bga封装工艺技术

BGA封装技术摘要本文简述了BGA封装产品的特点、结构以及一些BGA产品的封装工艺流程，对BGA封装中芯片和基板两种互连方法引线键合倒装焊键合进行了比较以及对几种常规BGA封装的成本性能的比较，并介绍了BGA产品的可靠性。另外，还对开发我国BGA封装技术提出了建议。关键词BGA；结构；基板；引线键合；倒装焊键合中图分类号TN30594文献标识码1引言在当今信息时代，随着电子工业的迅猛发展，计算机、移动电话等产品日益普及。人们对电子产品的功能要求越来越多、对性能要求越来越强，而体积要求却越来越小、重量要求越来越轻。这就促使电子产品向多功能、高性能和小型化、轻型化方向发展。为实现这一目标，IC芯片的特征尺寸就要越来越小，复杂程度不断增加，于是，电路的IO数就会越来越多，封装的IO密度就会不断增加。为了适应这一发展要求，一些先进的高密度封装技术就应运而生，BGA封装技术就是其中之一。集成电路的封装发展趋势如图1所示。从图中可以看出，目前BGA封装技术在小、轻、高性能封装中占据主要地位。BGA封装出现于90年代初期，现已发展成为一项成熟的高密度封装技术。在半导体IC的所有封装类型中，19962001年这5年期间，BGA封装的增长速度最快。在1999年，BGA的产量约为10亿只，在2004年预计可达36亿只。但是，到目前为止该技术仅限于高密度、高性能器件的封装，而且该技术仍朝着细节距、高IO端数方向发展。BGA封装技术主要适用于PC芯片组、微处理器控制器、ASIC、门阵、存储器、DSP、PDA、PLD等器件的封装。2BGA封装的特点BGABDLLGRIDARRAY封装，即焊球阵列封装，它是在封装体基板的底部制作阵列焊球作为电路的IO端与印刷线路板PCB互接。采用该项技术封装的器件是一种表面贴装型器件。与传统的脚形贴装器件LEADEDDECE如QFP、PLCC等相比，BGA封装器件具有如下特点。1IO数较多。BGA封装器件的IO数主要由封装体的尺寸和焊球节距决定。由于BGA封装的焊料球是以阵列形式排布在封装基片下面，因而可极大地提高器件的IO数，缩小封装体尺寸，节省组装的占位空间。通常，在引线数相同的情况下，封装体尺寸可减小30以上。例如CBGA49、BGA320节距127MM分别与PLCC44节距为127MM和MOFP304节距为08MM相比，封装体尺寸分别缩小了84和47，如图2所示。2提高了贴装成品率，潜在地降低了成本。传统的QFP、PLCC器件的引线脚均匀地分布在封装体的四周，其引线脚的节距为127MM、10MM、08MM、065MM、05MM。当IO数越来越多时，其节距就必须越来越小。而当节距540。另外，选用哪一种互连方式还取决于所使用封装体基片材料的物理特性和器件的应用条件。目前PBGA的互连常用引线键合方式，CBGA常用倒装焊方式，TBGA两种互连方式都有使用。目前，当IO数25LLM，这就要求键合引线必须具有高的线性度和良好的弧形。513键合强度由于芯片和基片上的焊盘面积都比较小，所以精密距焊接时使用的劈刀是瓶颈型劈刀，头部直径也较小，而小直径的劈刀头部和窄引线脚将导致基片上焊点的横截面积较小，从而会影响键合强度。514低温处理塑封BGA的基片材料通常是由具有低玻璃化温度TG约为175、高的热膨胀系数CTE约为13PPM的聚合物树脂制成的，因此在封装过程中的芯片装片固化、焊线、模塑等都必须在较低的温度下进行。而当在低温下进行键合时，对键合强度和可靠性会产生不良影响。要解决这一问题就必须要求键合机的超声波发生器具有较高100KHZ以上的超声频率。因此，在制造工艺上对键合机、键合工具、键合丝都提出了挑战。对键合机的要求具有良好的成球控制能力，具有100KHZ以上的超声频率，能在低温下实现精密距焊接，能精确地控制键合引线弧形，键合质量具有良好的重复性等。目前新一代的键合机都能满足上述要求。对劈刀的要求必须具有良好的几何形状，能适应高频键合，以提供足够高的键合强度；材质好，使用寿命长。对键合丝的要求必须具有好的中、低弧度长弧线性能，良好的韧性及抗拉强度。52倒装焊方式最近几年，倒装焊技术的应用急剧增长，它与引线键合技术相比，有3个特点倒装焊技术克服了引线键合焊盘中心距极限的问题。在芯片的电源地线分布设计上给电子设计师提供了更多的便利。为高频率、大功率器件提供更完善的信号。倒装焊具有焊点牢固、信号传输路径短、电源地分布、IO密度高、封装体尺寸小、可靠性高等优点，其缺点是由于凸点的制备是在前工序完成的，因而成本较高。倒装焊的凸点是在圆片上形成的，制成后再进行圆片切割，合格的芯片被吸附、浸入助焊剂中，然后放置在基片上在芯片的移植和处理过程中，助焊剂必须有足够的粘度来粘住芯片，接着将焊料球回流以实现芯片与基片的互连。在整个加工过程中，工艺处理的是以圆片、芯片和基片方式进行的，它不是单点操作，因而处理效率较高。采用倒装焊方式需要考虑的几个相关问题。521基板技术对倒装焊而言，现在有许多基板可供选择，选择的关键因素在于材料的热膨胀系数CTE、介电常数、介质损耗、电阻率和导热率等。在基板与芯片一级互连之间或基板与PCB板二级互连之间的TCE失配是造成产品失效的主要原因。CTE失配产生的剪切应力将引起焊接点失效。通常封装体的信号的完整性与基片的绝缘电阻、介电常数、介质损耗有直接的关系。