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目视和光学检测 （VT）第十章 目视和光学检测 （VT）VT-1对大多数人来说，可见光的典型光谱范围是：（）A、300800 nmB、380770 nmC、400800 nmD、250920 nmVT-2眼睛的哪一部分起着与照相机照相平面一样的作用？（）A、视神经B、虹膜C、角膜D、视网膜VT-3什么情况下，表面有漫反射？（）A、发现光源反射模糊时B、可看到光源有完好反射时C、看不到光源有反射时D、以上均非VT-4人眼在距离约310mm（12in）时的分辨率为：（）A、0.03 mm (0.001in)B、0.08 mm (0.003in)C、0.3mm (0.010in)D、 1.3 mm (0.050in)VT-5日常目视检验，眼睛的观察距离为：（）A、1501520mmB、250mmC、310600mmD、600mmVT-6眼睛相对于被检表面垂线的视角应：（）A、70B、45C、5D、不必考虑VT-7为检出焊缝中的裂纹，推荐的最低照明条件是：（）A、100 LxB、200 LxC、500LxD、2000LxVT-8眼睛对暗环境的适应状态称为：（）A、亮视觉B、立体视觉C、微光视觉D、天然色视觉VT-9人眼视觉的光谱范围是：（）A、静态的B、取决于照明条件C、波长短于400 nm时最大D、波长大于750 nm时最大VT-10IES是指：（）A、国际眼睛学会B、工程科学研究所C、照明和视力学会D、照明工程学会VT-11什么情况下，眼睛功能无异于盲人？（）A、黎明黄昏视觉状态B、眼睛在两观察点间移动时C、眼中有泪时D、以上均非VT-12观察表面状态时，照明角应：（）A、对法线偏斜545B、对法线偏斜2060C、对工件表面偏斜2045D、归工件表面偏斜545VT-13何谓荧光？（）A、在暗中发出的光B、吸收外来干涉辐射后所发出的不同波长的光C、吸收外来干涉辐射后所发出的相同波长的光D、受核轰击后所发射的光VT-14VT的有效性相关于什么因素？（）A、对缺陷成因的熟悉程度B、对工件使用情况的熟悉程度C、欲清洗及环境因素（温度、噪声等）D、以上均是VT-15检验飞机蒙皮时发现的枕形畸变通常是由什么造成的？（）A、将蒙皮附在骨架上的紧固件未对准B、蒙皮下腐蚀物扩展C、蒙皮长时受拉伸超过屈服点D、机身在作急转弯等动作时产生扭曲VT-16怎样在一对长形荧光灯下检验挤压加工件的严重轧痕？（）A、最好使轧痕方向与荧光灯管平行B、最好使轧痕方向与灯管垂直C、轧痕方向不受两灯管漫射光的影响D、用荧光灯照明未必能发现这种缺陷VT-17用什么方法可在现场发现高温、高压管材的蠕变失效？（）A、远红外扫描技术B、用管道内窥镜在管内进行扫描C、荧光渗透检漏D、放大的外形拷贝VT-18用什么方法可观察碳钢焊缝热影响区？A、酸洗法增强微观结构可见性B、高频超声显微观察法C、着色对比渗透液D、温敏标记阵列VT-19用光干涉图的检验方法有：（）A、全息照相、光学照相和光学显微镜法B、剪应力照相、望远镜法和衍射成象C、纹影照相、莫尔条纹成象和光学显微镜法D、莫尔条纹成象、全息照相和干涉测量法无损检测试题5.1 钢板缺陷的主要分布方向是：()A.平行于或基本平行于钢板表面 B.垂直于钢板表面C.分布方向无倾向性 D.以上都可能5.2 钢板超声波探伤主要应采用：()A.纵波直探头 B.表面波探头C.横波直探头 D.聚焦探头5.3 下面关于钢板探伤的叙述，哪一条是正确的：()A.若出现缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B.无底波时，说明钢板无缺陷C.钢板中不允许存在的缺陷尺寸应采用当量法测定D.钢板探伤应尽量采用低频率5.4 钢板厚为30mm，用水浸法探伤，当水层厚度为15mm时，则第三次底面回波显示于()A.二次界面回波之前 B.二次界面回波之后C.一次界面回波之前 D.不一定5.5 复合材料探伤，由于两介质声阻抗不同，在界面处有回波出现，为了检第五章 一、是非题5.1 钢板探伤时，通常只根据缺陷波情况判定缺陷。 ()5.2 当钢板中缺陷大于声束截面时，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出现“叠加效应”。 ()5.3 厚钢板探伤中，若出现缺陷的多次反射波，说明缺陷的尺寸一定较大。 ()5.4 较薄钢板采用底波多次法探伤时，如出现“叠加效应”，说明钢板中缺陷尺寸一定很大。 ()5.5 复合钢板探伤时，可从母材一侧探伤，也可从复合材料一侧探伤。 ()5.6 直探头置于非重皮侧的钢板表面检测，容易发现钢板中的重皮缺陷。 ()5.7 小径管的主要缺陷是平行于管轴的径向缺陷，一般利用横波进行轴向扫查探测。()5.8 小径管水浸聚焦法探伤时，应使探头的焦点落在与声束轴线垂直的管心线上。()5.9 钢管作手工接触法周向探伤时，应从顺、逆时针两个方向各探伤一次。 ()5.10 钢管水浸探伤时，水中加入适量活性剂是为了调节水的声阻抗，改善透声性。()5.11 钢管水浸探伤时，如钢管中无缺陷，荧光屏上只有始波和界面波。 ()5.12 检测厚钢板中的小缺陷时，不会出现“叠加效应”。 ()是非题答案5.1 5.2 5.3 5.4 5.5 5.6 5.7 5.8 5.9 5.10 5.11 5.12 4.1 何谓耦合剂?简述影响耦合的因素有哪些?4.2 什么叫探伤灵敏度?常用的调节探伤灵敏度的方法有几种?4.3 何谓缺陷定量?简述缺陷定量方法有几种?4.4 什么是当量尺寸?缺陷的当量定量法有几种?4.5 什么是缺陷的指示长度?测定缺陷指示长度的方法分为哪两大类?4.6 超声波探伤的分辨力与哪些因素有关?4.7 怎样选择超声波探伤的频率?4.8 超声波探伤时，缺陷状况对回波高度有哪些影响?4.9 怎样选择超声波探伤的探头?4.10 试比较横波探伤几种缺陷长度测定方法的特点。4.11 分析缺陷性质的基本原则是什么?4.12 什么是迟到波?迟到波是怎样产生的?迟到波有何特点?4.13 什么是三角反射波?三角反射波有何特点?4.14 超声波探伤中常见非缺陷信号回波有哪几种?如何鉴别缺陷回波和非缺陷回波?问答题参考答案4.1答：在探头与工件表面之间施加的一层透声介质，称为耦合剂。影响声耦合的主要因素有：（1）耦合层厚度：厚度为/4的奇数倍时，透声效果差。厚度为/2的整数倍或很薄时，透声效果好,反射回波高。（2）表面粗糙度：一般要求工件表面粗糙度不大于6.3m。表面粗糙耦合效果差，表面光洁耦合效果好。（3）耦合剂声阻抗：对于同一探测面,耦合剂声阻抗大，耦合效果好。（4）工件表面形状：平面耦合效果最好，凸曲面次之, 凹曲面最差。不同曲率半径耦合效果也不相同，曲率半径大，耦合效果好。4.2答：探伤灵敏度是指在确定的探测范围的最大声程处发现规定大小缺陷的能力。有时也称为起始灵敏度或评定灵敏度。通常以标准反射体的当量尺寸表示。实际探伤中，常常将灵敏度适当提高，后者则称为搜索灵敏度或扫查灵敏度。调节探伤灵敏度常用的方法有试块调节法和工件底波调节法。试块调节法包括以试块上人工标准反射体调节和以试块底波调节两种方式。工件底波调节法包括计算法、AVG曲线法、底面回波高度法等多种方式。4.3答：超声波探伤中，确定工件中缺陷的大小和数量，称为缺陷定量。缺陷的大小包括缺陷的面积和长度。缺陷的定量方法很多，常用的有当量法、底波高度法和测长法。4.4答：将工件中自然缺陷的回波与同声程的某种标准反射体的回波进行比较，两者的回波等高时，标准反射体的尺寸就是该自然缺陷的当量尺寸。当量仅表示反射体对声波的反射能力相当，并非尺寸相等。当量法包括：（1）当量试块比较法：将工件中的自然缺陷回波与试块上人工缺陷回波作比较对缺陷定量的方法。（2）当量计算法：利用规则反射体的理论回波声压公式进行计算来确定缺陷当量尺寸的定量方法。（3）当量AVG曲线法：利用通用AVG曲线或实用AVG曲线确定缺陷当量尺寸的方法。4.5答：按规定的灵敏度基准，根据探头移动距离测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。测定缺陷指示长度的方法分为相对灵敏度法、绝对灵敏度法和端点峰值法。（1）相对灵敏度法：是以缺陷最高回波为相对基准，沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅降低一定的dB值的探头位置作为缺陷边界来测定缺陷长度的方法。（2）绝对灵敏度法：是沿缺陷长度方向移动探头，以缺陷波幅降到规定的测长灵敏度的探头位置作为缺陷边界来测定长度的方法。（3）端点峰值法：是缺陷反射波峰起伏变化,有多个高点时,以缺陷两端反射波极大值处的探头位置作为缺陷边界来测定长度的方法。4.6答：超声波探伤分辨力可分为近场分辨力(盲区)、远场分辨力、纵向分辨力、横向分辨力。近场分辨力主要取决于始脉冲占宽和仪器阻塞效应。纵向分辨力主要取决于脉冲宽度及探测灵敏度。横向分辨力主要取决于声束扩散角、探测灵敏度、测试方法等。4.7答：超声频率在很大程度上决定了超声波探伤的检测能力。频率高、波长短、声束窄、扩散角小，能量集中，因而发现小缺陷的能力强，分辨力高，缺陷定位准确；但缺点是在材料中衰减大，穿透能力差，对细晶粒材料，如锻件、焊缝等，常用频率为2.55MHz，只有在对很薄工件探伤，并对小缺陷检出要求很高时，才使用10MHz频率。对粗晶材料，为减少晶界反射，避免林状回波，增大穿透能力，常使用低频。另外，当试件表面粗糙度较大时，选择低频有助减少耦合时的侧向散射。一般对铸钢、奥氏体不锈钢焊缝，可采用0.51MHZ的频率，对铸铁、非金属材料，甚至使用几十千Hz的低频。4.8答：缺陷回波高度受缺陷的形状、方位、大小、性质等因素的影响。（1）形状的影响：工作中实际缺陷的形状是各种各样的，通常可简化为圆片形、球形、圆柱形三种，回波高度H是缺陷直径()、缺陷到声源的距离x、波长的函数；（2）方位的影响：声波垂直入射到缺陷表面时，反射波最高，当声束与缺陷表面不垂直时，回波随倾角的增大而急剧下降。例如，对光滑反射面，倾角2.5时，波高降至垂直入射的1/10；倾角为12时，波高降为1/1000缺陷已不能检出。（3）表面粗糙度的影响：缺陷表面凹凸1/3时，可认为缺陷是光滑平面，当表面凹凸度1/3时，是粗糙平面；垂直入射时，声束被散乱反射，产生干涉，回波高度随粗糙度增大而下降；倾斜入射时，缺陷回波随粗糙度增大而增高；当凹凸度接近波长时，即使倾角较大，也能接受到一定高度的回波。