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文档简介

查询方式A/D转换器接口实验(ADC0809)一、实验目的学习查询方式A/D转换器接口电路及数据采集程序设计原理与方法。二、实验内容基本实验 从ADC0809的7号通道，以查询方式采集一批数据，并在屏幕上显示。按ESC键，停止采集，程序退出。三、实验要求采用MFID实验平台的并行接口模块控制ADA模块进行数据采集。并进行程序的设计、调试，直至获得正确的结果。四、实验原理1A/D转换器模块电路原理如图2.1.23所示。接口对象ADC0809，以及8个被采集的模拟量信号AD输入通道跳接开关。图2.1.23 查询A/D接口电路2A/D转换器接口设计原理与方法的详细阐述，参考相关计算机接口技术参考书。五、实验步骤：步骤一：硬件连线跳线设置：L区JP6跳接模块电源O区JP10跳接0通道选择O区JP12跳接1-21-2 查询方式传送数据2-3 中断方式传送数据以查询方式单线连线方法：O区F区D0D7PA0PA7EOCOEALESTARTPC4PC2PC1PC0排线连接方法：用26芯扁平线连接J5和J6。步骤二：将平台的电源开关拔到“内”的位置上。在配套集成环境下进行硬件检测,达到初始化芯片的目的。步骤三：（示实验步骤）打开集成环境在“演示实验”菜单下点开“基本接口实验”。在“基本接口实验”中的“A/D、D/A转换实验”中选择“A/D数据采集（查询方式）”实验进行演示。步骤四：（学生实验步骤）打开集成环境在“文件”菜单下学生可以选择新建自己的C+/ASM文件或者集成环境自带的C+/ASM参考程序进行调试、运行。步骤五：观看实验现象得出结论。系统资源分配本平台系统提供的I/O地址范围是300H3FFH，目前已使用的I/O地址有：8255A：300H303H8253A：304H307H8251A：308H30BHDAC0832：30FH8237A：主片00FH；从片0C0H0DEH8259A：主片20H,21H；从片0A0H,0A1H在此区有一个TP1测试点，可以对译码信号进行检测。本平台为用户提供了两个中断识别源分别为：IRQ2和IRQ10，当用户需要进行中断实验时，可以任意用单线连接，进行中断申请。跳线开关说明跳线开关所在区功能JP1G（1-2）远距离通信 （2-3）近距离通信JP2G（1-2）RS485方式 （2-3）RS232方式JP3G（RXD-TXD）表示自发自收 （空）表示双机通信JP4G（跳接）收发时钟连到8253的OUT2作为波特率发生，（空）由用户自己连接收发时钟JP5L（跳接）接通芯片6264电源（空）断开6264芯片电源JP6L（跳接）接通芯片DAC0809电源 （空）断开芯片DAC0809电源JP7L（跳接）Q区74LS08芯片、M区74LS245芯片电源JP8L（跳接）P区74LS373芯片、R区74LS04芯片、M区74LS06芯片、N区拨码开关、T区4044芯片电源JP9L放置跳接子JP10O模拟量通道选择JP
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