介电常数、介质损耗与工作频率关系极大，特别是在频率1GHZ时。当选择基板时应考虑上述因素。对倒装焊而言，使用有机物基板非常流行，它是以高密度多层布线和微通孔基板技术为基础制造的，其特点是有着低的互连电阻和低的介电常数。它的局限性在于在芯片与基板之间高的CTE差会产生大的热失配；在可靠性环境试验中，与同类型的陶瓷封装器件相比，可靠性较差，其主要原因是水汽的吸附。现有的CBGA、CCGA封装采用的基板为氧化铝陶瓷基板，其局限性在于它的热膨胀系数与PCB板或卡的热膨胀系数相差较大，而热失配容易引起焊点疲劳。它的高介电常数、电阻率也不适用于高速、高频器件。现已经开发出一种新的陶瓷基板HITCE陶瓷基板，它有3个主要特点，122PPM的CTE，低的介电常数54，低阻的铜互连系统。它综合了氧化铝陶瓷基板和有机物基板的最佳特性，其封装产品的可靠性和电性能得以提高。表3为陶瓷基板和有机物基板材料特性的比较。522凸点技术也许倒装焊技术得以流行是由于现在有各种各样的凸点技术服务。现在常用的凸点材料为金凸点，95PB5SN、90PBL0SN焊料球回流焊温度约350，有的也采用63PB37SN焊料球回流焊温度约220焊料凸点技术的关键在于当节距缩小时，必须保持凸点尺寸的稳定性。焊料凸点尺寸的一致性及其共面性对倒装焊的合格率有极大的影响。523底部填充在绝大多数的倒装焊产品中都采用了底部填充剂，其作用是缓解芯片和基板之间由CTE差所引起的剪切应力。6常规BGA封装的成本性能比较常规BGA封装的成本和性能比较如表4。7BGA产品的可靠性产品的封装可靠性主要取决于封装设计、封装材料的选择和组装工艺。塑封料湿气的吸附，界面的粘结强度，芯片、引线键合、焊料球接点处的应力是影响器件可靠性的主要因素。目前所有采用BGA封装的产品都能满足以下的可靠性指标8我们的建议我国的封装技术极为落后，目前仍然停留在PDIP、PSOP、PQFP、PLCC、PGA等较为低档产品的封装上。国外的BGA封装在1997年就已经规模化生产，在国内除了合资或国外独资企业外，没有一家企事业单位能够进行批量生产，其根本原因是既没有市场需求牵引，也没有BGA封装需要的技术来支撑。对于国内BGA封装技术的开发和应用，希望国家能够予以重视和政策性倾斜。开发BGA封装技术目前需要解决的总是应有以下几项需要解决BGA封装的基板制造精度问题和基板多层布线的镀通孔质量问题；需要解决BGA封装中的焊料球移植精度问题；倒装焊BGA封装中需要解决凸点的制备问题；需要解决BGA封装中的可靠性问题。9结束语封装密度、热、电性能和成本是BGA封装流行的主要原因。随着时间的推移，BGA封装会有越来越多的改进，性价比将得到进一步的提高，由于其灵活性和优异的性能，BGA封装有着广泛的前景。正因为BGA封装有如此的优越性，我们也应该开展BGA封装技术的研究，把我国的封装技术水平进一步提高，为我国电子工业作出更大的贡献。CSP封装技术摘要CSP技术是最近几年才发展起来的新型集成电路封装技术。应用CSP技术封装的产品封装密度高，性能好，体积小，重量轻，与表面安装技术兼容，因此它的发展速度相当快，现已成为集成电路重要的封装技术之一。目前已开发出多种类型CSP，品种多达100多种；另外，SP产品的市场也是很大的，并且还在不断扩大。但是CSP技术、CSP产品市场是国外的或国外公司的。我们需要开发我们的CSP技术，当然，开发CSP技术难度比较大，需要的资金多，因此需要国内多个部门协作，以及国家投入较多的资金。关键词芯片尺寸封装；封装技术；表面安装技术；基片中图分类号TN30594文献标识码A1前言CSPCHIPSIZEPACKAGE，即芯片尺寸封装。它的面积组装占用印制板的面积与芯片尺寸相同或比芯片尺寸稍大一些，而且很薄。这种封装形式是由日本三菱公司在1994年提出来的。对于CSP，有多种定义日本电子工业协会把CSP定义为芯片面积与封装体面积之比大于80的封装；美国国防部元器件供应中心的JSTK012标准把CSP定义为LSI封装产品的面积小于或等于LSI芯片面积的120的封装；松下电子工业公司将之定义为LSI封装产品的边长与封装芯片的边长的差小于IMM的产品等。这些定义虽然有些差别，但都指出了CSP产品的主要特点封装体尺寸小。CSP技术是在电子产品的更新换代时提出来的，它的目的是在使用大芯片芯片功能更多，性能更好，芯片更复杂替代以前的小芯片时，其封装体占用印刷板的面积保持不变或更小。正是由于CSP产品的封装体小、薄，因此它的手持式移动电子设备中迅速获得了应用。在1996年8月，日本SHARP公司就开始了批量生产CSP产品；在1996年9月，日本索尼公司开始用日本TI和NEC公司提供的CSP产品组装摄像机；在1997年，美国也开始生产CSP产品。目前，世界上已有几十家公司可以提供CSP产品，各类CSP产品品种多达一百种以上。由于CSP产品的体积小、薄，因而它改进了封装电路的高频性能，同时也改善了电路的热性能；另外，CSP产品的重量也比其它封装形式的轻得多，除了在手持式移动电子设备中应用外，在航天、航空，以及对电路的高频性能、体积、重量有特殊要求的军事方面也将获得广泛应用。2CSP产品的特点CSP是目前最先进的集成电路封装形式，它具有如下一些特点体积小。