（4）缺陷回波指向性的影响：当缺陷直径为波长的3倍时，反射波具有较好的指向性，随缺陷直径的减小，指向性变差。当缺陷直径小于1/2时，反射波能量呈球形分布，强度降低，此时垂直入射和倾斜入射的反射特性大致相同。当缺陷直径大于3时，可视为镜面反射，当入射倾角大时就不易接收到缺陷回波。（5）缺陷性质的影响：通常含气体的缺陷，如钢中的白点、气孔、裂纹、未焊透等，其界面声阻抗差很大，可近似认为声波全反射，回波高度大；而相同尺寸的含有非金属夹杂物的缺陷，界面声阻抗差异小，透过部分声能，反射回波相应降低。4.9答：超声波探头种类很多，性能各异，应根据检测对象，合理选择探头。（1）频率选择：对大厚工件、粗晶材料或探测表面粗糙的工件，应选择较低频率；对薄工件、细晶粒材料或对小缺陷检出要求高时，应选择较高频率。应注意的是：裂纹等面状缺陷，有显著的反射指向性，如果超声波不是近似于垂直入射，在探头方向上就不会产生足够大的回波，频率越高，这种现象越显著，所以应避免使用不必要的高频。一般来说，频率上限由衰减和草状回波信噪比决定，下限由检出灵敏度、脉冲宽度和指向性决定。（2）晶片尺寸选择：晶片尺寸大，发射能量大，扩散角小，远距离探测灵敏度高，适用于大型工件探伤；晶片尺寸小，近距离范围声束窄，有利于缺陷定位，对凹凸度大曲率半径小的工件，宜采用尺寸较小的探头。（3）探头角度选择：角度选择原则是，尽量使声束相对于缺陷垂直入射。钢板、锻件内缺陷多平行于表面，常选用直探头。焊缝中危险性缺陷多垂直于表面，常选用斜探头。（4）特殊探头选择：a.探测平行于探测面的近表面缺陷用双晶直探头。b.探测薄壁管焊缝根部缺陷用双晶斜探头。c.探测管材、棒材用水浸聚焦探头。d.探测薄板(6mm)用板波探头。e.用延时法检测表面裂纹深度用表面波探头。f.探测奥氏体不锈钢焊缝用纵波斜探头。g.探测角焊缝近表面缺陷和层状撕裂用爬波探头。h.为实现声能集中，有利于缺陷定位，用点聚焦或线聚焦探头。4.10答：横波探伤常用的测长方法有绝对灵敏度测长法和相对灵敏度测长法，后者包括6dB法、端点6dB法和20dB法等。应用范围和特点如下：（1）对小于声束横截面的缺陷，宜采用当量法定量，如采用测长法，所得结果一般比缺陷实际尺寸偏大。（2）对缺陷回波波高包络线只是一个极大值的缺陷，应采用6dB法定量。（3）对缺陷回波波高包络线有数个极大值的缺陷，可采用端点6dB法。（4）对条形气孔、未焊透等缺陷，6dB法和端点6dB法测得结果较为准确；对裂纹，未熔合等细长条状缺陷，6dB法和端点6dB法测得结果往往比实际尺寸偏小，此时可考虑采用绝对灵敏度法。（5）20dB法测量准确性与其他方法不相上下，但使用时需进行声场尺寸修正，比较麻烦。4.11答：缺陷定性在实际工作中常常是根据经验结合工件的加工工艺、缺陷特征、缺陷波形和底波情况来分析缺陷的性质。（1）根据加工工艺分析：工件中可形成的各种缺陷与加工工艺密切相关，在探伤前应查阅有关工件的图纸和资料，了解工件中的材料、结构特点、几何尺寸和加工工艺，这对于正确判定缺陷的性质是十分有益的。（2）根据缺陷特征分析：缺陷特征是指缺陷的形状、大小和密集程度。在不同方向上探测平面形、立体形、点状及密集形缺陷，其缺陷回波的高度及缺陷波的密集程度会发生不同的变化。（3）根据缺陷波形分析：缺陷波形分为静态和动态波形两大类，静态波形是指探头不动时缺陷波的高度、形状和密集程度。动态波形是指探头在探测面上的移动过程中，缺陷波的变化情况。（4）根据底波分析：工件内存在不同缺陷时，超声波被缺陷反射，使到达底面的声能减少，底波高度降低，甚至消失，不同性质的缺陷，反射面不同，底波高度也不一样，因此在某些情况下，可以利用底波情况来分析缺陷的性质。4.12答：当纵波直探头置于细长(或扁长)工件或试块上时，扩散纵波波束在侧壁产生波型转换，转换为横波，此横波在另一侧又转换为纵波，最后经底面反射回到探头，被探头接收，从而在示波屏上出现一个回波，由于转换横波声程长、波速小、传播时间较直接从底面反射的纵波长，因此转换后的波总出现在第一次底波B1之后，故称为迟到波，又由于变型横波可能在两侧壁产生多次反射，每反射一次就会出现一个迟到波，因此迟到波往往有很多个。由于迟到波总是位于B1之后，并且位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此迟到波不会干扰缺陷波的判别。4.13答：当纵波直探头径向探测实心圆柱体时，由于探头平面与柱面接触面积小，使波束扩散角增加，这样扩散波束就会在圆柱面上形成三角反射路径，从而在示波屏上出现三角反射波，这种反射称为三角反射。三角反射有不发生波型转换的等边三角形反射和发生波型转换的等腰三角形反射，其反射波总是位于第一次底波B1之后，位置特定，而缺陷波一般位于B1之前，因此三角反射波也不会干扰缺陷波的判别4.14答：超声波探伤中，常见的非缺陷回波有始波、底波、迟到波、61反射、三角反射，还可能有探头杂波、工件轮廊回波，耦合剂反射波、幻象波、草状回波及其它一些非缺陷回波。在超声波探伤过程中可能会出现各种各样的非缺陷回波，干扰对缺陷波的判别，探伤人员应注意用超声波反射、折射和波型转换理论，并计算相应回波的声程来分析判别示波屏上可能出现的各种非缺陷回波，从而达到正确探伤的目的，此外还可采用更换探头来鉴别探头杂波，用手指沾油触摸法来鉴别轮廊界面回波。