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文档简介

EL测试仪培训 EL缺陷图片分析 目录 EL测试仪应用介绍 EL测试仪原理及结构介绍 EL electroluminescence 电致发光电致发光 英文electroluminescent 又可称电场发光 简称EL 是通过加在两电极的电压产生电场 被电场激发的电子在能级间的跃迁 变化 复合导致发光的一种物理现象 根据发光原理分为本证电致发光和注入式电致发光 半导体发光二极管 LED 就是使用注入式电致发光 外加电压V 由于晶硅电池片具有PN结结构 接入正向偏压V后 本身平衡的载流子在电场作用下移动 少数载流子在导带低向价带顶发生跃迁 激发出能量为Eg的光子 对于Si 该方式发光的波长为 波长 hc Eg 1110nm EL测试仪原理及结构介绍 在掺杂的晶体Si中存在施主 受主能级 其他杂志能级 缺陷能级等 注入的非平衡载流子也可在上述能级间复合发光 因为上述能级间能量小于Eg 因此辐射的光波长大于1110nm Si电子注入发光光谱 右侧1300 1700nm间也存在发光光谱 该光谱主要为缺陷能级复合的发光光谱 EL测试仪原理及结构介绍 电致发光的亮度正比于总的非平衡少数载流子数量 正比于少子扩散长度 正比于电流密度 EL亮度与少子扩散长度的关系 EL测试仪原理及结构介绍 电致发光 EL 缺陷检测仪结构 当太阳能电池加正向偏压时 可以将其看作一个发光效率很低的发光二级管 EL测试仪应用介绍 EL缺陷测试仪在正向偏压下 可检测如下太阳能电池 组件缺陷 在反向偏压下 可以检测电池片中因各种缺陷所造成的漏电 可通过不同电压值下漏电大小并结合图片发现漏电区域及严重程度 EL缺陷图片分析 正常电池片测试图片亮度较高 亮度较均匀 正常电池片 EL缺陷图片分析 隐裂片 EL缺陷图片分析 材料缺陷 EL缺陷图片分析 烧结炉带网纹 EL缺陷图片分析 断栅 EL缺陷图片分析 边缘过刻 EL缺陷图片分析 晶界 暗纹 EL缺陷图片分析 边缘漏电 EL缺陷图片分析 划痕 EL测试仪与Correscan对比 温度对EL测试的影响 本征缺陷 晶格缺陷 晶界等 的EL图像对温度较敏感 而非本征缺陷 断栅 裂纹等 导
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