在各种封装中，CSP是面积最小，厚度最小，因而是体积最小的封装。在输入输出端数相同的情况下，它的面积不到05MM间距QFP的十分之一，是BGA或PGA的三分之一到十分之一。因此，在组装时它占用印制板的面积小，从而可提高印制板的组装密度，厚度薄，可用于薄形电子产品的组装；输入输出端数可以很多。在相同尺寸的各类封装中，CSP的输入输出端数可以做得更多。例如，对于40MM40MM的封装，QFP的输入输出端数最多为304个，BGA的可以做到600700个，而CSP的很容易达到1000个。虽然目前的CSP还主要用于少输入输出端数电路的封装；电性能好。CSP内部的芯片与封装外壳布线间的互连线的长度比QFP或BGA短得多，因而寄生参数小，信号传输延迟时间短，有利于改善电路的高频性能。热性能好。CSP很薄，芯片产生的热可以很短的通道传到外界。通过空气对流或安装散热器的办法可以对芯片进行有效的散热；CSP不仅体积小，而且重量轻，它的重量是相同引线数的QFP的五分之一以下，比BGA的少得更多。这对于航空、航天，以及对重量有严格要求的产品应是极为有利的。CSP电路，跟其它封装的电路一样，是可以进行测试、老化筛选的，因而可以淘汰掉早期失效的电路，提高了电路的可靠性；另外，CSP也可以是气密封装的，因而可保持气密封装电路的优点。CSP产品，它的封装体输入输出端焊球、凸点或金属条是在封装体的底部或表面，适用于表面安装。3CSP的分类目前，CSP产品已有100多种，封装类型也多，主要有如下五种31柔性基片CSP柔性基片CSP的IC载体基片是用柔性材料制成的，主要是塑料薄膜。在薄膜上制作有多层金属布线。采用TAB键合的柔性基片CSP产品的典型结构示意图如图1。采用TAB键合的CSP，使用周边焊盘芯片。32硬质基片CSP硬质基片CSP的IC载体基片是用多层布线陶瓷或多层布线层压树脂板制成的。采用倒装片的陶瓷基片CSP产品结构示意图如图2；采用引线键合的树脂基片CSP产品的典型结构示意如图3。33引线框架CSP引线框架CSP，使用类似常规塑封电路的引线框架，只是它的尺寸要小些，厚度也薄，并且它的指状焊盘伸人到了芯片内部区域。引线框架CSP多采用引线键合金丝球焊来实现芯片焊盘与引线框架CSP焊盘的连接。它的加工过程与常规塑封电路加工过程完全一样，它是最容易形成规模生产的。引线框架CSP产品的典型结构示意图如图4。34圆片级CSP圆片级CSP，是先在圆片上进行封装，并以圆片的形式进行测试，老化筛选，其后再将圆片分割成单一的CSP电路。35叠层CSP把两个或两个以上芯片重叠粘附在一个基片上，再封装起来而构成的CSP称为叠层CSP。在叠层CSP中，如果芯片焊盘和CSP焊盘的连接是用键合引线来实现的，下层的芯片就要比上层芯片大一些，在装片时，就可以使下层芯片的焊盘露出来，以便于进行引线键合。在叠层CSP中，也可以将引线键合技术和倒装片键合技术组合起来使用。如上层采用倒装片芯片，下层采用引线键合芯片。引线键合叠层CSP结构示意图如图5；倒装片键合叠层CSP结构示意图如图6。4CSP产品的封装工艺流程目前，CSP产品的品种很多，封装类型也很多，因而具体的封装工艺也很多。不同类型的CSP产品有不同的封装工艺，一些典型的CSP产品的封装工艺流程如下41柔性基片CSP产品的封装工艺流程柔性基片CSP产品，它的芯片焊盘与基片焊盘问的连接方式可以是倒装片键合、TAB键合、引线键合。采用的连接方式不同，封装工艺也不同。1采用倒装片键合的柔性基片CSP的封装工艺流程圆片二次布线焊盘再分布减薄形成凸点划片倒装片键合模塑包封在基片上安装焊球测试、筛选激光打标2采用TAB键合的柔性基片CSP产品的封装工艺流程圆片在圆片上制作凸点减薄、划片TAB内焊点键合把引线键合在柔性基片上TAB键合线切割成型TAB外焊点键合模塑包封在基片上安装焊球测试筛选激光打标3采用引线键合的柔性基片CSP产品的封装工艺流程圆片减薄、划片芯片键合引线键合模塑包封在基片上安装焊球测试、筛选激光打标42硬质基片CSP产品的封装工艺流程硬质基片CSP产品封装工艺与柔性基片的封装工艺一样，芯片焊盘与基片焊盘之间的连接也可以是倒装片键合、TAB键合、引线键合。它的工艺流程与柔性基片CSP的完全相同，只是由于采用的基片材料不同，因此，在具体操作时会有较大的差别。43引线框架CSP产品的封装工艺流程引线框架CSP产品的封装工艺与传统的塑封工艺完全相同，只是使用的引线框架要小一些，也要薄一些。因此，对操作就有一些特别的要求，以免造成框架变形。引线框架CSP产品的封装工艺流程如下圆片减薄、划片芯片键合引线键合模塑包封电镀切筛、引线成型测试筛选激光打标44圆片级CSP产品的封装工艺流程1在圆片上制作接触器的圆片级CSP的封装工艺流程；圆片二次布线减薄在圆片上制作接触器接触器电镀测试、筛选划片激光打标2在圆片上制作焊球的圆片级CSP的封装工艺流程圆片二次布线减薄在圆片上制作焊球模塑包封或表面涂敷测试、筛选划片激光打标45叠层CSP产品的封装工艺流程叠层CSP产品使用的基片一般是硬质基片。1采用引线键合的叠层CSP的封装工艺流程；圆片减薄、划片芯片键合引线键合包封在基片上安装焊球测试筛选激光打标采用引线键合的CSP产品，下面一层的芯片尺寸最大，上面一层的最小。