Re:超声波4.1 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A.直探头探伤法 B.脉冲反射法C.斜探头探伤法 D.穿透法4.2 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用()A.较低频探头 B.较粘的耦合剂C.软保护膜探头 D.以上都对4.3 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是()A.曲面探伤时可减少耦合损失 B.可减少材质衰减损失C.辐射声能大且能量集中 D.以上全部4.4 探伤时采用较高的探测频率，可有利于()A.发现较小的缺陷 B.区分开相邻的缺陷C.改善声束指向性 D.以上全部超声波4.5 工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的()A.平面效果最好 B.凹曲面效果居中C.凸曲面效果最差 D.以上全部4.6 缺陷反射声能的大小，取决于()A.缺陷的尺寸 B.缺陷的类型C.缺陷的形状和取向 D.以上全部4.7 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是： ()A.反射波高随粗糙度的增大而增加 B.无影响C.反射波高随粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都可能4.8 如果声波在耦合介质中的波长为，为使透声效果好，耦合层厚度为()A./4的奇数倍 B./2整数倍C.小于/4且很薄 D.以上B和C4.9 表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()A.缺陷深度 B.缺陷至探头前沿距离C.缺陷声程 D.以上都可以4.10 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度11调扫描，下面哪种说法正确()?A.缺陷实际径向深度总是小于显示B.显示的水平距离总是大于实际孤长C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D.以上都正确4.11 采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时，下面哪种说法正确()?A.F/B相同，缺陷当量相同 B.该法不能给出缺陷的当量尺寸C.适用于对尺寸较小的缺陷定量 D.适于对密集性缺陷的定量4.12 在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：()A.横波质点振动方向对缺陷反射有利 B.横波探伤杂波少C.横波波长短 D.横波指向性好4.13 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：()A.1.25MHz B.2.5MHz C.5MHz D.10MHz4.14 在用5MHz10晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：()A.10.7mm B.1.4mm C.16.3mm D.以上都不对4.15 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：()A.小于实际尺寸 B.接近声束宽度C.稍大于实际尺寸 D.等于晶片尺寸4.16 端点衍射波主要用于测定：()A.缺陷的长度 B.缺陷的性质C.缺陷的位置 D.缺陷的高度4.17 从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：()A.精确对缺陷定位 B.精确测定缺陷形状C.测定缺陷的动态波形 D.以上方法须同时使用4.18 单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：()A.来自工件表面的杂波 B.来自探头的噪声C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合剂噪声4.19 确定脉冲在时基线上的位置应根据：()A.脉冲波峰 B.脉冲前沿C.脉冲后沿 D.以上都可以4.20 用实测折射角71的探头探测板厚为25mm的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：()A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm4.21 用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆孤面时，示波屏上的回波位置(声程调试)应在：()4.22 能使K2斜探头得到图示深度11调节波形的钢半圆试块半径R为()A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm题4.22图4.23 在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线?