SPC手册所使用的符号.docx

SPC手册所使用的符号A2计算均值控制限时R的乘数，见附录E的表。A2计算中位数控制限时R的乘数，见附录E的表。A3计算均值控制限时s的乘数，见附录E的表。B3、B4分别为计算样本标准差上下控制限时s的乘数，见附录有的表。C样本中的不合格数，c图的介绍见第III间第3节。c样本容量恒定为n时，样本的平均不合格数C4估计过程标准差时s的除数，见附录E表。USLLSL6R/d2XLSL3R/d2USLX 3R/d26R/d2（USLLSL）CP稳定过程能力指数通常定义为 。CPK稳定过程的能力指数，通常定义为CPU或CPL中的最小值。CPL能力指数下限，通常定义为 。CPU能力指数下限，通常定义为 。CR稳定过程的能力比值，通常定义为 。d2估计过程标准差时R的除数，见附录E表。D3、D4分别为计算极差的上下控制限时R的乘数，见附录E的表。E2用来计算单位控制限时R的乘数，见附录E的表。k用来计算控制限时子组的个数。LCL下控制限。LCLX，LCLR，LCLP等分别是均值、极差、不合格品率等的下控制限。LSL工程规范的下限。MR主要用于单值图一系列点的移动极差。n一个子组内的单值的个数；子组的样本容量。n平均子组样本容量。np在一个容量为n的样本中不合格品的数量，np图的介绍见第III章第2节。np样本容量恒定为n时，不合格品数的平均数。p一个样本中的不合格品率，p图的介绍如见第III章第1节。p一系列样本中的平均不合格品率。（USLLSL）6S6S（USLLSL）USLX3SXUSL3SPP性能指数，通常定义为 。PR性能比率，通常定义为 。PPK性能指数，通常定义为 或 的最小值。PZ输出超过利益点的比例，这种利益点诸如特定的规范限值，与过程均值之差为z个标准差单位。R子组的极差（最大值减去最小值）；R图的介绍见第III章。R一系列容量相等子组的平均极差。R一系列容量相等子组的平均的均值。R一系列容量相等子组的平均极差的中位数极差。s子组的样本标准差，s图的介绍见第II章第2节。s过程的样本标准差，s的介绍见第II章经5节。s一系列子组的平均样本标准差，如有必要可以按样本容量加权。SL单边工程规范极限。u一个样本中每单元不合格数，这个样本可能含有一个以上单位，u图的介绍见第III章第4节。u样本中单位不合格数的平均值，样本的容量不必相等。UCL上控制限，UCLX、UCLR、UCLP等分别是均值、极差、不合格品率等的上控制限。USL工程规范的上限。X一个单值，是其它子组统计值的基础，单值图的讨论见第II章第4节。X一个子组数值的平均数，X图的讨论见第II章第1节。X子组均值的均值（如有必要可按样本容量加权）；测得的过程均值。注：在本手册中，X有作单值图的过程均值（第II章第4节）尽管它仅代表一个水平的平均（单值点），以便避免与通常便服了组均值的X相混淆。X一个子组的数值的中位数；中位数图的讨论见第II章第3节。X子组中位数的均值，估计的过程中位数。Z从过程均值到一个利益值（例如工程规范）的标准差单位个数。当用于能力评审时，ZUSL就是与上规范限的距离，是的与与下规范限的距离，而Zmin是与最近的规范限的距离。一个过程特性单值分布的标准差。过程特性标准差的估计值。X、R、P，等基于样本过程输出的一个统计值标准差，例如，子组均值分布的标准差（为n），子组极差分布的标准差，不合格品率分布的标准差等。S用位于该组平均值附近的一组单值的