芯片键合时，多层芯片可以同时固化导电胶装片，也可以分步固化；引线键合时，先键合下面一层的引线，后键合上面一层的引线。2采用倒装片的叠层CSP产品的封装工艺流程圆片二次布线减薄、制作凸点划片倒装键合下填充包封在基片上安装焊球测试筛选激光打标在叠层CSP中，如果是把倒装片键合和引线键合组合起来使用。在封装时，先要进行芯片键合和倒装片键合，再进行引线键合。5开发CSP产品需要解决的一些技术问题51CSP产品的标准化问题CSP是近几年才出现的一种集成电路的封装形式，目前已有上百种CSP产品，并且还在不断出现一些新的品种。尽管如此，CSP技术还是处于发展的初期阶段，因此还没有形成统一的标准。不同的厂家生产不同的CSP产品。一些公司在推出自己的产品时，也推出了自己的产品标准。这些标准包括产品的尺寸长、宽、厚度、焊球间距、焊球数等。SHARP公司的CSP产品的标准有如表1、表2。在我国，要开发CSP产品，也需要建立一个统一的标准，以便帮助我们自己的CSP产品的开发和应用。52CSP产品的封装技术问题在CSP中，集成电路芯片焊盘与封装基片焊盘的连接方式主要有三种倒装片键合、TAB键合、引线键合，因此，开发CSP产品需要开发的封装技术就可以分为三类。521开发倒装片键合CSP产品需要开发的封装技术A二次布线技术二次布线，就是把IC的周边焊盘再分布成间距为200微米左右的阵列焊盘。在对芯片焊盘进行再分布时，同时也形成了再分布焊盘的电镀通道。B凸点形成电镀金凸点或焊料凸点技术。在再分布的芯片焊盘上形成凸点。C倒装片键合技术。把带有凸点的芯片面朝下键合在基片上。D包封技术。包封时，由于包封的材料厚度薄，空洞、裂纹的存在会更严重的影响电路的可靠性。因此，在包封时要减少甚至避免孔洞、裂纹的出现。另外，还要提高材料的抗水汽渗透能力。因此，在CSP产品的包封中，不仅要提高包封技术，还要使用性能更好的包封材料。E焊球安装技术。在基片下面安装焊球。F在开发叠层倒装片CSP产品中，还需要开发多层倒装片键合技术。522开发引线键合CSP产品需要开发的封装技术目前，有不少的CSP产品40左右是使用引线键合技术来实现芯片焊盘和封装外壳引出焊盘间的连接的。开发引线键合CSP产品需要开发如下一些封装技术。A短引线键合技术在基片封装CSP中，封装基片比芯片尺寸稍大大1MM左右；在引线框架CSP中，引线框架的键合焊盘伸到了芯片上面，在键合时，键合线都很短，而且弧线很低。而在键合引线很短时，键合引线的弧线控制很困难。B包封技术在引线键合CSP的包封中，不仅要解决倒装片CSP包封中的有关技术问题，还要解决包封的冲丝问题。C焊球安装技术。D在开发叠层引线键合CSP的产品中，还需要开发多层引线的键合技术。523开发TAB键合CSP产品需要开发的封装技术ATAB键合技术。B包封技术。C焊球安装技术。524开发圆片级CSP产品需要开发的新技术A二次布线技术。B焊球制作技术。C包封技术。D圆片级测试和筛选技术。E圆片划片技术。53与CSP产品相关的材料问题要开发CSP产品，还必须解决与CSP封装相关的材料问题。531CSP产品的封装基片在CSP产品的封装中，需要使用高密度多层布线的柔性基片、层压树脂基片、陶瓷基片。这些基片的制造难度相当大。要生产这类基片，需要开发相关的技术。同时，为了保证CSP产品的长期可靠性，在选择材料或开发新材料时，还要考虑到这些材料的热膨胀系数应与硅片的相匹配。532包封材料由于CSP产品的尺寸小，在产品中，包封材料在各处的厚度都小。为了避免在恶劣环境下失效，包封材料的气密性或与被包封的各种材料的粘附性必须良好；有好的抗潮气穿透能力，与硅片的热膨胀匹配；以及一些其它的相关性能。54CSP的价格问题CSP产品的价格也是一个重要的问题。目前，CSP产品的价格都比较贵，是一般产品的一倍以上。为了降低价格，需要开发一些新工艺、新技术、新材料，以降低制造成本，从而降低CSP的价格。55组装CSP产品的印制板问题组装CSP产品的印制板，其制造难度是相当大的，它不仅需要技术，而且需要经验，还要使用新材料。目前，世界上只有为数不多的几个厂家可以制造这类印制板。主要困难在于布线的线条窄，间距窄，还要制作一定数量的通孔，表面的平整性要求也较高。在选择材料时还要考虑到热膨胀性能。56CSP产品的市场问题目前，国内的CSP市场完全被外国公司和外资企业控制，国内企业产品要进入这个市场也是相当困难的。要进入CSP市场，首先是要开发出适销对路的产品，其次是要提高和保持产品的质量，还必须要及时供货，并且价格要便宜。6关于开发我国CSP技术的几点建议CSP技术是为产品的更新换代提出来的，该技术一开发成功，就很快用于了产品的生产。经过短短几年，它就成为了集成电路重要的封装技术之一。而且，该技术还在迅速发展。近几年，CSP产品的产量增长很快，预计在今后的几年，还将高速增长。在2002年，CSP产品的产量已达到50多亿只，接近BGA的产量，年产值已达20多亿美圆。近几年CSP产品的统计和近两年CSP产品预测情况如表3从表中可以看出，CSP产品的增长速度是很快的，并且，它是以取代其它集成电路封装形式占领市场的。目前的PC市场容量达一千亿只，CSP产品仅占有IC市场的二十分之一。随着CSP技术的进一步开发，它会越来越多的取代其它的产品而占领更多的市场份额。在我国，CSP的市场手机、掌上电脑、薄型电脑等等很大。