()A.水平定位法 B.深度定位法C.声程定位法 D.一次波法4.24 在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线?()A.水平定位法 B.深度定位法C.声程定位法 D.二次波法4.25 对圆柱形筒体环缝探测时的缺陷定位应：()A.按平板对接焊缝方法 B.作曲面定位修正C.使用特殊探头 D.视具体情况而定采用各种方法4.26 在筒身外壁作曲面周向探伤时(r,R为筒体的内、外半径) ，斜探头（为折射角）的临界角应满足：(A)A. B. C.D. 4.27 在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.28 在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.29 在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.30 在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.31 为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用()A.小K值探头 B.大K值探头C.软保护膜探头 D.高频探头4.32 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：()A.侧面反射波带来干涉 B.探头太大，无法移至边缘C.频率太高 D.以上都不是4.33 用斜探头检测厚焊缝时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：()A.提高探头声束指向性 B.校准仪器扫描线性C.提高探头前沿长度和K值测定精度 D.以上都对4.34 当量大的缺陷实际尺寸：()A.一定大 B.不一定大C.一定不大 D.等于当量尺寸4.35 当量小的缺陷实际尺寸：()A.一定小 B.不一定小C.一定不小 D.等于当量尺寸4.36 在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：()A.大 B.小 C.无影响 D.不一定4.37 当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：()A.大 B.小 C.无影响 D.不一定4.38 焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：()A.探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B.裂纹表面不光洁对回波强度影响越大C.杂波太多D.AB都对4.39 厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165 ，若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是：()A.底面回波 B.底面二次回波C.缺陷回波 D.迟到回波4.40 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：()A.底面回波降低或消失 B.底面回波正常C.底面回波变宽 D.底面回波变窄4.41 直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5dB，材质衰减均为0.01dB/mm(双程)，今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：()A.40% B.20% C.10% D.5%4.42 厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/2灵敏度分别进行探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：()A.两个缺陷当量相同 B.材质衰减大的锻件中缺陷当量小C.材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D.以上都不对4.43 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在?()A.缺陷回波 B.底波或参考回波的减弱或消失C.接收探头接收到的能量的减弱 D.AB都对4.44 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：()A.耦合不良 B.存在与声束不垂直的平面缺陷C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D.以上都是4.45 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：()A.与表面成较大角度的平面缺陷 B.