布鲁克X射线衍射仪.doc

. X射线衍射仪-D8 ADVANCE型X射线衍射(XRD)是所有物质，包括从流体、粉末到完整晶体，重要的无损分析工具。对材料学、物理学、化学、地质、环境、纳米材料、生物等领域来说，X射线衍射仪都是物质结构表征，以性能为导向研制与开发新材料， 宏观表象转移至微观认识，建立新理论和质量控制不可缺少的方法。通过对置于分光器（测角仪）中心的样品上照射X射线，X射线在样品上产生衍射，改变X射线对样品的入射角度和衍射角度的同时，检测并记录X射线的强度，可以得到X射线衍射谱图。用计算机解析谱图中峰的位置和强度关系，可以进行物质的定性分析、晶格常数的确定和应力分析等。而且通过峰高和峰面积也可进行定量分析。除此以外，通过峰角度的扩大或峰形进行粒径、结晶度、精密X射线结构解析等各种分析，还可以进行高低温及不同气氛与压力下的结构变化的动态分析等。1. 主要性能 D8型X射线衍射仪系列是当今世界上最先进的X射线衍射仪系统。它的设计精密、硬件、软件功能齐全，能够精确对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、晶胞参数计算和固溶体分析、晶粒度及结晶度分析等。仪器包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。2. 技术指标 最大输出功率：2.2 kW；电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时；X射线防护：国际安全认证，射线剂量0.2Sv/h。光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可选，更换无需校准；光管功率：2.2 kW；长细焦斑：0.412mm；最大管压：60kV；最大管流：80mA；测角仪：采用步进马达驱动和光学编码器技术，扫描方式/或/2测角仪；最小步进角度0.0001 o；角度重现性0.0001 o；扫描角度范围2-110 o 168 o；最高定位速度 1500o/min。索拉(Soller)狭缝：0.02, 0.04, 0.08 rad。探测器：闪烁晶体计数器；动态范围2106 cps；背底噪声 0.5 cps。固体探测器：锂漂移硅能量色散型；测量范围2keV 30keV；能量分辨率： E 279 eV。 系统软件：系统控制和数据采集软件；物相检索软件及数据库；粉末衍射全分析软件包（相分析软件、物相定量分析软件；精密测定晶胞参数；样品中无定型含量；微晶尺寸和（或）微观应力分析软件；结构精修和面间距与角度计算；模拟复杂混合相或单相的无标定量分析）；残余应力分析软件；晶粒度分析软件。3. 应用范围 D8 ADVANCE型X射线衍射仪集成最先进的技术提供了完善的衍射解决方案，可进行如下工作，物相检索；物相定量分析；嵌镶尺寸（晶粒大小）及微观应力（晶格畸变）测定；线形分析：除函数拟合法外，含独家开发的基本参数法分析软件，用作物相分析、点阵参数测定等数据处理前进行线形优化处理；K剥离、数据平滑、傅立叶变换、3维图形功能等。广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块状、粉末状固体，为科学研究提供准确可靠的数据。4. 样品要求 来样标明名称、来源、主要成分、待测样品包含元素； 固体粉末：大于1g，建议事先处理300目左右。5. 相对于其它厂家的同类配置而言，该配置具有如下独特的特点：1 /衍射仪：我们提供的是/衍射仪，这样样品不动，入射光路及衍射光路运动，因此可以测量液体、大的样品及所有不适合动的样品，从而有利于高低温、气氛反应等的研究。q/q测角仪对测角仪的稳定性要求非常高。D8系列测角仪采用大轴设计方案，稳定性好，与q/2q具有相同的精度。2 测角仪：测角仪是衍射仪的心脏。我们的测角仪具有如下特点：l 精度高（角度重现性达0.0001度）；l 同一测角仪能立能卧；l 模块化性能好、组合灵活（可配置不同附件，组合成多种光路，以实现不同的应用）；l 各种部件安装在高精度导轨上（从而可实现模块化快速互换）l 测角仪圆能根据需要改变（以得到高强度或高分辨率配置）l 步进马达驱动+光学译码器保证了衍射仪快速而精确的定位。3 X光管：我们提供的标准尺寸（因此可以与其它厂家的标准尺寸X光管互换）的陶瓷管，因此，相对某些使用特殊尺寸光管的厂家而言，用户今后受厂家的限制少。4 软件：我们的软件是真正32位、WindowsNT/95环境下的多任务操作软件。所有软件的操作接口、操作方式都与Windows一样，非常容易上手。而且具有三维图形功能。