但是，这个市场目前完全被国外公司和外资公司占据。随着CSP产品应用范围的进一步扩大，市场还将增大。如果我们自己有CSP技术，我们就可以在国内的市场上占有一席之地。为了国家，为了民族，我们应该开展我们的CSP技术。但是，开发CSP技术，困难很多，它涉及的范围宽、技术难度大。因此，要开发CSP技术，需要有一批单位协同动作，还需要有足够的资金。为此，我们有如下几点建议61建立CSP技术推进协会CSP技术是一项系统技术，它涉及封装材料、封装工艺、应用材料、应用工艺等，为了完成CSP技术的开发，需要材料研究部门、材料制造部门、封装研究部门、CSP产品应用部门、印制板制造部门等相关的各个部门协同努力。为了协调这些部门的开发研究工作，需要有一定的组织形式。建立CSP技术堆进协会或其它的组织形式应是一种可行的办法。推进协会主要是领导、推动、协调、检查各部门的研究工作，以期加快CSP的开发研究和推广应用，使我国CSP产品的生产质量和能力得到迅速提高，从而可生产出高质量、高可靠性的CSP产品，满足国内市场及军事方面的应用。62建立CSP技术重点研究室为了开发CSP技术，可建立一定数量的CSP技术研究室；模塑包封材料研究室、柔性基片材料研究室、高密度树脂基片研究室、高密度多层布线陶瓷基片研究室、CSP产品封装研究室、高密度印制板研究室、CSP产品组装研究室、CSP标准化研究室、CSP产品可靠性研究室等。而且，一种类型的研究室应有两个以上，以使研究室之间互相竞争和互相促进，从而可保证和加快CSP技术的开发和应用。63需要国家投入足够的资金CSP技术，是一项有一定难度的高新技术。有一些技术是我们现在就有的，但需要提高；有一些技术是我们现在还没有的，需要开发。并且，要实现这些技术，都需要购买先进的设备，而这些设备都比较贵。另外，在进行技术开发时，需要投入一定的人力和物力；再进行试验时，要消耗材料、能源，一部分试验还要在另外的单位进行。而且，在技术开发时，还是冒失败的风险。在开发CSP技术中，需要的所有资金由开发单位承担，目前还不现实，因此需要国家投入资金，以扶持CSP技术的开发。64选择合适的CSP代表研究品种由于CSP的封装种类多，封装工艺也多，要开发各种封装工艺现在还不可能，也没有必要。因此，要选择好研究的CSP的代表品种。在一种或几种工艺开发完成后，再开发另外一些封装工艺。7结束语我国的集成电路封装，从上世纪60年代末期到现在，经历了金属圆管壳扁平陶瓷管壳双列陶瓷管壳、双列塑封陶瓷QFP管壳、塑料QFP陶瓷、塑料LCC陶瓷PGA管壳的封装，目前正在进入BGA、BGA、CSP的封装阶段。从集成电路的金属圆管壳封装技术的开发和应用开始，我国的封装技术人员就付出了辛勤的劳动，才使我国的封装技术达到了现在的水平。但是封装技术的进步，除了封装技术人员的努力外，还离不开各级领导的关心和支持，也离不开国家的大力投资。要开发我国的CSP封装技术，也需要各级领导的关心和支持，更需要国家在经济方面的大力支持。微型BGA与CSP的返工工艺包装尺寸和锡球间距的减少，伴随PCB上元件密度的增加，带来了新的装配与返工的挑战。随着电子装配变得越来越小，密间距的微型球栅列阵MICROBGA和片状规模包装CSP满足了更小、更快和更高性能的电子产品的要求。这些低成本的包装可在许多产品中找到，如膝上型电脑、蜂窝电话和其它便携式设备。包装尺寸和锡球间距的减少，伴随PCB上元件密度的增加，带来了新的装配与返工的挑战。如果使用传统的返工工艺而不影响邻近的元件，紧密的元件间隔使得元件的移动和更换更加困难，CSP提供更密的引脚间距，可能引起位置纠正和准确元件贴装的问题，轻重量、低质量的元件恐怕会中心不准和歪斜，因为热风回流会使元件移位。本文描述的工艺是建立在一个自动热风系统上，用来返工一些MICROBGA和CSP元件。返工元件的可靠性和非返工元件的可靠性将作一比较。工艺确认本方案的目的是检验工业中流行的MICROBGA和CSP的标准SMT装配和返工工艺。最初的CSP装配已在工业中变得越来越流行，但是元件返工的作品却很少发表。由于小型元件尺寸、减少的球间距和其它元件的紧密接近，对板级返工的挑战要求返工工艺的发展和优化。本研究选择了几种元件表一。这些元件代表了各种输入/输出I/O数量、间距和包装形式。内存芯片包装通常是低I/O包装，如包装1、2和4。通常这些包装用于双面或共享通路孔的应用。包装3，有144个I/O，典型地用于高性能产品应用。所以CSP都附着有锡/铅SN/PB共晶焊锡球，其范围是从0013“到0020“。所有包装都缝合以允许可靠性测试。为装配准备了两个测试板设计。一个设计是标准的FR4PCB，表面有用于线出口的“DOGBONE“焊盘设计。第二个设计使用了表层电路SLC,SURFACELAMINARCIRCUIT技术，和为线出口使用捕捉照相通路孔设计，而不是DOGBONE设计。板是1MM厚度。图一所示为典型的144I/O包装的焊盘形式。试验程序该返工工艺是在一台带有定制的偏置底板的热风返工工具上完成的使用BGA喷嘴热风加热适于小型MICROBGA和CSP返工的低气流能力,在定制偏置底板上对板底面加热,计算机控制温度曲线,校正的视觉系统,自动真空吸取和元件贴装接下来的特殊工业流程是典型的用于BGA返工的。用热风喷嘴加热元件到焊锡回流温度，然后拿走。