晶体管测试仪作业指导书.doc

晶体管测试仪作业指导书 xxxx科技工业有限公司晶体管检测仪作业指导书版本文件编号制定日期页次Rev1.0变更事项日期修订者核准制订周伟芳Q-H810-M016xx-4-111/5 一、目的为使晶体管检测仪有一定的操作方法、标准与步骤依循。 二、范围光电部门的晶体管检测仪。 三、注意事项1.使用时要正确选择阶梯信号在测量三极管的输出特性时，阶梯电流就不能太小，否则，不能显示出三极管的输出特性。 阶梯电流更不能过大，这样容易损坏管子。 应根据实际测量三极管的参数来确定其大小。 2.“集电极功耗电阻”的选用当测量晶体管的正向特性时，选用低阻档；当测量反向特性时，选用高阻档。 集电极功耗电阻过小时，集电极电流就过大；若集电极功耗电阻过大，就达不到应该有的功耗。 四、操作步骤与方法如下1.测试前的开机与调节1.1开启电源按下电流开关，此时指示灯亮，待预热十分钟后可以进行正常测试。 在必要时测量进线电压以在220V10%的范围内为宜。 1.2调节辉度聚焦、辅助聚焦(调节方法面板上开关位置按下表所示设置)。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节功耗电阻X轴Y轴X、Y位移1.3Y、X灵敏度分别进行10度校准调节方法Y、X移位旋钮置于中心位置，将Y（或X）方式开关置“校准”，“拉校”电位器拉出，此时光点应有10度偏转，如超过或不到应进行增益（R120，R159）调节。 1.4阶梯调零(调节方法面板上开关位置按下表设置)峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关极性阶梯信号方式输入05V0NPN+1K1V/度+（上）1A/度+（上）+重复正常V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关X、Y位移旋钮置于中心位置05V01K0.5V/度（中）1mA/度（中）集电极电压调节从0慢慢加大到100，用Y轴移位将扫描线与第一条线度线重合，然后将Y轴-I C（电流/度）打至阶梯位置，屏幕上出现十一条扫描线，调节调零电位器，使第一条扫描线与第一条刻度线重合。 xxxx科技工业有限公司晶体管检测仪作业指导书版本文件编号制定日期页次Rev1.0变更事项05V0NPN+1K1V/度+（上）1A/度+（上）日期修订者核准周伟芳制订Q-H810-M016xx-4-112/51.5电容性电流平衡（调节方法面板上开关位置按下表设置）峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关集电极电压调节从0慢慢加大至于100%，调节电容平衡电位器（R608,R601）使屏幕上Y向图形达到最小值即可。 1.6集电极电压检查（调节方法面板上开关位置按下表设置）集电极电源X轴Y轴极性功耗电阻X工作方式选择开关Y工作方式选择开关NPN+0+（上）（中）在进行测量前应检查集电极电压的输出范围，检查时将V C置于相对应档级，当发现将峰值电压顺时针方向最大时，其输出符合下表范围即正常，如小于上述规定则检查进线电压。 峰值电压范围X作用开关（V C）水平显示幅度5V1V/div7div50V5V/div10div100V10V/div10div500V50V/div10div2.测量2.1NPN型3DG945晶体管的测量2.1.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关极性方式阶梯信号输入串联电阻阶梯选择级/族2.1.2按E、B、C插好被测晶体管。 2.1.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.1.4集电极电压调节从0慢慢加大。 05V0NPN+2500.5V/度+（上）1mA/度+（上）+重复正常05A/级10xxxx科技工业有限公司晶体管检测仪作业指导书版本文件编号制定日期Rev1.0变更事项日期修订者核准周伟芳制订Q-H810-M016xx-4-11页次3/52.2NPN型2N3055晶体管的测试2.2.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关极性方式阶梯信号输入串联电阻阶梯选择级/族2.2.2按E、B、C插好被测晶体管。 2.2.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.2.4集电极电压调节从0慢慢加大。 2.3NPN型MJ13005晶体管的测试2.3.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关05V0NPN+2.500.5V/度+（上）50mA/度+（上）+重复正常0200A/级1003KV0NPN+250300V/度+（上）1mA/度+（上）2.3.2按B、C插好被测晶体管。 2.3.3按0-3KV按通开关（S604），集电极电压从0慢慢加大。 2.4PNP型8550晶体管的测试2.4.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴2.4.2按E、C插好被测晶体管。 V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关0100V0PNP-25010V/度-（下）1mA/度-（下）xxxx科技工业有限公司晶体管检测仪作业指导书版本Rev1.0变更事项文件编号Q-H810-M016制定日期xx-4-11页次4/52.4.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.4.4集电极电压调节从0慢慢加大。 2.5N沟导耗尽型3DJ7G晶体管的测试。 2.5.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关极性方式输入串联电阻阶梯选择级/族2.5.2按E、B、C插好被测晶体管。 2.5.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.5.4集电极电压调节从0慢慢加大。 2.6硅整流二极管IN4001的测试2.6.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关日期修订者核准周伟芳制订05V0NPN+2500.5V/度+（上）1mA/度+（上）-重复正常00.2V/级10X轴Y轴阶梯信号010V0NPN+2500.1V/度+（上）1mA/度+（上）X轴Y轴2.6.2按E、C插好被测晶体管。 2.6.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.6.4集电极电压调节从0慢慢加大。 2.7稳压二极管BZX-55-C8V2的测试2.7.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻V C（电压/度）X工作方式选择开关I C（电流/度）Y工作方式选择开关0100V AC0NPN+2502V/度+（上）1mA/度+（上）X轴Y轴xxxx科技工业有限公司晶体管检测仪作业指导书版本Rev1.0变更事项文件编号Q-H810-M016制定日期xx-4-11页次5/52.7.2按E、C插好被测晶体管。 2.7.3测量选择“左”或“右”置于被测管一边。 2.7.4集电极电压调节从0慢慢加大。 2.8可控硅M10LZ47的测试。 2.8.1面板上开关位置按表设置。 峰值电压范围集电极电源集电极电压调节极性功耗电阻X轴Y轴V C（电压/度）X工作方式选择开关I C