SPC概论培训讲座PPT

1、spc概論 spc 基本概念及應用 spc spc 介紹介紹 spc spc 體系體系 變異變異 分配的掌握與抽樣分配分配的掌握與抽樣分配 管制圖的原理及種類管制圖的原理及種類 管制界限的導出管制界限的導出 管制圖的製作管制圖的製作 管制圖的判讀管制圖的判讀 製程能力評價製程能力評價 客戶客戶產品產品 製程 process control q.c. inspection control limit spec 方法人員 材料機器環境 監控製程 讓製程穩定 製程能力提昇 spc 介紹介紹 何謂製程管制何謂製程管制 (process control) 製程(process)- 影響工作結果之所有原因

2、的集合，亦即為 達成工作之製造過程中所有活動的集合。 方法 環境機器原料 人員 工作 結果 原因手段 特性目的 管制(control)- 確保達到要求標準必要時採取矯正行動 統計製程管制統計製程管制 (spc) 因製程具有變異，故數據會有變異，而有不同的值出現， 穩定時，其具有某種分配型態。 製程為一無限母體，只能以抽樣方式，抽取少數的樣本 以推測製程情況。 故運用“統計手法”做為製程分析、管制及改善之工具。 spc 即即 . . 自製程中蒐集資料， 加以統計分析， 並從分析中發現異常原因， 採取改正行動， 使製程恢復正常，保持穩定 並持續不斷提昇製程能力的方法 spc 即即 . . 製程解析

3、及管制 收集資料 統計分析採取措施 持續改善 製程改善 製程資料異常穩定製程 製程能力好能力的製程 spc的目的幫助製程製造出所要的產品 維持正常的製程 事先做好應該做的 ( 標準系統 ) 製程異常發生能偵測出並除去之防止其再發 能力要足 能力指標 提昇能力 - 持續改善 製程掌控的兩種方式 b 製程a a b 製程a a 行動問題 問題行動行動 a : 查檢項目 b : 管理項目 管理點 查檢項目- 檢查要因 管理項目- 以結果檢查 變異變異 變異的存在是不爭的事實 製程 製程變異衡量變異 變異變異 原 料 刀 具 機 器 半 成 品 生產 條件 環 境 人 員 方 法 產出 衡量方法 衡量

4、工具 衡量人員. 變異的結果變異的結果 存在變異資料形成某種散佈 (分配) 考慮資料集團 共同原因的變異 - 共同原因：亦稱偶然原因或機遇原因，使品質發生微小 變異且為不可避免的原因，此原因造成系統內的原因 - 此變異為系統的固有變異。亦即在穩定的現況下系統的 自然變異 ( 自然能力 ) 共同原因的變異 (common causes) 特殊原因的變異 (special causes) 變異 特殊原因的變異 - 特殊原因：亦稱非機遇原因 由於機器的差異，方法、條件的不同 操作者的疏忽等原因，使得產品之品質 發生重大變異 - 此時品質特性值的分配已改變 產出 製程 特性值 計量值 (variabl

5、e ) 可以量測的品質特性其值為 連續性的數據，如長度、重量 、強度等 表示好或壞的程度 掌握特徵 中心位置及散佈狀況 s m 計數值 (attribute ) 品質特性其值為離散的數據， 如不良數、顆粒個數等 只表示好或壞 不良率 p 含有一或多個 缺點以致不用 的產品 缺點數 l 不合格的特性 稱為缺點 ( 數量化 ) 管制圖： 實際產品品質特性與過去經驗之能力做比較而得到之趨勢圖 監控、管制以使製程穩定之工具 數據種類圖別說明 x-r 管制圖 x-s 管制圖 x-rm 管制圖 平均值與全距管制圖 平均值與標準差管制圖 個別值與移動全距管制圖 p 管制圖 np 管制圖 c 管制圖 u 管制

6、圖 不良率管制圖 不良個數管制圖 缺點數管制圖 單位缺點數管制圖 計量值 計數值 管制界限的決定管制界限的決定 兩種錯誤 ucl cl lcl ucl cl lcl type i error : 把共同原因當做特殊原因type ii error : 把特殊原因當做共同原因 神經過敏，做些徒勞無功之事錯過改正之機會 管制界限的導出管制界限的導出 通式 ucl = my + 3sy cl = my lcl = my - 3sy my y的分配 ucl cl lcl 3sy 3sy p21 n x - r chart (平均值與全距管制圖 ) x chartr chart cl = m ucl =