板座上的焊锡使用焊锡真空工具移去，直到座子平坦。然后座上上助焊剂，新的元件对中和贴装，焊锡回流焊接于板上。要求作出元件移去和重新贴装的温度曲线。曲线参数必须符合锡膏制造商推荐的回流温度和保温时间。返工的每个元件座单独地作曲线，由于板面吸热的不同，内层和相邻元件的不同。以这种方式，将过热或加热不足或焊盘起脱的危险减到最小。一旦得到温度曲线，对将来所有相同位置的返工使用相同的条件。由于一个修正的回流工艺，开发出元件取下和元件回流贴附的分开的工艺步骤。图二所示，是使用返工工具的减少流量能力50SCFH的温度曲线例子。图三所示，是使用正常空气流量设定90SCFH的对较大元件的温度曲线。对取下元件，工具的偏置底板设定到150C，以均匀地加热机板，将返工位置的温度斜率减到最小。大的温度斜率可能引起局部板的翘曲。板放于框架的对中定位销上，支持高于底板面0250“。支持块粘贴于板返工座的背面，以加热期间防止翘曲。板被覆盖并加热到135C温度。返工工具使用无力移动技术来从板上移去元件。当过程开始，真空吸取管降低来感应元件的高度，然后升到特定的高度进行加热过程。当元件达到回流温度，真空吸嘴降低到预定高度，打开真空，移去元件而不破坏共晶焊锡接点。丢弃取下的元件，加热板上的下一个点。元件移去后接下来是座子修饰。这个是使用返工工具的自动焊锡清道夫来完成的。板放在偏置底板上，预热到大约130C。返工座在开始过程前加助焊剂。焊锡清道夫对SLC预热到420C，对FR4预热到330C，检查板的高度，然后一次过横移过焊盘的每一排，当其移动时把焊锡吸上到真空管。反复试验得出对较小元件座的焊锡高于板面0010“，对较大元件座0012“。使用异丙醇清洁座，检查是否损坏。典型的可避免的观察是焊锡污斑和阻焊的损坏。元件贴放和回流步骤如下进行。板预热到135C，使用无麻刷擦过板面来给座加助焊剂。助焊剂起着将元件保持在位和回流前清洁焊盘表面的作用。使用返工工具的分离光学能力来将元件定位在板，完成元件贴装。元件贴装后，真空吸取管感觉元件高度，向上移到预定高度。这允许吸取管保持与热风喷嘴内面的元件接触，当热风预热步骤开始时保持元件在位置上。跟着预热保温后，吸取管向上移动另外0015“或0020“，以防止焊锡回流期间元件倒塌。结果与讨论为了成功的CSP元件移动和更换，过程调整是需要的。在峰值温度，真空吸取管要降低到元件表面，损坏焊接点和溅锡到板上周围区域。尽管返工工具据说是使用无力移动技术，元件上轻微的压力足以损坏一小部分的共晶焊接点。板也看到去向上翘曲，使情况恶化。为了防止这个，在移去步骤中增加额外的高度，使得真空吸取管在移去时不会压缩焊接点。自动元件座清理工艺成功地使焊盘上的焊锡变平。这个步骤是关键的，因为焊盘必须平坦以防止贴装时的歪斜。留下的焊锡覆盖层在任何焊盘上典型地小于0001“高。图四是在元件移去和座子清理后的典型的元件座的一个例子。元件贴放和回流是最困难的。在给座子上助焊剂后，贴放元件和回流座子，通常元件会偏斜。在不同情况下，元件锡球在板上焊盘内熔湿不均匀。人们相信，元件太轻，在热风喷嘴内移来移去。这种现象甚至发生在返工工具所允许的低气流量情况。为了防止元件移动，返工工具设定程序，在贴装之后把真空吸取管留在元件顶上，直到通过温度曲线的预热部分。当回流周期开始时，真空管回轻轻缩回，允许元件熔湿焊盘而不损坏焊接点。这个方法使用很好，但有一些缺点。回流期间，元件上的吸取管的高度和重量有时会造成锡桥。真空吸取管似乎也会降低BGA的自对中能力。面对的另一个问题是板的翘曲。因为板很薄，翘曲是一个很大的关注。使用特殊的支持块来防止翘曲，在每个步骤，板被预热以减少可能引起翘曲的温度差。尽管如此，还有问题。板会在高度读数的压力下向下弓，随后在加热过程中向上翘曲。这意味着，不得不在每一步中增加额外的高度。甚至这还不足够。相同的拆卸参数会破坏拆卸中的元件，并且还不精确到足以拆卸另一块板上的相同位置的元件。另外，使用的板的上助焊剂技术招徕问题；它是很主观的，一个技术员与另一个技术员差别很大。太多的助焊剂产生一层液体，回流期间CSP元件可能漂移。同时，太少助焊剂意味着当热空气第一次开动时，没有粘性的东西来保持元件在位置上。较近的论文指出，只对BGA本身而不是板的焊接点上助焊剂改进了返工工艺的效率。最终返工焊接点与非返工焊接点是可以比较的。可靠性装配的测试板进行从40C到125C和从0C到100C的加速温度循环ATC,ACCELERATEDTEMPERATURECYCLING试验。也进行绝缘电阻IR,INSULATIONRESISTANCE测试。对任何的包装都没有发现IR失效。包装4有早期ATC失效100200个周期，40C125C，后来发现，该包装的供应商由于可靠性问题没有继续该包装。包装13在0C100C的测试中表现良好大多数情况经受大于1000次循环，而40C125C的试验有混合的结果。这个温度循环范围可能太进取一点。包装1和2的返工元件的循环寿命比非返工元件稍微低一点，而包装3具有可比较的循环寿命。结论MICROBGA和CSP元件可用传统的热风返工工艺进行返工。为得到高效率，返工工艺参数的调节是需要的。因为CSP元件小型，重量轻，要求对热风流量和真空吸管高度的调节以避免元件对不准或元件损坏。使用优化的返工工艺返工的元件，保证了另外的可靠性测试。