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文档简介

(一)、出现 “EFO gap wide”是什么意思? 答:燒球的電壓或者電流太高,假如仍就可以BONDING的话,把F15里的EFO里有检测电压放低点就行!(二)、请问 BSOB/BBOS 又是什么意思答:是两种种球模式,一种先植球再打线,另一种是打线后再植球。(三)、AB339和eagle 60的区别答:邦线速度速 價錢 線弧表現能力(四)、晶驰在固LED晶片时,LED晶片会发光,最大的疑问就是顶针环也是直接连到大地的,固晶臂也是直接连接大地的,为什么在固晶时LED还会亮?答:晶驰在固LED晶片时,LED晶片会发光,也就是说固晶臂和顶针之间有电压(但是LED晶片不会被击穿,只是客户看了不爽)。我做了部分实验得出了部分结论:我把顶针环部分的地线断开,虽然晶片不亮了,但是它上面会产生12VAC电压(我初步认为是顶针环和顶针2台步进电机产生的感应电压),导致LED晶片IR过大被击穿。晶驰的固晶臂上的银触点+24VDC和固晶臂绝缘,但是银触点的地和固晶臂没绝缘(因为固晶臂是直接连到大地的所以信号地和大地相连了)。(五)、AD896在转换画面时发现 在WAFER镜头时会比在固晶画面速度快,调整灯光及相关参数均没有效果是在什么情况下发生的这种情况,还是普遍这样?答:1.普遍的话,建议做一下邦头同步校正。2.要是只有某个特定的产品会这样,那建议看看其他机台的参数设定的范围。3.如果这些都没有问题的话,你重新启动一下。或者拷贝其他机台的程序过来试试。4.板子是否浮动造成的重影。5.不知道你的机器是不是要高温的。高温要考虑热量造成的热浪。热浪就是我们在一堆火前面,看后面的东西是模糊或者看的有些像水里面的折射。这种现象在ASM -06系列机台都存在,由于Bond Camera放大倍率一般比WaferCamera放大倍率小,显示时包含图象信息较多,机台处理图象信息有延迟,将Bond Camera倍率调大可解决(六)、ASM-AD830晶片老是吸不起来?顶针打的高些就会断掉,这是什么原因答:吸晶不起,原因归结起来以几点吧。1、首先对好三点一线,然后看看有没有撞到摆臂2.顶针钝,不能刺破蓝膜,建议不要把顶针跳到太高.3.吸嘴不良4.漏固检测灯,不要太暗调整方法,先把晶片移到十字中间,打开顶针真空,然后调到吸晶高度,用显微镜观察调整吸晶高度,再打开顶针高度,调整顶针高度.注意,如果其他方面全部正常,而还是重复吸晶的话,应该看看在摆臂到达固晶位的范围内有没有其他异常 AD830和ASM其他的固晶机不同,你没调好的话,一个晶片都吸不起,特别是固单电极晶片。贴出目前一部份机器用到的Miss Die System以供大家参考。Miss Die System中文意思为:漏晶检测系统。在固晶机中是不可缺少的一部份。目前,就本人所知的,有两种实现方法。1、红外发射接收。这种的设计原理是,在BA(固晶臂)运动的轨迹中装有一个红外发射管持续发射红外光。(这里说的轨迹各种机器做的都不一样,有180度摆臂的即轨迹是180度的弧线,也有直线的,也有用90度摆臂的。)在BA的吸嘴上方装一个红外接收管。当BA从抓晶位到固晶位的过程中,经过发射管。这时,如果吸嘴上面没有晶片的话,接收管就会收到发射管发出的光,接收管导通。电路就是利用这个原理来抓取这个信号。但并不是直接的来读这个信号。因为它是瞬间的。软件不可能在马达运动的同时来每一个MS都检测这个是否读到。所以,电路上再加入一个可以存储和清除的IC。当有信号时,IC会记录下,等软件完成BA从PICK POS到RE BOND POS时再来读这个存储的信号。If为1,那就是说在这个过程中有漏晶,Else为0,那就是正常。再进行下一步。/Pick Agin & Die Bond另外,因为吸嘴太小,加上吸嘴里会有一些灰尘堵住,接收到的光是很有限的。所以在电路中会把这个即时的信号经过放大处理。并且,在电路上,会在接收管和发射管前加一个电位器,以调节它的灵敏度。同理,Miss Die System 还可以检测吸嘴是否堵塞。当完成BONDING 后,软件会通过I/O卡给IC一个清除的信号。让IC重新记录。BA从Bond Pos 到Re Pick的过程中,软件读到存储信号,If=1,就是吸嘴为通,正常;Else=0,吸嘴为堵塞状态,需要吹气清理。2、气感。主要用到一个气压数字表。此表,利用气感元件读到不同气压时的不同电压,再转换成数字显示出来。所指气压是负气压这是它的最基本功能。另外,我们在Miss Die System中用到的是它的号一个主要功能。我们先分析一下我们机器在固晶时不同状态的气压情况。关闭时:P1,打开时:P2,打开吸有晶片时:P3,打开未吸到晶片时:P4。它们的关系是:P1 P3P4| P4=P2而这个气感表,具有这们的功能。它可以设定两个值。