你可以从不同角度审视测量结果，可以对结果进行各种操作。这一功能对高低温研究非常有价值。l XRD-XRF 互动 根据XRF或其它化学分析确定元素是否存在及含量、利用元素限制进行物相检索和改进物相半定量分析。l 原始数据直接检索软件：除常规的检索方式外，我们还提供了利用原始数据直接检索的Search/Match软件：对于常规的检索方式来说，如果样品类型较复杂，如多种相混合等，或有择优取向样品、存在重迭峰等问题时，常规检索方式就无能为力了。而本公司的直接检索方式与其它厂家的常规的d/I检索方式相比，不用寻峰，仅去除背底即可直接进行快速、准确的检索。可有效地解决微含量样品、多相混合物中的重迭峰、有择优取向样品、低吸收系数样品的检索等问题。此技术为布鲁克AXS公司独家所有。l 固溶体类样品研究：可对点阵参数规则变化或不规则变化引起的峰位漂移进行调整，可对某一hkl系列的衍射峰单独调整，因此可研究固溶体及其它的点阵参数发生变化的样品的研究。 此技术为布鲁克AXS公司独家所有。l 数据开放。D8衍射仪的测量数据可以转换成标准的数据格式，因此，你可以编写您自己的应用程序，或使用一些共享软件如Rietveld分析等，因此，今后的扩展余地大。除软件本身提供的输出功能外，可方便地利用您所熟悉的输出工具，如Word、WPS97、EXCEL等；l 全谱衍射花样解决方案 TOtal Pattern Analysis Solution (TOPAS)TOAPS 包括以下三个部分：TOPAS I Indexing 指针化软件，采用Monte-Carlo 法进行粉末衍射数据的指针化；TOPAS P 基本参数法线形分析软件：无需标样即可进行线形的准确分析。同时，分析参数均含物理意义，可有效解决常规线形分析软件中存在的某些数学上符合而物理上不对的问题。对于有严重重迭峰、无合适标样等常规软件所不能解决的问题，该软件也能有效解决。这对于以下一些进一步相关的分析能提供更准确的分析结果，如衍射图谱指标化、点阵参数精化、定量分析、晶粒大小/微观应力分析、解结构等。此技术为布鲁克AXS公司独家所有。TOPAS R基于基本参数法的Rietveld分析软件：对于未知的新的物相，TOPAS R可以通过对其粉末衍射数据的分析求解其晶体结构参数，如原子排列方式等。同时还可进行无标样定量相分析。Rietveld分析是衍射分析的前沿领域；TOPAS R集成了目前所有成熟的线形分析方法，采用了独家所有的基本参数法、LeBail方法等，并且采用了图形化的操作方式，使得该研究相对来说更简便；最新的TOPAS V4版，除上述功能外，新增加以下功能：支持可变计数时间；使整个从低角度至非常高角度的资料保持相当的统计质量，遵守B-B 聚焦几何，资料可用于物相定量分析、结构精修、粉末解结构等；无标样相定量分析，包括部分或未知晶体结构的相定量分析、含非晶相的定量分析(PONKCS)。可以分析传统Rietveld法所不能的：非晶相、无序相、未知晶体结构的相定量，其定量准确度与已知晶体物相一样！特别是在以下工业领域，有着特别重要的意义：矿物和采矿工业：黏土分析医药工业： 无定形材料和同质异像体水泥工业： 炉渣添加剂和石膏脱水质量控制.此技术为布鲁克AXS公司独家所有。我们的软硬件完全集成化。在计算机上直接设置测量程序，然后由计算机进行自动控制。5 LynxEye 一维阵列探测器：是目前最快速的探测器，（1）该探测器共由192 个子探测器数组组成，在相同条件下，与常规的闪烁计数器（或正比计数器）相比，强度增益（或速度增益）高达150 倍，同时具有优秀的分辨率及信噪比。（2）超快的测量速度：测量国际标准样品NIST1976 刚玉标样的10-80 度范围仅用12 分钟。（3）良好的低角度测量：LynxEye 探测器在充分吸收布鲁克20 多年的数组探测器应用的基础上，基本克服了常规数组探测器低角度性能欠佳的弱点。（3）该探测器具有很低的背景，同时动态范围很高，其192 个子探测器的计数范围高达70 万cps，完全适合高强度及低强度信号的测量（4）良好的分辨率：具有基本上等同于点探测器+0.1mm 接受狭缝的分辨率。更高的探测器效率：98%。该探测器免维护（半导体探测器，不需充气，可断电），使用方便。5）活性面积大：14 mm X 16 mm, 6)具有动态扫描、静态扫描功能。6 系统重量：由于D8系统采用铅防护层，因此，整个系统重量较轻，同时，整个系统可拆装成3个部分，非常方便搬运，甚至人工就可搬运上楼；7 系统全面监测系统D8 tools：可以全面监测系统的上百种状态，包括输入/输出电路板、探测器接口电路板、马达驱动控制电路板、发生器、2q驱动、q驱动等，