实现CSP技术一个新产品介绍的受控方法现在，OEM会看好这样的合约制造商CM，如果它有能力对元件包装的挑战作迅速的反应，特别是当涉及到新的，诸如CSP有关的装配技术实施的时候。为了成功实施一项新的元件包装技术，如芯片规模包装，有必要标识设计边缘条件，特征化工艺性能和实施过程控制机制。目的是认识到变化的挑战和根源。诸如SMT工具设计、金星膏附着、自动元件贴装和回流通渠道焊接等工艺是关键特征。这里要谈的是应用于第二类PCMCIA装配的新产品介绍，该装配在闪存器应用中使用了CSP技术。测试载体设计一个试载体，用来研究将CSP技术在生产中实施的各种装配和材料处理有关的事宜，和预期顾客的要求。载体的基本结构代表使用CSP的预期产品等级，。由于相对较小的包装附着点或焊盘，平面抛光处理是最适合的。对一个更稳定的装配过程，考虑三种基本的表面处理方法浸金、浸白锡和有机可焊性保护。虽然镀锡电路板用于CSP也有有限的成功之例，但从热空气灶锡均匀工艺得到的焊锡厚度的正常差异相对于CSP特征尺寸是非常大的。选择两个印刷电路板供应商来制造测试载体。所有附着点都是非阻焊的、或金属的定义的。使用测试载体的优点是它代表一个中性的存在，允许对关键变量的处理，如表面处理、电路层结构和供应商，这样可以研究对一个完整的电气设计不大可能的变量。当寻求特征化板级连接的品质时，菊花链式的连续性模式是所希望的，因为测试模型相对不贵，而且已经可用作评估。一个有少量电镀通孔的双层测试载体是更有成本效益的。事实上，使用中性板设计，许多供应商都会提供测试载体样板，来参与他们认为将产生潜在生产批量生意的资格测试。由于设计变化和经济宽容度，可以迅速而经济地完成多元设计试验，留下更多的时间作工艺开发。在知识转换成生产工艺期间，成功的机会增加。在这种情况下，到的知识直接转换成带有CSP的第二类PCMCIA卡的模型、预生产和正式生产。本文描述试验设计之一的重点部分。试验方法与结果装配工艺开发中的CSP。选择一个BGA来开发CSP装配工艺。计划用于生产的CSP在几何形状上与BGA相似，但有这些例外内部芯片到包装的连接、内边器基底材料和两上额外的焊锡球或I/O。测试载体的获得与来料检查。测试载体样品是来自两个具有可比较的PCB制造能力的供应商；接到板后测量尺寸的完整性。除了对关键板的尺寸视觉检查之外，也使用X光荧光机器测量浸金表面处理板的金阻挡层金属的厚度。检查表明测试载体的浸金与镍的厚度是所希望的。对于有机可焊性保护表面处理，合约供应商几乎没有可能进行来料的覆盖或厚度均匀性的品质控制。这是因为OSP是有机化学物，不能用现在主流的PCB检查工具如XRF来测量。浸白锡涂层是通过截面法和第三方法室进行的顺序电气化学减少分析法来测量的。焊锡沉淀和模板设计。选择一个DOE方法来决定最佳的焊锡沉淀工艺设定和模板设计。用来优化模板印刷机的设定，如刮刀速度和压力、断开、和断开延时。第二个DOE是用来解决关键的模板设计特性，如开孔尺寸、形状、模板厚度和锡膏。对分析的简单性和过程反应的敏感性，进行一个四因素、两级全因子。对后者分析研究的唯一要考虑的因素是模板厚度、开孔尺寸与形状。使用桌上型激光扫描显微镜对每一种因素组合的五块板和每块板上总共20个锡膏高度进行测量。在测量锡膏高度同时，通过2D印刷后检查相机和软件决定截面上锡膏沉淀区域或焊盘覆盖范围。通过表征锡膏高度与2D锡膏覆盖范围的结合，有代表性的锡膏沉淀体积可计算出来。使用一个评分的线性模型；评分系统内的分等级是基于被观察的试验变量，累加的或印刷性能分数是锡膏偏离和覆盖区域分数的总和。作为参考，每个条件的目标焊锡高度为模板厚度加上00005。因素表的分析揭示了模板设计内两个最重要的因素就是开孔尺寸和模板厚度。这直观上是基于模板纵横比对锡膏释放影响的一般经验。在这种情况中，最好的锡膏释放、印刷定义和锡膏量是在使用0005厚的模板、0014方形开孔和免职洗锡膏时观察到的。相应的纵横比为28，面积比为07，这些值都分别比所希望的15和066的最小值较大。对开孔形状和锡膏化学成分的不同反应都在试验不确定因素的边界内。免洗锡膏的释放性能提高，显然是由于它对湿度变化的抵抗力。随着工作环境湿度变小，水基化学物趋于变干燥。免洗助焊剂载体是不会如此容易受影响的，因为它们不依靠有机酸作助焊剂活性剂。至于开孔形状的影响，通过使用圆形开口，面积比变为不适宜的054，而使用方形开口时为07。交收到的所有装配在测试载体上的CSP都是放在托盘内的。用一个柔性贴装平台将元件贴放于一个玻璃平板上。用测试载体把元件贴装拧到所希望的精度水平，该玻璃平板被用来确定机器贴装的精度和可重复性水平。玻璃平板的设计使得BGA之上的锡球对应于玻璃平板表面的电镀目标7。后者用“粘性的”胶带覆盖，以提供CSP的暂时的附着力。在贴装之后，玻璃平板被翻转，在高倍放大镜下观察CSP的锡球对目标的对齐。在贴装大约35个BGA之后，发现相应的位置精度在60M之内。正如制造商所标出的。观察到过程能力指数为20，表示在建立控制之后，在研究的过程条件下可得到一个稳定的过程。通过在FR4测试载体上贴放BGA，进一步特征化元件贴装。锡膏在贴装之前丝印在载体上，在传送到回流之前，通过发射G光检查证实元件的定位。回流焊接使用八个温区的对流式回流焊接炉。