Px Py。当气感表所读到的气压值(Pa),于Px时,为一种状态(0),当PxPaPy是为一种状态。对比一下,是否上面的公式可以代入在气感表的公式中来。机器在固晶时不同状态的气压都可以在气感表上来表示。而我们需要的漏晶状态就是指气感表上的状态。以上的分析,只是理论上的。实际中,同一状态下,气感表所读的值都会不一样。所以需要跟据实际情况来设定Px Py。气感,所用到的机器不多。因为在固小晶片时P3与P4太相近,容易造成误判。固IC时会好用点。就以上所提的红外线Miss Die System为例,再说明一下造成漏晶误报或漏检的原因和处理方法。误报,一般来说分两种,一种是有吸到晶片报警漏晶。一种是吸嘴未堵塞报警堵塞。先说第一种。首先是需要保证在显微镜下观察是吸起了晶片。如未吸起,请检查真空是否有漏气,顶针方面是否高度有问题。不属于误报。1、晶片环未放好,这个是新手常犯的毛病,未放好或是膜未处理,高于吸嘴拿起晶片后的高度,晶片在运动过程中被外物带走掉落。2、吸嘴过大,漏气。3、气路中有破损处,有漏气,在抓晶时可以抓起,但真空力不能克服离心力(指180度摆臂)时,晶片在运动时掉落。4、电路问题。检查发射管,接收管所接的连接线是否有磨损。某些机器的连接线是跟着BA一起转动的,容易磨损。另处,I/O给出的清除信号是否正常,存储器是否正常,这些都是电路上的问题。因各家所用电路设计不一,不能详细说明。请参考厂商相关说明。5、灵敏度的调节。这个是常做的。也是最基本的处理方式。再说第二种。在生产过程中,有时会因调的银浆高度过高而导致吸嘴吸到银浆,这点,不但吸嘴管道里会粘到,也会把吸嘴上面的接收管也挡住。而且,吸嘴长时间不清理的话,还会在吸嘴管道壁内积一层硬化的厚厚的银浆。对灵敏度感应造成影响。除此之外就是电路问题了。当然,灵敏度的调节是最基本的处理。请大家多提意见MISSING DIE CHECK POSITION 从字面上理解,意思是漏晶检测的位置。在上面我提到过,漏晶检测是在一个过程中是否有检测到漏晶,那么,我们需要的是两个position。从POS1到POS2的过程中是否有漏晶。也就是说,需要从PICK POS 到MISS DIE CHECH POSITION的过程中来检测是否有漏晶。(七)、AD896碎晶问题有什么好的方法解决答:1)顶针不能太尖. 把顶针磨钝2)对好三点一线。3)用手动调取晶高度 4)把顶针马达的速度调为SLOW,5)灵敏度也要调适当6)要适合的吸嘴,7)调好各延时参数,8)气压至少要5KG以上 9)把焊臂压力减小。10)校正焊臂水平。(八)、一般来说,钨钢吸嘴堵了,用通针或钨丝就可以通开,但是我有两个吸嘴可能是堵了碎芯片,通不开。答:用丙硐泡几天,再试试。可以把其它东西都泡开,但晶片好像不行。会有一点作用,但作用不大。大吸嘴可能要好通点,小吸嘴就不好通了。吸嘴堵了放超声震荡槽里洗洗就通了,再不行内径0.15MM以上的用钨丝通(通的时候别把DIE接触面弄花了,否则就得不偿失了)介紹一個自己在用的方法,我都是用針灸針將針頭磨細,超好用的吸嘴也不用拆下來,各種類型吸嘴都適用,各位也可以試看看(九)、我们的8930V做支架LED 点出来点一大一小怎么回事情?答:首先确认点胶头是不是磨损了 其次看看点胶头的弹性力度如何 也可以尝试把点胶的延时放久一点 点胶的高度是不是压的太下了 。点胶部分不知道您要求的大小程度怎么样!一般情况做LAMP的是要求不是很高!如果您的大小太离谱的话有可能有以下几种问题产生:(仅供参考)1、机器设备的参数存在问题。STAMPING PROCESS SETUP 2、胶问题,有客户中在使用过程中需要的胶特别稀释。3、机器点胶工具选用的存在问题。4、点胶工具内部机构问题。5、支架有浮动现象存在。6、点胶Z向马达出现问题。(十)、处理:STAMPING SETUP 答:1、Disc level 建议设定在银胶盘中的银胶的二分之一的高度中,前题银胶盘中的银胶一定要转均匀啊!2、使用中如果胶特别稀释,请将rotating speed设定为0-50。3、检查支架是否有浮动现象。4、请检查点胶工具内部弹簧部分,是否运通正常。如有胶或长期使用没有进行清理的话,会导致点胶头上下不是很顺畅!5、点胶工具请检查点胶PIN有没有磨损?最好建议您使用台阶比较长点的PIN,这样比较磨损不是很大!请参考!此主题相关图片如下122.jpg:(十一)、近段时间经常死机,要重启才能正常,有时能自己重启,有时手动,死机时固晶臂刚好在吸晶位置上方,有时在固晶位置,电脑主机各方面都正常,各位高手,何解?有什么方法解决先清除资料重新载入参数,观察机器自检是否正常。 答:死机和内存板记忆电子有关 先排除参数问题再排除电源问题最后从硬件部份顺序查找4、是SALA

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