.032 2.50 4.00502T0.050402T0.0404.00 6.00602T0.063502T0.050 6.00 8.00802T0.100602T0.0638.00 10.001002T0.126802T0.10010.00 12.001202T0.1601002T0.12612.00 16.001602T0.2501202T0.160 16.00 20.002002T0.3201602T0.2503.5.1 加固焊接 象质计所基于厚度是额定单壁厚度加上加固焊接的估计值，该估计值不超过参考规部分的最大允许范围。象质计的挑选不考虑背环和条带的厚度。不要求加固焊接的实际测量。表 3 孔型IQI编号，厚度和孔型IQI 编号IQI厚度1T 孔直径2T 孔直径4T 孔直径50.0050.0100.0200.04070.00750.0100.0200.040100.0100.0100.0200.040120.01250.0120.0250.050150.0150.0150.0300.060170.01750.01750.0350.070200.0200.0200.0400.080250.0250.0250.0500.100300.0300.0300.0600.120350.0350.0350.0700.140400.0400.0400.0800.160450.0450.0450.0900.180500.0500.0500.1000.200600.0600.0600.1200.240700.0700.0700.1400.280800.0800.0800.1600.3201000.1000.1000.2000.4001200.1200.1200.2400.4801400.1400.1400.2800.5601600.1600.1600.3200.6402000.2000.2000.400-2400.2400.2400.480-2800.2800.2800.560-表4 线型IQI编号，线径和线标记仪器A仪器 B线径, in. 线标记线径, in. 线标记0.00320.0040.0050.00630.008 0.010123456 0.010 0.013 0.016 0.020 0.025 0.03267891011仪器 C仪器 D线径, in.线标记线径, in. 线标记 0.032 0.040 0.050 0.063 0.080 0.100111213141516 0.100 0.126 0.160 0.200 0.250 0.3201617182920213.5.2 无加固焊接 象质计所基于的厚度是额定单壁厚度。象质计的挑选不考虑背环和条带的厚度。3.6 IQI孔下的垫片 射线照相上类似于焊接金属的垫片应放置在象质计和工件之间。这样通过被检区域的射线强度不会低于通过象质计的射线强度。垫片的尺寸应超过象质计的尺寸，这样象质计图象的至少3面轮廓可以在射线照片上看到。3.7 背散射的检查为了校核背散射，在爆光时将一个高度1/2in.和厚度1/16in.的铅字“B”贴到每个胶片暗盒的背面。 3.8 识别系统放射照片应显示位置标记，工作令号，焊口号，胶片号，生产商标记和胶片侧面的象质计，射线照相日期，返修次数，象质计图象，材料厚度。在任何情况下，这些标记都不能遮蔽被检的区域。3.9观片灯和观看条件观片灯所提供的光照强度必须能够照射出射线照片的平均黑度，并且无闪光而均匀地散播在所视区域内。观看条件要求来自射线照片边缘和低黑度部位的光不致于影响对射线照相的结果作出正确解释。 1. 检验程序 4.1 透照表面校核在开始放射照相检验之前，检验员应对透照表面进行检查，满足以下条件:4.1.1 材料材料表面应满足所用到的各种材料标准的有关规定，如有必要，可用任何适当方法进行额外的加工，表面不规则程度不会遮盖缺陷或与任何缺陷相混淆。4.1.2 焊接 内部（可达到的）和外部的焊接波纹或焊接表面应通过适当的加工去除，以使由于不规则表面而形成的射相图象不会遮蔽或与任何缺陷相混淆。4.1.3表面修饰所有对接焊接头的精制表面可以与母材齐平或有适当的突起。加固焊接不超过第I卷，PW-35和B31.1表127.4.2的要求。4.2射线照相技术单壁透照技术广泛应用射线照相。当不适用单壁技术时，应使用双壁技术。应使用足够数量的爆光次数以显示达到要求的覆盖。4.2.1单壁技术在单壁技术中放射线只通过焊接的单壁以观察在射线照片上的成像。4.2.2双壁技术当不适用单壁技术时，应使用以下双壁技术之一。4.2.2.1 单壁成像 可采用一种射线通过铸件的双层壁，仅胶片侧的铸件在照片上成像的方法。环焊接要求全部覆盖时，至少得每隔120度分别作3次爆光。