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文档简介
2.2场效应半导体三极管,2.2.1绝缘栅场效应三极管的工作原理2.2.2伏安特性曲线2.2.3结型场效应三极管2.2.4场效应三极管的参数和型号2.2.5双极型和场效应型三极管的比较,1,场效应半导体三极管是仅由一种载流子参与导电的半导体器件,是一种用输入电压控制输出电流的的半导体器件。从参与导电的载流子来划分,它有电子作为载流子的N沟道器件和空穴作为载流子的P沟道器件。,从场效应三极管的结构来划分,它有两大类。1.结型场效应三极管JFET(JunctiontypeFieldEffectTransister),2.绝缘栅型场效应三极管IGFET(InsulatedGateFieldEffectTransister)IGFET也称金属氧化物半导体三极管MOSFET(MetalOxideSemiconductorFET),2,N沟道增强型MOS管的结构示意图和符号见图02.13。其中:D(Drain)为漏极,相当于集电极C;G(Gate)为栅极,相当于基极B;S(Source)为源极,相当于发射极E。,2.2.1绝缘栅场效应三极管的工作原理,绝缘栅型场效应管MOSFET(MetalOxideSemiconductorFET)。分为:增强型N沟道、P沟道耗尽型N沟道、P沟道,图02.13N沟道增强型MOSFET结构示意图,(动画2-3),3,一个是漏极D,一个是源极S。在源极和漏极之间的绝缘层上镀一层金属铝作为栅极G。P型半导体称为衬底,用符号B表示。,(1)N沟道增强型MOSFET结构,根据图02.13,N沟道增强型MOSFET基本上是一种左右对称的拓扑结构,它是在P型半导体上生成一层SiO2薄膜绝缘层,然后用光刻工艺扩散两个高掺杂的N型区,从N型区引出电极,,4,当栅极加有电压时,若0VGSVGS(th)时,通过栅极和衬底间的电容作用,将靠近栅极下方的P型半导体中的空穴向下方排斥,出现了一薄层负离子的耗尽层。耗尽层中的少子将向表层运动,但数量有限,不足以形成沟道,将漏极和源极沟通,所以不可能以形成漏极电流ID。,工作原理1栅源电压VGS的控制作用,当VGS=0V时,漏源之间相当两个背靠背的二极管,在D、S之间加上电压不会在D、S间形成电流。,5,VGS对漏极电流的控制关系可用:ID=f(VGS)VDS=const这一曲线描述,称为转移特性曲线,见图02.14。,进一步增加VGS,当VGSVGS(th)时(称为开启电压),此时的栅极电压已经比较强,在靠近栅极下方的P型半导体表层中聚集较多的电子,可以形成沟道,将漏极和源极沟通。如果此时加有漏源电压,就可以形成漏极电流ID。在栅极下方形成的导电沟道中的电子,因与P型半导体的载流子空穴极性相反,故称为反型层。,随着VGS的继续增加,ID将不断增加。在VGS=0V时ID=0,只有当VGSVGS(th)后才会出现漏极电流,这种MOS管称为增强型MOS管。,(动画2-4),6,图02.14VGS对漏极电流的控制特性转移特性曲线,转移特性曲线的斜率gm的大小反映了栅源电压对漏极电流的控制作用。gm的量纲为mA/V,所以gm也称为跨导。跨导的定义式如下gm=ID/VGSVDS=const(单位mS),ID=f(VGS)VDS=const,7,2漏源电压VDS对漏极电流ID的控制作用,VDS=VDGVGS=VGDVGSVGD=VGSVDS,当VDS为0或较小时,相当VGSVGS(th),沟道分布如图,此时VDS基本均匀降落在沟道中,沟道呈斜线分布。,图02.15(a)漏源电压VDS对沟道的影响,(动画2-5),当VGSVGS(th),且固定为某一值时,来分析漏源电压VDS对漏极电流ID的影响。VDS的变化对沟道的影响如图02.15所示。根据此图可以有如下关系:,8,当VDS为0或较小时,相当VGSVGS(th),沟道分布如图02.15(a),此时VDS基本均匀降落在沟道中,沟道呈斜线分布。,当VDS增加到使VGS=VGS(th)时,沟道如图02.15(b)所示。这相当于VDS增加使漏极处沟道缩减到刚刚开启的情况,称为预夹断。,当VDS增加到VGSVGS(th)时,沟道如图02.15(c)所示。此时预夹断区域加长,伸向S极。VDS增加部分基本降落在随之加长的夹断沟道上,ID基本趋于不变。,当VGSVGS(th),且固定为某一值时,VDS对ID的影响,即ID=f(VDS)VGS=const这一关系曲线如图02.16所示。这一曲线称为漏极输出特性曲线。,9,图02.16漏极输出特性曲线,ID=f(VDS)VGS=const,10,(2)N沟道耗尽型MOSFET,当VGS0时,将使ID进一步增加。VGS0时,随着VGS的减小漏极电流逐渐减小,直至ID=0。