反射条件很差的密集缺陷C.AB都对 D.AB都不对4.46 影响直接接触法耦合损耗的原因有：()A.耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B.探头接触面介质声阻抗C.工件被探测面材料声阻抗D.以上都对4.47 被检工件晶粒粗大，通常会引起：()A.草状回波增多； B.信噪比下降；C.底波次数减少； D.以上全部。4.48 为减少凹面探伤时的耦合损耗,通常采用以下方法：()A.使用高声阻抗耦合剂 B.使用软保护膜探头C.使用较低频率和减少探头耦合面尺寸 D.以上都可以4.49 在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头，因为这样：()A.虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B.脉冲窄，探测灵敏度高C.探头与仪器匹配较好D.以上都对4.50 应用有人工反射体的参考试块主要目的是：()A.作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B.为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C.为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D.提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体4.51 下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：()A.平底孔B.平行于探测面且垂直于声束的平底槽C.平行于探测面且垂直于声束的横通孔D.平行于探测面且垂直于声束的V型缺口4.52 测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：()A.声束扩散损失 B.耦合损耗C.工件几何形状影响 D.以上都是4.53 沿细长工件轴向探伤时，迟到波声程x的计算公式是：()A. B.C. D.4.54 换能器尺寸不变而频率提高时：() A.横向分辨力降低 B.声束扩散角增大C.近场区增大 D.指向性变钝4.55 在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：()A.只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B.只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C.只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D.人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准4.56 考虑灵敏度补偿的理由是：()A.被检工件厚度太大 B.工件底面与探测面不平行C.耦合剂有较大声能损耗 D.工件与试块材质、表面光洁度有差异4.57 探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：()A.声阻抗小且粘度大的耦合剂 B.声阻抗小且粘度小的耦合剂C.声阻抗大且粘度大的耦合剂 D.以上都不是4.58 超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：()A.波长的一半 B.一个波长C.四分之一波长 D.若干个波长4.59 与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：()A.单斜探头法 B.单直探头法C.双斜探头前后串列法 D.分割式双直探头法4.60 探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高。()A.与探测面平行的大平底面B.R200的凹圆柱底面C.R200的凹球底面D.R200的凸圆柱底面4.61 锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于()A.工件中有大面积倾斜缺陷 B.工件材料晶粒粗大C.工件中有密集缺陷 D.以上全部4.62直径为d的钢棒径向探伤时，迟到波出现的位置是（C）A.1.3d和1.76d B.1.67d和1.76dC.1.3d和1.67d D.以上都不是4.63 下面有关61反射波的说法，哪一点是错误的?()A.产生61反射时，纵波入射角与横波反射角之和为90B.产生61反射时，纵波入射角为61横波反射角为29C.产生61反射时，横波入射角为29，纵波反射角为61D.产生61反射时，其声程是恒定的4.64 长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是()A.三角反射波 B.61反射波C.轮廓回波 D.迟到波4.65 方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()A.