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文档简介

.,1,统计过程控制SPC培训课程,.,2,第一节:SPC原理,本节内容:正态分布控制图介绍控制图分析过程能力,.,3,什么是SPC?,SPC是英文“StatisticalProcessControl”的简称,即“统计过程控制”20世纪20年代由贝尔实验室沃尔特.休哈特(WalterShewhart)在研究过程数据时首先开发应用的,他开发的一个简单有力的工具控制图。控制图已经成功地应用于各种各样的过程控制和改进中。,.,4,SPC的理论基础和数据基础,SPC的理论基础基于数据集根据数据集的特征建立数理统计模型根据模型特征建立预防控制的思想,.,5,抽出100个直径为10mm(公差为0.5mm)的螺丝,.,6,螺丝直径数据的特征,.,7,变差范围计算,用表示标准值10mm,用表示“等差”即“标准差”,则:,若将极差分成6等份,则:,.,8,数据的规律正态分布(normaldistribution),当n时呈正态分布,表示离散程度,或叫分布宽度。表示分布位置,或叫分布中心。这是两个相互独立的参数,.,9,正态分布的特点,值越小,分布范围越窄;越接近标准值,整体偏差就越小。,.,10,正态分布的标准变换,当=0,=1时,则:,.,11,正态分布的重要结论,不论与取值如何,产品质量特征值落在-3,+3范围内的概率为99.73%。,.,12,标准差(standarddeviation)计算,标准差计算公式标准差估算公式,当n时,s,.,13,演变成控制图(controlchart),.,14,应用,.,15,事件日志,.,16,常规的休哈特控制图,.,17,的制作,确定统计特性,见图1收集数据,计算前四组数的均值和极差,见图2确定控制图的刻度,将均值和极差画到控制图上,见图3计算平均极差及过程均值,计算控制限,见图4过程控制解释,见图4、图5重新计算控制限,见图6,.,18,计算公式,R=X最大值X最小值,计算子组(subgroup)平均值(mean)及其极差(range):,计算过程均值(processaverage)和平均极差:,.,19,计算公式,计算均值图上控制限和下控制线:,计算极差图上控制限和下控制限:,.,20,样本容量的D4、D3、A2值,.,21,稳态过程(stableprocess),造成过程变差由普通原因确定代表当时生产最佳性能可以估计出符合规范产品的比例成为满足顾客和产品的要求的一个度量对异常情况反应敏感,.,22,判稳准则,连续25个点在控制线内概率为0.00654连续35个点有一点在控制线外概率为0.0041连续100个点有两点在控制线外概率为0.0026,.,23,判异准则,.,24,模式1:点出界,1个点距中心线超过3个标准差(P=0.0027),.,25,模式2:链,连续7点在中心线的同一侧(P=0.0153)连续8点在中心线的同一侧(P=0.0076)连续9点在中心线的同一侧(P=0.0038),.,26,模式3:倾向,6点连续上升或下降(P=0.00273)7点连续上升或下降(P=0.00039),.,27,模式4:交替,连续14点交替上升或下降(P=0.0027),.,28,模式5:点接近控制线,连续3点中有2点接近控制界限判断异常(P=0.00268)连续7点中有3点接近控制界限判断异常(P=0.0024)连续14点中有4点接近控制界限判断异常(P=0.0023),.,29,模式6:间断偏离中心,连续5点中有4点距中心线大于一个标准差(同侧)(P=0.0021),.,30,模式7:点集中在中心线附近,连续15个点在距中心线一个标准差内(两侧)(P=0.00326),.,31,模式8:连续偏离中心,连续8个点距中心线大于1个标准差(两侧)(P=0.0002),.,32,变差原因(variationcause),在控制图上对打点出界或其他异常情况在图上注明原因变差原因分两类:普通原因(commoncause)特殊原因(specialcause),.,33,普通原因,过程分布不发生变化过程的输出可预测过程稳定、可控。由普通原因造成的问题只能通过系统措施才能消除。消除普通原因可以提高工程能力。通常由管理层解决问题,往往涉及资源投入,是持续改善的主要方面。,.,34,普通原因造成的变差,.,35,特殊原因,过程分布发生变化过程输出间断,不稳定,不可预测过程不可控采取局部措施消除原因,由过程直接相关的人员实施。,.,36,特殊原因造成的变差,.,37,局部措施和系统措施,局部措施通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的人员实施通常可纠正约20%的过程问题系统措施通常用来减少普通原因的变差几乎总是要求管理措施大约可纠正80%的过程问题,.,38,对过程采取的措施,改变操作操作员培训改变输入的材料改变过程的基本要素设备过程设计,.,39,其他控制图的制作,均值-样本标准差控制图(图)中位数-极差控制图(图)单值-移动极差控制图(图,见图7、图8)不合格品率控制图(p图,见图10、11、12)不合格品数控制图(pn图,见图13)缺陷数控制图(c图,见图14)单位缺陷数控制图(u图,见图15、图16),.,40,第二节:过程能力(proesscapability),本节内容过程变差和产品规范的关系过程能力过程能力与产品合格率的关系过程能力计算,.,41,过程控制,.,42,过程能力,.,43,统计控制四类情形,.,44,过程能力和过程性能,过程能力统计稳定过程的固有变差的6宽度。过程性能过程总变差的6S宽度。S为过程总标准差。能力指数:,性能指数:,T:表示公差(tolerance),.,45,典型CP值情况下质量特性值正态分布的图形,.,46,中心线偏离标准值,当中心线偏离标准值时过程能力以Cpk计算。,T/2,USL,LSL,PU,.,47,过程能力指数计算公式,.,48,过程性能指数计算公式,.,49,案例分析,从给定的样本根据平均极差来估计过程的标准差,.,50,过程的标准差估计,.,51,过程能力与不合格率的关系(查正态分布表),不合格率为PL+PU=0.0005+0.0129=0.0134,.,52,案例计算,.,53,Cp=0.67,p1-2(1K),.,54,Cp=1.00,p1-3(1K),.,55,Cp=1.33,p1-4(1K),.,56,Cp=1.6

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