炉的加热长度是98一代上可选的冷却区用于回流焊接分析。炉也装备有封闭循环的静压控制，以保持气室内每个区的对流速度。由于CSP元件相当于生产装配上那些周围SMT元件质量较小，板面的空气流速度必须控制到在焊接之前元件的干扰最小。锡膏的粘性是唯一用于保持元件位置的。保持和控制板面上空气流速度证明是一个无价的CSP装配工具。选择用于装配的温度曲线应容纳锡膏的特性，如助焊剂载体与合金、CSP锡球合金、最脆弱的元件最高温度和推荐的升温斜度。虽然CSP是最脆弱的元件，但最大温度为225是工艺所希望的。加一个关键的温度曲线参数是每秒34的温度上/下变化。为了达到准确的焊锡熔湿和锡球陷落，液相线以上6090秒的时间是所希望的。时间温度回流曲线是使用数据采集系统和板上热电偶附着来获得的。通过从板的背面钻穿，将热电偶附着于所希望的位置，用高温焊锡合金焊接于CSP锡还需上。另外，通过在附着点使用一点热固胶来达到对热电偶线的应力释放。为了特征化回流的品质使用X光检查焊接点内的空洞、锡桥或短路、和陷落不良的锡球。为保证回流效率，样品准备用于破坏性分析和焊接点完整性的截面检查。注意对附着座各边的积极的熔湿表示锡球达到一个可接受的温度，来熔湿焊盘和形成机械的与电气的连接。在放大镜下，锡球与附着座之间的交互绑接区域有平滑的和连续的金属熔合层，显示焊锡与铜焊盘之间有适当的冶金反应。金属熔合层表示焊锡附着座上面的保护涂层，不管是浸金和锡情况下的无机物，还是OSP使用的有机物，都不妥协，出现可焊接的表面。最后，除了分析锡球对板的介面，还要检查锡球对包装的介面，以保证包装级的回流过程不使包装级的连接打折扣。知识转化在试验载体上的BGA的装配试之后，为电路板、SMT工具设计、元件贴装、回流焊接和检查所决定的参数被转换到使用CSP的第二类PCMICA卡的装配中。后者是用于闪存器的元件包装，它成功地满足了小型、轻便、高密度的装配要求。在产品原型与新产品介绍的生产准备阶段，在开发期间得出的过程参数被检查和确认，用于稳定的装配过程。PCMCIA卡有其它的元件可能会要求更多的焊锡，0005厚度的模板供应有到。类似地，一个周围元件具有电镀端子，可能要求稍微较高的回流曲线温度。最后，只要求在开发阶段建立的极端过程变化。即可生产出高品质的产品，在预期的成本内准时发货。谈CSP封装器件的返修工艺流程THEREPAIRFLOWCHARTOFCSPCOMPONENTS摘要球栅列阵封装技术，简称BGA封装，早在80年代已用于尖端军备、导弹和航天科技中，它对于电子设备的微型化和多功能化起到决定性作用。随着半导体工艺技术的发展，近年来广泛地使用到BGA封装IC元件，领导这一发展趋势的芯片级封装CSP在今天已开始得到广泛应用，随之而来对于CSP封装器件的返修更显重要关键词集成电路封装技术随着光电、微电制造工艺技术的飞速发展，一些高端电子产品为了满足电子设备更小、更轻和更便宜的要求，制造商们也开始改变其应用电路中芯片元件的封装形式，越来越多地采用精密组装微型元器件，如倒装芯片等。然而在实际组装中，即使实施最佳装配工艺也还是会出现次品需要返修，此时应如何采用正确的返修系统，使返修工作具有更高的可靠性、重复性和经济性是摆在我们面前的重要话题。多年来，尽管印刷线路板PWB的装配自动化和制造工艺一直在为满足封装技术的要求而努力，但是100成品率仍然是一个可望不可及的目标；不管工艺有多完美，总是存在着一些制造上无法控制的因素而产生出不良品。PWB装配厂商必须对废品率有一定的预计，产量的损失可以用返修来弥补，通过返修挽回产品的价值而不至于使其成为一堆废品。一般而言，返修常被看作是操作者掌握的手工工艺，高度熟练的维修人员可以使修复的产品完全令人满意。然而新型封装对装配工艺提出了更新的要求，对返修工艺的要求也在提高，此时手工返修己无法满足这种新需求。集成电路封装技术的趋势集成电路封装的发展大大增加了元件的I/O密度，改进了电气性能和散热性，从DIP、TSOP到BGA，在BGA技术开始推广的同时，另外一种从BGA发展来的CSP封装技术正在逐渐展现它生力军本色。CSP，全称为CHIPSCALEPACKAGE，即芯片级封装的意思。作为新一代的芯片封装技术，在BGA、TSOP的基础上，CSP的性能又有了革命性的提升。可以说CSP技术的诞生，为DDR内存时代出现的高速度、大容量、散热等问题提出了相应的解决方案，不言而喻，该技术将取代传统的TSOP技术及BGA技术，成为未来集成电路发展的主流技术。CSP最早用在小型便携式产品中，由于体积和电性能方面的原因它的应用正在增长，预计2003年CSP的使用量将超过20亿片。（图1事实上CSP可以是任何封装形式，但它的面积不能大于IC裸片的12倍否则就不能称为芯片级封装。目前已有很多CSP设计采用了多种互连技术，其中最有名的可能就是BGA，它由TESSERA公司开发并拥有专用许可权。倒装芯片是另外一种技术，它也具有很小的封装尺寸和良好电气性能。这种封装在IC上直接安放互连凸焊点另外一种使用导电胶的互连凸焊点技术不属于本文讨论范围，将IC面向下放在线路板中，然后用回流焊焊在板子的焊盘上。倒装芯片焊盘尺寸可小至0102MM，增加了对位难度，而且其焊球很小，只允许板子有很小扭曲，因此返修工艺必须有足够精确的放置性能，并保护板子在加热时不会产生扭曲。CSP封装器