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文档简介
基本门电路的逻辑功能测试实验一、实验目的1、测试和门、非门、非门或非门以及其他或门的逻辑功能。2、了解测试方法和测试原理。二、实验原理实验中使用的默认浇口回路的符号为：在要测试芯片的输入端使用逻辑级别输出设备输入父级别和子级别，然后使用逻辑级别显示设备显示相应的逻辑功能。三、实验设备和装置1、数字逻辑电路Proteus2、显示可用的发光二极管。3、相应的74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片。四、实验内容1.测试TTL浇口电路的逻辑功能：a)测试74LS08的逻辑功能。(和门)000 010 100 111b)测试74LS32的逻辑功能。(或门)000 011 101 111c)测试74LS04的逻辑功能。(不是门)01 10d)测试74LS00的逻辑功能。(两个都不亮，另一个不亮) (和非门) (如果一个接一个，则为非门)001 011 101 110e)测试74LS02(或非门)的逻辑功能。(两者都不亮时，另一面不亮)001 010 100 110f)测试74LS86 (xor door)的逻辑功能。2.CMOS门电路的逻辑功能测试：在CMOS 4000分类中查询a)测试CC4081(74HC08)的逻辑功能。(和门)b)测试CC4071(74HC32)的逻辑功能。(或门)c)测试CC4069(74HC04)的逻辑功能。(不是门)d)测试CC4011(74HC00)的逻辑功能。(和非门) (如果只收到一个，则为非门)e)测试CC4001(74HC02)(或非网关)的逻辑功能。f)测试CC4030(74HC86)(异或网关)的逻辑功能。五、实验报告要求1.绘制各门电路的真值表表格，并将实验结果填在表格中。2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，分析判断其逻辑门好坏的方法。3.比较两种栅极输入部电阻或空时的情况。4.查看各种合并语句的鳍分配，并显示每个鳍的角色和功能。示例：74LS00门Y=AB输入输出aby00001010011174LS32或门Y=A B输入输出aby00011111111174LS04输出ay0000101174LS0274LS86两个都亮，两个都不亮
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