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文档简介

第13章选区电子衍射和衍射图样的校准，主要内容，选区电子衍射图样的校准，13.1选区电子衍射(SAD)。基本原理和特点根据物镜放大率选择特定尺寸的孔径，分析特定微区的相位结构。有利于选择多晶样品中的单个晶粒进行分析。照相机常数，根据图中的几何关系：电子衍射的基本公式，13.2衍射图形的校准，单晶电子衍射图形和13.2.1单晶电子衍射图形的校准。目的：确定零层互等截面上各ghkl矢量端点(互等阵列点)的指数；确定零层横截面的法线方向(即晶带轴)；确定样品的晶格类型、相位和方向。校准的基本原理，特征平行四变形，已知相机常数和样品晶体结构相机常数未知，晶体结构已知衍射图样校准相机常数已知，晶体结构未知衍射图样校准标准图样比较法查表法，校准的基本方法，1)已知相机常数和样品晶体结构，立方系统，uvw=r1r2，应用实例1:该图显示了纯镍的电子衍射光谱(a=0.3523nm)， 相机常数l =1.12毫米。R1=13.9毫米，R2=5.5毫米，R3=14.25毫米，R2 R1夹角82度，在nm处测量。 R2和R3之间的夹角为76。校准衍射光谱。1)根据电子衍射的基本公式，D1=0.0805纳米，D2=0.2038纳米，D3=0.0784纳米2)镍是面心立方结构，对应的衍射平面群指数为331，111，4203) r2选择为对应于点指数(111)4) r1根据夹角公式得到对应于点指数5)的点指数，其他点根据矢量运算得到。6)晶体带轴r1r2=，r1，r2，r3，2)当照相机常数未知且晶体结构已知时衍射图案的校准，测量距离R1，r2，R3，R4，从中心光斑附近的几个衍射光斑到中心光斑，根据R2j的序列比并结合晶格消光规律来判断晶体的晶格类型。根据对应于某个r的n值，确定衍射平面指数。在其他情况下(步骤4-8，步骤1、2和3 ),当照相机常数已知且晶体结构未知时，校准衍射图案，并测量低折射率光斑的r值。应该在几个不同的方向拍摄电子衍射图，以确保可以测量最高的8 r值。1.根据r，计算每个d值。2.检查PDF卡，与每个d值一致的目标图像就是要测量的晶体。3.4)标准模式比较方法。直接将实际观察和记录的衍射图样与标准图样进行比较，写出斑点指数并确定晶带轴的方向。5)查表法，根据“衍射矢量”R2/R1与R1和R2的夹角，检查相关晶体结构数据表。要求R1R2。应用实例：18Cr2Ni4WA钢淬火组织的SAD图(板条马氏体和板条间残余奥氏体的复合衍射图)，板条马氏体衍射图的标定：R1、R2和R3的测量长度分别为10.2毫米、10.2毫米和14.4毫米。测量R1和R2之间的夹角为90；R1和R3之间的夹角为45。残余奥氏体衍射图的校准：R1、R2和R3的长度分别测量为10.2毫米、10.2毫米和16.8毫米。R1和R2之间的夹角是70度；R1和R3之间的夹角为35，操作：下图显示了物体的电子
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