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第三章作业答案1.用图3.6的列线图,求出由具有1000*CM电阻率的N型硅制造的一个结型半导体探测器中产生0.1mm厚耗尽深度所需要的偏压。解:教材P161图3.6 0.1mm=100um,连接电阻率与灵敏区厚度两个点的连线,延长线交偏压于35V所对应的点。即偏压为35V。3.当粒子被准直得垂直于金硅面垒探测器的表面时,241Am刻度源的主要射线峰中心位于多道分析器的461道。然后改变几何条件,使粒子偏离法线350角入射,此时,峰位移到449道,试求死层厚度(以粒子粒子能量损失表示)。解: 教材P162当能量为损失E0的粒子垂直入射时当 0时, 设粒子在探测器死层内的能量为E1则探测器灵敏体积得到的能量为(E0-E1)谱峰位在461道 当350时,死层内能量损失为E21.22E1探测器灵敏体积得到的能量为(E0-E2)E0-1.22E1谱峰位449道则粒子两个角度入射探测器灵敏体积分别得到的能量的差为E461449(E0-E1)(E0-E2)12E0E1- E0+1.22E1=0.22E1 所以E1(道)(补充:由手册可查,241Am刻度源的主要射线能量,设G每道所对应的能量,那么 解可得 )4.试就以下条件画出硅面垒探测器的期望微分脉冲幅度谱:(a) 5MeV入射粒子,探测器的耗尽深度大于粒子的射程。(b) 5MeV粒子,探测器的耗尽深度为粒子射程之半。(c) 情况同(a),但5MeV粒子已经经过一块吸收体,其厚度等于该物质中射程的一半。解:(何为微分脉冲幅度谱?即通常所说的能谱曲线。利用脉冲幅度甄别器,表征某一能量对应的计数)根据射程方程 R3.2104(0.2850.005E)E3/2(a) 相应能谱峰位能量=5Mev(c)当=5Mev时 Roa =0.31E3/2R3.21040.31E3/20.5 R=3.2104(0.2850.005E)E3/2可求出:=3.212Mev (可利用“数学”软件求出结果)(先经过R厚物质后,穿过探测器内的粒子能量由得)(b)相应的能量为 (原答案)由于探测效率不变,因此峰面积应该相等,只是峰位改变。7.绝对峰效率为38的NaI(T1)闪烁探测器,对57Co源的122kev射线测量15min光电峰计数146835个。然后同样的源置于离表面积为3600m的Si(Li)探测器的表面为10记录60min得到一个谱。如果在7.1kev的KX射线峰下面的计数为932个,那么在这个能量时Si(Li)探测器的效率是多少?(对于57Co的特征X射线和射线的强度比X/分别为:对6.40kev的K线为0.5727

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