平行且靠近探测面 B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度 D.平行且靠近底面4.66 缺陷反射声压的大小取决于：()A.缺陷反射面大小 B.缺陷性质C.缺陷取向 D.以上全部选择题答案4.1 D 4.2 D 4.3 C 4.4 D 4.5 A4.6 D 4.7 C 4.8 D 4.9 B 4.10 A4.11 B 4.12 C 4.13 A 4.14 C 4.15 B4.16 D 4.17 D 4.18 B 4.19 B 4.20 D4.21 B 4.22 C 4.23 B 4.24 A 4.25 A4.26 B 4.27 B 4.28 A 4.29 A 4.30 B4.31 B 4.32 A 4.33 D 4.34 A 4.35 B4.36 B 4.37 B 4.38 D 4.39 C 4.40 A4.41 C 4.42 B 4.43 D 4.44 D 4.45 C4.46 D 4.47 D 4.48 D 4.49 B 4.50 A4.51 C 4.52 D 4.53 D 4.54 C 4.55 D4.56 D 4.57 C 4.58 A 4.59 C 4.60 C4.61 B 4.62 C 4.63 C 4.64 D 4.65 C4.66 D4.1 采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A.直探头探伤法 B.脉冲反射法C.斜探头探伤法 D.穿透法4.2 超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用()A.较低频探头 B.较粘的耦合剂C.软保护膜探头 D.以上都对4.3 超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是()A.曲面探伤时可减少耦合损失 B.可减少材质衰减损失C.辐射声能大且能量集中 D.以上全部4.4 探伤时采用较高的探测频率，可有利于()A.发现较小的缺陷 B.区分开相邻的缺陷C.改善声束指向性 D.以上全部4.5 工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的()A.平面效果最好 B.凹曲面效果居中C.凸曲面效果最差 D.以上全部4.6 缺陷反射声能的大小，取决于()A.缺陷的尺寸 B.缺陷的类型C.缺陷的形状和取向 D.以上全部4.7 声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是： ()A.反射波高随粗糙度的增大而增加 B.无影响C.反射波高随粗糙度的增大而下降 D.以上A和C都可能4.8 如果声波在耦合介质中的波长为，为使透声效果好，耦合层厚度为()A./4的奇数倍 B./2整数倍C.小于/4且很薄 D.以上B和C4.9 表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()A.缺陷深度 B.缺陷至探头前沿距离C.缺陷声程 D.以上都可以4.10 探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度11调扫描，下面哪种说法正确()?A.缺陷实际径向深度总是小于显示B.显示的水平距离总是大于实际孤长C.显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小D.以上都正确4.11 采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时，下面哪种说法正确()?A.F/B相同，缺陷当量相同 B.该法不能给出缺陷的当量尺寸C.适用于对尺寸较小的缺陷定量 D.适于对密集性缺陷的定量4.12 在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：()A.横波质点振动方向对缺陷反射有利 B.横波探伤杂波少C.横波波长短 D.横波指向性好4.13 采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：()A.1.25MHz B.2.5MHz C.5MHz D.10MHz4.14 在用5MHz10晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：()A.10.7mm B.1.4mm C.16.3mm D.以上都不对4.15 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：()A.小于实际尺寸 B.接近声束宽度C.稍大于实际尺寸 D.等于晶片尺寸4.16 端点衍射波主要用于测定：()A.缺陷的长度 B.缺陷的性质C.缺陷的位置 D.缺陷的高度4.17 从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：()A.精确对缺陷定位 B.精确测定缺陷形状C.测定缺陷的动态波形 D.以上方法须同时使用4.18 单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：()A.