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文档简介

ICT培训教材 目录 一 ICT的基本认识二 ICT的测试原理三 ICT测试程序的制作四 ICT误测分析五 ICT的转机流程六 ICT程序调试时注意事项七 ICT常见故障检修八 文件放置指引九 覆盖率的定义 一 ICT的基本认识 1 ICT即在线测试仪 InCircuitTester 是一大堆高级电表的组合 但它能对在线电路板上的元件测试进行有效的隔离 Guarding 而万用表则不能 所以 万用表能测的它也能测 万用表不能测的 它可能能测 2 ICT能测 Open Short R C L D Q IC等 3 ICT与ATE的区别 ICT只作静态测试 而ATE则作动态测试 即ICT对被测板不通电 而ATE要对被测板通电才能测试 二 ICT的测试原理 当Rx有旁路 R1 时 Ix Is I1 Is故 Vx Is Rx此时取A点电位Va 送至C点 令Vc Va 则 I1 Va Vc R1 0 Is Ix从而 Vx Is Rx如图 1 Guarding 隔离 的实现 2 量测电阻R 1 单个R modeD1 D2 直流定电流源 利用Vx IsRx 欧姆定律 则Rx Vx Is 信号源Is取恒流 0 1uA 5mA 量回Vx即可算出Rx值 如下图一 图一 图二 2 R C modeV5 CV 直流定电压源 信号源Vs取恒压 0 2V 量回Ix 则Rx Vs Ix 0 2V Ix 算出Rx值 如上图二 3 R L modeP1 P2 P3 P4 P5 相位法测试 信号源取交流电压源Vs 籍相位法辅助 Y Cos YRx 1 Rx 并 Y I x Vs故 Rx 1 Y Cos 如下图 3 量测电容C 电感L 1 单个C L ModeA1 A2 A3 A4 A5 交流定电压 交流电压源一定Vs Vs Ix Zc 1 2 fCx 求得 Cx Ix 2 fVs Vs Ix Zl 2 fLx 求得 Lx Vs 2 fIx 注 3UF以上电容用 ModelDC 2 C R或L R P1 P2 P3 P4 P5 相位法测试 1 Y Sin Ycx 即 Cx Sin Cx求得 Cx Cx Sin Cx Ix 2 fVs 2 Y Sin Ycx 即Sin Cx 1 Cx求得 Lx Lx Sin Lx Vs 2 fIx 如下图 4 量测PN结 D Q IC 信号源0 10V 3mAor30mA可程式电压源 量PN结导通电压一般顺向电压0 7V 反向电压2 2V 这里主要讲下三极管的三端量测法 晶体管做三端点量测时 假设晶体管为NPNtype 实际值 ACTval 设定值为DA1所送电压 标准值 STDval 设定值即为晶体管的VCES电压值 改变实际值 ACTval 从0 5V往上增加 直到晶体管饱和导通 测试值应低于0 2V 如果晶体管为PNPtype 改变实际值 ACTval 栏的电压 从4 5V往下减少 直到晶体管饱和导通 测试值应低0 2V 5 量测Open Short 即以阻抗判定 先对待测板上所有Pin点进行学习 R80 判为Open 6 低压测试方法 LV 低压功能测试是允许你供应某一定电压到零件两端 同时测量零件两端的电压 如测电容反向 Zener二极管 或IC都可使用此法 假设我们要测一个6V的稳压二极管 我们可以在实际值中填入9V 标准值中填入6 当实际植的单位是V 而标准值不是0时 系统会送出一个9V电压至稳压二极管两端 然后量测稳压二极管的电压是否为5 6V 从而判定好坏 LV模式最大送出电压为10V 7 高压测试方法 HV 高压测试的原理与设定方法与低压相似 只是在模式里选 HV 高压最大送出电压为50V 跳线测试 JumperTest 跳线测试 JumperTest 采用一个比较器硬件线路 因此 测试的结果只有 四个值 单位以JP表示 其代表的意义如下 JP 10欧姆 ohm JP 10欧姆 ohm 20欧姆 ohm JP 20欧姆 ohm 80欧姆 ohm JP 80欧姆 ohm 三 ICT测试程序的制作 一 准备好2PCS空PCB板 1PCS实板 1份BOM及原理图 邦线图 提供给供应商分析 二 供应商根据我们的要求制作测试机架及原始程序 三 根据BOM 电路图 针点图进行相对应的测试程序的调试 1 单板的调试按 Ctrl E 进入元件编辑界面先熟悉一下界面 对照坏机故障 加深印象 A元件 Component 的调试 R C L D Q 电阻 R Debug 1 根据R的大小 系统自动调整测试电流大小 F9 单步测试Alt F9 整页测试F5 对调AB点F10自动Guarding Alt H 查看串连元件 Alt J 查看并联元件 2 R C Model CV V5 3 R D Model D2 V5 4 R L Model P1 P2 P3 P4 P5 电容 C Debug 1 单个电容3uf以上信号源既可用交流也可用直流 300uf以上只可用DC模式 470pf以下用A4470pf 3uf用A1 A2 A3模式 2 