7、m + 3s = m + 3s/ n = m + as lcl = m - 3s = m - 3s/ n = m - as x xx xx 狀況二： m , s 未知 x m，r/d2s 狀況一： m , s 已知 cl = m = d2s ucl = m + 3s = d2s + 3d3s= d2s lcl = m - 3s = d2s - 3d3s= d1s r r r r r cl = m = x ucl = m + 3s = + 3(r/d2)/ n = + a2r lcl = m - 3s = - 3(r/d2)/ n = - a2r x x x x x x cl = m = r u

8、cl = m + 3s = (d2 + 3d3) ( /d2)= d4 lcl = m - 3s = (d2 - 3d3 ) ( /d2)= d3 r r r r r r rr r n x - s chart (平均值與全距管制圖 ) x charts chart cl = m ucl = m + 3s = m + 3s/ n = m + as lcl = m - 3s = m - 3s/ n = m - as x xx xx cl = m = s ucl = m + 3s = (c4 + 3c5) (s/c4)= b4 lcl = m - 3s = (c4 - 3c5 ) ( /c4)= b

9、3 s s s s s s s 狀況二： m , s 未知 x m，s/c4s 狀況一： m , s 已知 cl = m = c4s ucl = m + 3s = c4s + 3c5s= b6s lcl = m - 3s = c4s - 3c5s= b5s s s s s s cl = m = x ucl = m + 3s = + 3(s/c4)/ n = + a3s lcl = m - 3s = - 3(s/c4)/ n = - a3s x x x x xxs n其他類管制圖 種類公式備註 x-rm chart 個別值 與移動 全距管 制圖 x chart: cl = ucl = + e2

10、lcl = - e2 rm chart: cl = ucl = d4 lcl = d3 x xrm x rm rm rm rm rm: 移動全距 之平均 p chart 不良率 管制圖 p chart : cl= ucl= +3 lcl= -3 p p p (1- )p ni p p (1- )p ni p(1-p) n p = xb(n,p) p = x/n sp= sxi sni 種類公式備註 np chart 不良數 管制圖 c chart 缺點數 管制圖 u = sci sni p chart : cl= ucl= + 3 lcl= - 3 np np (1- )pnp npnp (1

11、- )p 每組樣本大 小需相同 p = x/n c chart : cl= ucl= +3 lcl= -3 c c cc c c = sci k u chart 單位 缺點數 管制圖 u chart : cl= ucl= +3 lcl= -3 u uu ni uu ni 管制圖的製作管制圖的製作 step1 收集數據 ( x-r 管制圖 ) step6 沿用管制界限進行製程解析，調查異常原因， 並除去之，修正管制界限及中心線 step5 描點，繪圖 step4 求出管制界限 step3 計算總平均 x 及全距平均 r step2 計算各組平均 x 及全距 r step1 收集數據 step2

12、計算各組平均 x 及全距 r 收集某一定期間的數據為預備數據，至少收集 25組以上樣本， 100個以上數據 x = (x1+x2+xn)/n r = max(x1,x2,xn)-min(x1,x2,xn) step3 計算總平均 x 及全距平均 r x = (x1+x2+xm)/m r = (r1+r2+rm)/m step5 描點，繪圖 clx = x uclx = x + 3s = x +a2r lclx = x - 3s =x - a2r x x clr = r uclr = d4 r lclr = d3 r a2 , d3 , d4 可由查表得知 將各組的x , r 描點繪於圖上，並繪

13、上cl, ucl, lcl step6 沿用管制界限進行製程解析，調查異常原因， 並除去之，修正管制界限及中心線 若發現預備數據中有 data out of control , 則將該組 data 屏除於計算外， 補足 data重新計算cl, ucl, lcl及繪圖 管制圖的判讀管制圖的判讀 製程能力 各種條件均充分標準化，製程在 統計的管制狀態下，所呈現的質 與量的能力 製程能力評價 將製程變異和規格做比較， 用數量來表示的方法。 usllslusllsl 能力夠能力不足 lsl : 規格下限 ( lower spec limit ) usl : 規格上限 ( upper spec limit ) 評價方式 1.製程準確度的評價 ca (或k值) usllsl zuslzlsl x -