对应ID=0的VGS称为夹断电压,用符号VGS(off)表示,有时也用VP表示。N沟道耗尽型MOS的转移特性曲线如图02.17(b)所示。,N沟道耗尽型MOS的结构和符号如图02.17(a)所示,它是在栅极下方的SiO2绝缘层中掺入了大量的金属正离子。所以当VGS=0时,这些正离子已经在感应出反型层,在漏源之间形成了沟道。于是只要有漏源电压,就有漏极电流存在。,11,(a)结构示意图(b)转移特性曲线图02.17N沟道耗尽型MOSFET的结构和转移特性曲线,12,(3)P沟道耗尽型MOSFET,P沟道MOSFET的工作原理与N沟道MOSFET完全相同,只不过导电的载流子不同,供电电压极性不同而已。这如同双极型三极管有NPN型和PNP型一样。,13,2.2.2伏安特性曲线,场效应三极管的特性曲线类型比较多,根据导电沟道的不同,以及是增强型还是耗尽型可有四种转移特性曲线和输出特性曲线,其电压和电流方向也有所不同。如果按统一规定正方向,特性曲线就要画在不同的象限。为了便于绘制,将P沟道管子的正方向反过来设定。有关曲线绘于图02.18之中。,14,图02.18各类场效应三极管的特性曲线,15,16,17,2.2.3结型场效应三极管,(1)结型场效应三极管的结构,(动画2-8),图02.19结型场效应三极管的结构,18,(2)结型场效应三极管的工作原理,根据结型场效应三极管的结构,因它没有绝缘层,只能工作在反偏的条件下,对于N沟道结型场效应三极管只能工作在负栅压区,P沟道的只能工作在正栅压区,否则将会出现栅流。现以N沟道为例说明其工作原理。,19,栅源电压对沟道的控制作用,当VGS=0时,在漏极与源极之间加有一定电压,在漏、源间将形成多子漂移运动,产生漏极电流。当VGS0时,PN结反偏,耗尽层加厚,漏、源间的沟道将变窄、电阻增大、ID减小,VGS继续减小,沟道继续变窄,ID继续减小直至为0。当漏极电流为零时所对应的栅源电压VGS称为夹断电压VGS(off)。这一过程如图02.20所示。,(动画2-9),20,漏源电压对沟道的控制作用,当VDS增加到使VGD=VGS-VDS=VGS(off)时,在紧靠漏极处出现预夹断,如图02.21(b)示。当VDS继续增加,漏极处的夹断继续向源极方向生长延长。以上过程与绝缘栅场效应三极管十分相似,见图02.15。,在栅极加上电压,且VGSVGS(off),若漏源电压VDS从零开始增加,则VGD=VGS-VDS将随之减小。使靠近漏极处的耗尽层厚度加宽,沟道变窄,从左至右呈楔形分布,如图02.21(a)所示。,(动画2-9),21,(3)结型场效应三极管的特性曲线,JFET的特性曲线有两条,一是转移特性曲线,二是输出特性曲线。它与MOSFET的特性曲线基本相同,只不过MOSFET的栅压可正、可负,而结型场效应三极管的栅压只能是P沟道的为正或N沟道的为负。JFET的特性曲线如图02.22所示。,22,(a)漏极输出特性曲线(b)转移特性曲线图02.22N沟道结型场效应三极管的特性曲线动画(2-6)动画(2-7),23,2.2.4场效应三极管的参数和型号,(1)场效应三极管的参数开启电压VGS(th)(或VT)开启电压是MOS增强型管的参数,栅源电压小于开启电压的绝对值,场效应管不能导通。,夹断电压VGS(off)(或VP)夹断电压是耗尽型FET的参数,当VGS=VGS(off)时,漏极电流为零。,饱和漏极电流IDSS耗尽型场效应三极管,当VGS=0时所对应的漏极电流。,24,输入电阻RGS场效应三极管的栅源输入电阻的典型值,对于结型场效应三极管,反偏时RGS约大于107,对于绝缘栅型场效应三极管,RGS约是1091015。,低频跨导gm低频跨导反映了栅压对漏极电流的控制作用,这一点与电子管的控制作用相似。gm可以在转移特性曲线上求取,单位是mS(毫西门子)。,最大漏极功耗PDM最大漏极功耗可由PDM=VDSID决定,与双极型三极管的PCM相当。,25,(2)场效应三极管的型号,场效应三极管型号,现行有两种命名方法。其一是与双极型三极管相同,第三位字母J代表结型场效应管,O代表绝缘栅场效应管。第二位字母代表材料D是P型硅,反型层是N沟道;C是N型硅P沟道。例如,3DJ6D是结型N沟道场效应三极管,3DO6C是绝缘栅型N沟道场效应三极管。,第二种命名方法是CS#,CS代表场效应管,以数字代表型号的序号,#用字母代表同一型号中的不同规格。例如CS14A、CS45G等。,26,几种常用的场效应三极管的主要参数见表02.02。,27,半导体三极管(场效应管)图片,28,半导体三极管图片,29,2.2.5双极型和场效应型三极管的比较,双极型三极管场效应三极管结构NPN型结型耗尽型N沟道P沟道PNP
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