电子元器件解析二极管电阻与温度的关系_第1页
电子元器件解析二极管电阻与温度的关系_第2页
电子元器件解析二极管电阻与温度的关系_第3页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、电子元器件解析:二极管电阻与温度的关系二极管是一种应用非常广泛的微波控制器件,可以用来制作微波开关、微波衰减器、微波限幅器、微波移相器等。在各类二极管电路应用中,二极管电阻的温度特性强烈地影响着微波电路的温度性能。二极管温度效应的研究包括对迁移率和载流子寿命的温度特性的理论分析和实验研究。文中针对几种不同结构和钝化材料的二极管,对其温度性能进行了研究,包括I区域载流子寿命与温度的关系、迁移率与温度的关系以及电阻与温度的关系,研究表明:二极管电阻的温度性能主要依赖于二极管结电容的大小。1 理论分析在微波工作状态下,二极管的电阻与正向电流以及半导体材料参数相关。可用简化表达式来表示式中:W为I区的

2、厚度;IF为正向电流;为I区双极迁移率=n+p;为双极载流子寿命。式中,迁移率和载流子寿命与温度相关,即对电阻的温度性能有影响。1. 1 迁移率迁移率与温度的关系比较复杂,但在一定的温度范围内,半导体体内的杂质已全部电离,本征激发还不十分明显时,载流子浓度基本不随温度变化,影响迁移率的诸多因素中,晶格散射起主要作用,迁移率随温度升高而降低。一些学者的研究结果表明,在一50+200(223473 K)内,迁移率和温度的关系可表示为式中:n值为22.2;t0为常温,通常定为25(298 K)。1.2 少数载流子寿命少数载流子寿命不仅受到体内复合的影响,更为重要的是,很大程度上受表面状态的影响,是一

3、个结构灵敏参数,是体内复合和表面复合的综合结果,可表示为式中:v是体内复合寿命;s是表面复合寿命。研究发现:载流子寿命随温度的增加而增加,可表示为式中m称之为载流子寿命因子。1.3 载流子寿命因子与电阻比较式(2)和式(4),在一50+200(223473 K)内(二极管通常的工作温度范围),令n=2,则得到二极管电阻的温度特性为由式(5)可以看出,电阻的温度特性取决于迁移率和少数载流子寿命温度特性的综合结果。图1是以载流子寿命因子m为参数,由式(5)得到的归一化电阻与温度的关系曲线。图1表明,二极管的电阻可以随载流子寿命的增加而增加,也可以是减少或保持不变,当m=2时,二极管的电阻不随温度变化。影响载流子寿命因子m值的因素很多,包括:二极管几何结构(I区域的宽度、结直径、结形状等)、表面钝化材料的电学性质,以及本征层的载流子浓度等。这些因素中,由于二极管的工区域的载流子浓度一般不高于1014cm-3,当外延材料杂质浓度稳定且缺陷很少时,外

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论