C R Model A1 A2 A3 A4 A5 3 C L Model P1 P2 P3 P4 P5 4 C D Model DC A1 A5 D反向在0 5V以上 B IC的学习a按 Ctrl I 进入IC编辑界面按F4选出IC相对应的参考地 GND 或电源 VCC 按F3保存后退出b 进入元件编辑界面 然后按 ALT I进行保护二极体的学习 根据提示 按测试要求选择对话框 完成IC的自动学习并保存注意 IC的参考点GND VCC必须选对 检查IC脚位是否和测试针点相对应 否则将产生错误的程序 GND IC脚 针点 C OPEN SHORT的学习在测试界面按CTRL L 电脑将提示放入好板并进行学习 学习后保存退出注意 系统只会针对有测试点的网络进行学习 当单板程序调试稳定后 我们就可以产生多连板啦 2 多连板的产生A在测试界面单击设定 选择 产生多连板程序 命令将弹出以下对话框 你只用根据你的要求填入数字就可以啦比如要做一个8连板的程序 你就填入4 2 到时电脑将自动产生一个8连板的程序 B接下来将弹出一个对话框 提示输入第二块板的最小针点号 对照针点图找到第二块的最小针点 填入对话框在下面对话框里填入0 接下来是选择新文档存贮的路径 假如默认的话 文件将产生一个新的程序并保存在原文件夹中 不用担心会把原单板程序覆盖 最后把程序保存 一个完整的程序就完成啦 假如还有个别不稳定的项目 参考前面调试的方法 Debug直到稳定 四 ICT误测分析 1 ICT无法测试部分 记忆体IC EPROM SRAM DRAM 并联大10倍以上大电容的小电容 并联小20倍以上小电阻的大电阻 单端点之线路断线 D L D无法量测 6 跳线并连 7 IC之功能测试 2 PCB之测点或过孔绿油未打开 或PCB吃锡不好 3 压床压入量不足 探针压入量应以1 2 2 3为佳 4 经过免洗制程的PCB板上松香致探针接触不良 5 PCB板定位柱松动 造成探针触位偏离焊盘 6 治具探针不良损坏 7 零件厂牌变化 可放宽 IC可重新Learning 8 治具未Debug好 再进行Debug 9 ICT本身故障 五 ICT的转机流程 1 将待测Model的机架准备好 2 将红外线保护开关拔至OFF位置 依次序取下原测试机架上模和下模 的34Pin排线 3 将待测机架放入 对好上 下模位置并固定好 再依次序插好34Pin排线 64pin排线 4 固定好机架后 放一待测板在机架上 再调整行程控制感应开关 使上模 待测板 下模三者充分接触好后 再固定好感应开关 6 将红外线保护开关拔至ON位置 在D 目录下调出待测板的测试程序 红外线保护开关 试测试5 10片待测板 PASS后交由测试员操作 六 ICT程序调试时注意事项 换上新机架时 程序出现不稳定的现象 这时我们需作程式调整 但需注意如下几项 1首先要确定测试针是否良好 测试点是否接触良好 元件是否假焊 漏料 错料等不良 2按 Ctrl E 进入元件编辑 再按 Alt R 跳至测试不良项 按F9进行当前项测试 3调整程式时 要采用对比方式进行 即用多块板进行对比调试 4调试时 只能在模式 MD 光标移至此栏 按Space进行选择 档位進行選擇 光标移至此栏 按Space进行选择 延迟时间 A B点对调 F5 加隔离点 F10 五项中进行调试 5必要时 可调整上限 下限及标准植 6PF级电容调试时 不可改动标准值及实际值 只作杂散电容补偿调整 使用 Alt Y 自动补偿7 级电阻 测试时不稳定时 可根据实际情况作跳线测试 即实际值栏改为 JP 测试 JP标准 1JP 10 10 2JP 20 20 3JP 80 8电感测试不稳定时 也可作跳线测试 其方法与 级电阻设定相同 也可用频率 A2 A3 A4 A5 进行调试 如遇电感并联电容 电阻则用 P1 P2 P3 P4 P5 模式进行调试 七 ICT常见故障检修 1 系统板 自检板 DC板 AC板 开关板的侦测A 打开JET下的Jet300a dat文件进行系统测试 如果是电阻 二极管 三极管坏或不稳 多为DC板故障如果是电容坏或不稳 多为AC板故障两者都有 则有可能是系统板或自检板的故障B 打开下图中的自我测试 将会出现 其中MEASTEST就是系统板 自检板 DC板 AC板的检测RELAYTEST是多块开关板的检测 填入开关板的数量 就会显示测试结果当然 机台 卡槽也有可能影响测试 2 常用快捷捷键进入元件编辑界面CTRL E进入短路编辑界面CTRL P进入不测点编辑界面CTRL S进入IC编辑界面CTRL I进入开 短路路学习CTRL L在元件编辑中常用的快捷键寻找针点ALT P显示并联元件ALT J显示串联元件ALT H学习电容补偿值ALT Y单项测试F9整页测试ALT F9寻找隔离点F10取消隔离点F4 A B点对调F5选区ALT L取消选区ALT U移动选区ALT M自动校正ALT D排序ALT S区域编辑CTRL F取消不测F2在IC编辑里的快捷键地 电源转换

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