来自工件表面的杂波 B.来自探头的噪声C.工件上近表面缺陷的回波 D.耦合剂噪声4.19 确定脉冲在时基线上的位置应根据：()A.脉冲波峰 B.脉冲前沿C.脉冲后沿 D.以上都可以4.20 用实测折射角71的探头探测板厚为25mm的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：()A.100mm B.125mm C.150mm D.200mm4.21 用IIW2调整时间轴，当探头对准R50圆孤面时，示波屏上的回波位置(声程调试)应在：()题4.21图4.22 能使K2斜探头得到图示深度11调节波形的钢半圆试块半径R为()A.50mm B.60mm C.67mm D.40mm题4.22图4.23 在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线?()A.水平定位法 B.深度定位法C.声程定位法 D.一次波法4.27 在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.28 在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.29 在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.30 在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数() A.大 B.小 C.相同 D.以上都可能4.32 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：()A.侧面反射波带来干涉 B.探头太大，无法移至边缘C.频率太高 D.以上都不是4.33 用斜探头检测厚焊缝时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：()A.提高探头声束指向性 B.校准仪器扫描线性C.提高探头前沿长度和K值测定精度 D.以上都对4.34 当量大的缺陷实际尺寸：()A.一定大 B.不一定大C.一定不大 D.等于当量尺寸4.35 当量小的缺陷实际尺寸：()A.一定小 B.不一定小C.一定不小 D.等于当量尺寸4.36 在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：()A.大 B.小 C.无影响 D.不一定4.37 当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：()A.大 B.小 C.无影响 D.不一定4.38 焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：()A.探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出B.裂纹表面不光洁对回波强度影响越大C.杂波太多D.AB都对4.39 厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165 ，若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是：()A.底面回波 B.底面二次回波C.缺陷回波 D.迟到回波4.40 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：()A.底面回波降低或消失 B.底面回波正常C.底面回波变宽 D.底面回波变窄4.41 直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5dB，材质衰减均为0.01dB/mm(双程)，今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：()A.40% B.20% C.10% D.5%4.42 厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/2灵敏度分别进行探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：()A.两个缺陷当量相同 B.材质衰减大的锻件中缺陷当量小C.材质衰减小的锻件中缺陷当量小 D.以上都不对4.43 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在?()A.缺陷回波 B.底波或参考回波的减弱或消失C.接收探头接收到的能量的减弱 D.AB都对4.44 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：()A.耦合不良 B.存在与声束不垂直的平面缺陷C.存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷 D.以上都是4.45 在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是