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LCD显示器液晶屏检验规范 1 范围本标准规定了 LCD显示器用液晶屏的像素缺陷、杂质不良、偏光片缺陷和漏光的定义及规格。本标准适用于在液晶屏的检验。 2 一般要求 2.1 像素缺陷 2.1.1 定义液晶屏由正方形的像素组成，每个像素由 R/G/B三色子像素组成，如图1或图2所示。暗点：由于 MOS管失效造成一个子像素一直不发光，称为暗点，如图3所示；暗点的判定：当不发光面积大于单个子像素 1/2面积时判定为一个暗点；当不发光面积小于或等于单个子像素 1/2面积时不计。相邻的暗点：相邻的两个子像素（水平或垂直）都是暗点时，称为相邻的暗点，如图 4所示。亮点：由于 MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点，如图5所示。当发光面积大于单个子像素 1/2面积时判定为一个亮点，如图6所示；微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，称为微亮点。符合以下条件时，判定为微亮点（如图 7所示）：a.发光面积小于或等于单个子像素面积的 1/2；b.在第 64灰阶下可以看到的亮点计为微亮点，在第 64灰阶下无法看到的亮点不计。（液晶屏共有256灰阶）A、B区：将屏幕划分为 A区和 B区，如图 8所示，其中 d=86%L 。 2.1.2 规格 像素缺陷最大允许规格见表 1。尺寸比例分辩率亮点微亮点单个暗点相邻暗点A区B区A+B区绿色暗点19寸16：91440*90003122102.2 杂质不良 2.2.1 定义杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入的杂质引起的不良。杂质不良的形状不规则，与像素形状没有必然联系，分为圆形和线形。如图 9所示，当 a2b时计为线形。杂质点（线）的表现为暗场时的亮点（图 10）、亮线（图 11），或亮场时的暗点（图 12）、暗线（图 13）。2.3 偏光片的缺陷 2.3.1 定义划伤（Scratch）:液晶屏表面偏光片的划痕；凹痕（Dent）：液晶屏表面偏光片的凹痕；起泡（Bubble）:屏表层偏光片的气泡；显示器不允许有杂质或外观上的划伤2.4 漏光 2.4.1 对于大面积的漏光（见图 14）：用彩色分析仪的探头测量漏光区域的亮度（Y1）以及屏中央（应是不漏光区域）的亮度（Y2）,其比值（Y1/Y2）2时为不合格。 2.4.2 对于小面积的漏光（无法用仪器测量）：漏光区域的亮度明显比周围
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