4.2.2.2双壁成像 对外径小于或等于3 1/2 in 的铸件可采用使射线通过双层壁，焊接的两层壁在同一张照片上成像的方法。对双成像方法，象质计只能放在源侧。如因几何不清晰度达不到要求，应采用单壁成像方法。对焊缝，射线束可与焊缝中心平面倾斜一个足够的角度，以便把射线侧焊缝和胶片侧焊缝在底片上的影像分开。这样，就不会出现评定区域的重叠。当要求全部覆盖时，每一个焊接头至少得有2次互成90度的分别爆光。另一种方法， 是将射线束处于使两壁的影像互相重叠的位置上，使用这种方法， 每一个焊接接头至少得有3次互成60或120度的分别爆光。5.射线照像准备5.1位置标记位置标记应放在工件上，而不能放在爆光暗盒上。在许可时标记的位置应当标在被透照的零件表面上，或标在一张图上。位置标记的放置见ASME规范第卷图T-275。5.2像质计的放置应将象质计放在射源的受检部位上。如无法将像质计放到射源的受检部位上， 则可将像质计放到胶片侧的受检部位。此时，在象质计附近或其上面，至少增放一个大小与象质计识别号一样的铅字母“F”但这个铅字母“F”的影像不得遮盖象质计上必须显示的孔。5.3 象质计的数量用一个或几个暗盒作一次爆光，则每张射线底片上至少应有一个象质计显示。5.3.1 多个象质计在满足6.2.2条的前提下,同一张底片上允许使用一个以上的象质计, 则其中应有一个象质计处于受检区域中最淡的部位,而另一个处于受检区域中最黑的部位, 这样, 介于两者之间的就是允许的。5.3.2对于环缝, 整圆周作单壁一次爆光，至少应放3个象质计，放置间隔为120度。对于其它情况，请参见ASME 规范V卷。6 射线照片的质量6.1所有的射线照片，都不应当有机械，化学或其它的污损。以避免对被照工件的受检区域产生遮蔽或混淆任何影像。所谓污损，包括下列各种，但不限于这些：6.1.1灰雾6.1.2处理时产生的缺陷，如条纹，水迹，或化学污斑；6.1.3划痕，指纹，褶皱，脏物，静电痕迹，黑点或撕裂；6.1.4 由于感光屏不好，影响了缺陷显示；6.2胶片黑度6.2.1黑度范围通过相应孔型象质计本体或象质计相应编号线的邻近区域及受检区域的透照黑度在表7的规定范围内。表7 黑度范围射源单片观察迭合观察最大值最小值单片观察，最小值单片或迭合观察，最大值X-ray1.84.01.34.0r-ray2.04.01.34.06.2.2黑度变化如果孔型象质计的本体黑度或线状象质计的规定线邻近区域的黑度在表7规定的最大/最小允许范围内，被检区的任一处黑度变化与它们相比超出的负15%或正30%时，则在每个超差区域或几个超差区域应加一个象质计并重新拍片。当使用垫片时，倘若象质计的灵敏度能得到显示，也没有超出表7的黑度范围，则允许不受上述+30%的超差限制。6.3 象质计灵敏度射线照相采用的技术应当有足够的灵敏度能显示孔型象质计影像及2T孔或线状象质计的编号线。射线照相中还应当显示出识别标志和字母。在多片照相中，如果所需的显示孔型象质计及2T孔或编号线没能在单张片子上显示出来而在迭片中确实是显示出来了，则只应按迭片观察的结果作出解释。6.4几何不清晰度6.4.1射线照片的几何不清晰度不应超过表8的范围值表8 几何不清晰度范围材料厚度inUg的最大值in3-40.04040.0706.4.2射线的几何不清晰度由下式决定： Ug=Fd/D式中：Ug=几何不清晰度F=射线尺寸，in它是射线源至被照透焊缝或工件的距离D垂直平面上的最大投影尺寸；D=射线源到被透照焊缝或其它工件的距离，in。d=被照透焊缝或工件的射线源一侧至胶片的距离，in6.5过量背散射如果“B”的淡色影像出现在背景较黑的射线照片上，即表示背散射的防护不够充分，该射线照片应认为是不合适的。如有“B”的黑影像出现在较淡的背景上，则不得作为照片质量不合格的原因。6.6 所有的识别记号不应遮蔽受检区。7. 文件7.1 射线照相检验详细资料随每组射线照片同时提供所采用的射线检验技术的详细内容。提供的资料至少包括：(1)如适用，工作令号和炉号(2)胶片位置和射像草图(3)爆光次数(4)所用的同位素或X射线的最大电压(5)有效的焦距尺寸(6)材料型号和厚度范围(7)胶片牌号和名称，每个暗盒中的胶片张数(8)X光射线照相方法(9)每个胶片暗盒中的胶片数(10)单壁或双壁透照(11)单壁或双壁成像(12)射源至本体最小距离(13)源侧本体至胶片最大距离7.2评定结果返修情况7.3 RT报告由无损检验级人员填写，有无损检验级人员审核。7.4 所有的射线照片和相关记录应保存5年或5年以上。7.5 RT报告，包括射线照片应可提供AI审核。8记录8.1射线探伤报告 JL-8.2-14-18.2射线探伤记录 JL-8.