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科技成就未来地址：江苏昆山周庄大桥路145号电话5010502传真编：215325温度控制仪器产品简介温度控制仪器是专门为驱动半导体制冷片(热电制冷片)而设计的高性能温度控制系统(风冷)，其特点是高精度和高稳定度。输出负载为半导体制冷片(热电制冷片)。半导体制冷是利用帕尔帖效应原理工作的，具有高精度、长寿命、体积小、无噪声、无磨损、无振动、无污染、既可制冷又可加热等优点，是真正的绿色产品。本系列产品带有完美的PID控制软件，智能无级控温，既可加热又可制冷。它供给1路或多路的半导体制冷控制输出，可用于控制激光器件、医疗器件、半导体器件、红外探测器、光电倍增管、或其它任何需要温度控制的地方。该产品采用现代最新电力电子器件和高速微处理器(CPU)程序控制技术，以及PWM调制、双向电源、PID调节技术，具有优良的电压、电流输出特性，开关机时无过冲、反冲、浪涌现象，并带有过流、过压、过温、欠温等保护电路，以及RS232远程控制接口。采用字符型LCD显示，薄膜按键，并具有友好的人机界面和故障诊断功能。整机配置完善、性能稳定、性价比高，在国内外同类产品中处于先进地位。非常适合对温度的精度和稳定度要求较高的各类厂家、 公司、大学、科研机构、个人等使用。 温度控制仪器参数产品编号GWTEC输入电压90-132/180-264VAC 47-63HZ输出电压11vAX输出电流UP to 10A输入功率220W温控范围、精度5-85控制精度0.1控制方式内控通过面板调节控制RS232(可选功能)通过串口命令控制其它功能LED指示过温指示、过流指示，短路指示液晶显示256*64点阵液晶显示电源体积450*130*300（mm）机箱尺寸 WLH35cm35cm15cm应用领域： IC裸芯片热检测 集成电路的热点和短路故障探测 测量半导体结点温度（结温） 测量封装热阻确立热设计规则 激光二极管性能和失效分析 MEMS热成像分析 光纤光学热成像检测 半导体气体传感器的热分析 测量微交换器的热传输效率 微反应器的热成像测量 微激励器的温度测量 生物标本温度分析 材料的热性能检测 热流体分析产品特点： 智能无级调温，双向温度控制； 温度控制精度为0.1 度； 工作温度可任意设置(在585之间选择，其它范围可定制)； 工作温度超过上限/下限(软件设定)时报警； 用户可以修改温度PID 反馈参数； 恒温模式：双向冷热恒温 具有过流、过压、过热等保护； 具有硬件过温、欠温等保护电路； 高稳定,高抗干扰,完全消除温度采样通道中的50/60Hz 工频干扰； 采用字符液晶显示，薄膜按键； 上位机软件可以调节参数显示加热过程中不同目标点随时间变化的曲线温度控制仪器软件：温度控制仪器软件，能够帮助客户容易而快速地获得被测物体的温度信息，同时，它可以产生实时的显示关心点、线、区域的温度变化曲线、拍
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