束线固定输出线材制程

1、束线固定输出线材制程1制程简介相关制程参数(P)理线方式绑附线材时线材位置束线枪刻度流程顺序整理输出线材用束线绑附输出线于侧盖 凹槽用束线枪将束线尾剪 除相关质量特性(Q)线材出CASE的长 度线材出CASE的长度1. 线材出CASE的长度2. 线材破损3. 束线断裂最重要之(Q)线材出CASE的长 度线材出CASE的长度线材出CASE的长度2. P/Q因果关系图P代号Q代号理线方式绑附线材时线材位置束线枪刻度线材出CASE的长度线材破损束线断裂3. 基本统计量1. 制程：束线固定输出线材位置2. 质量特性：线材出CASE长度3. 基本统计量*束线枪刻度固定为 2*绑附线材时线材位置无固定(1

2、) 313(11) 314(21) 311(2)315(12) 312(22) 313(3) 312(13) 310(23) 319(4)316(14) 313(24) 310(5) 314(15) 312(25) 313(6)314(16) 314(26)311(7) 312(17) 313(27) 309(8) 314(18) 309(28) 311(9) 312(19) 311(29) 319(10) 315(20) 310(30) 3154. 重要统计量：平均值：312.87标准偏差：2.475本质量特性之规格： 311.15 354. 直方图分析1. 制程：束线固定输出线材2. 质量

3、特性：线材出CASE长度3. 直方图:Frequency rl lstogramCABLE巳ngthnu匚越iVb曲匚j4. 分析:属于常态分配型不属常态分配型离岛型 双峰型 偏态型 其他5. 分析：经判断，此离岛现象乃因线材之黑色线 ，插附位置不同所导致，因为相同金道的不同孔位，线材皆可任意插附，而影响线材出CASE之长度，如将线材插附位置做一明确的规定，即可改善此一现象，将此离岛现象排除后才可进行制程能力诊断。5. 基本统计量1. 制程：束线固定输出线材位置2. 质量特性：线材出CASE长度3. 基本统计量(1) 313(11) 314(21) 312(2) 310(12) 308(22)

4、 311(3) 309(13) 312(23) 314(4)312(14) 315(24) 313(5) 311(15) 315(25) 315(6)314(16) 309(26) 311(7) 310(17) 311(27) 312(8) 317(18) 316(28) 316(9) 316(19) 314(29) 313(10) 313(20) 310(30) 3124. 重要统计量：平均值：312.6标准偏差：2.3435. 本质量特性之规格：311.15於356. 直方图分析1. 制程：束线固定输出线材2. 质量特性：线材出CASE长度3. 直万图:Frequency H istorn

5、307.5 309.5311,5313.5315,5317.5319 5306.5 306.5310.531Z,5314.5316.5310.5CABLEI. iengtli4. 分析：属于常态分配型不属常态分配型离岛型 双峰型 偏态型 其他5. 分析:7. 质量（Q制程能力诊断表制程：束线固定输出线材质量特性重要性取样频率平均值y标准偏差6上限下限CpCaCpk安全区管理 改善 区技术 改善 区线材出CASE长度15PCS/nr312.62.343317.5304.80.9030.2280.6978. 程改善对策汇总表1. 质量特性之综合分析分类质量特性安全区管理改善区技术改善区流程顺序11

6、流程顺序2流程顺序32. 安全区对策2.1有关制程参数之对策2.2有关质量特性之对策质量特性目前检验频率建议检验频率3. 管理改善区对策品质特性质匚对策说明4. 技术改善区对策4.1需要进行相关回归分析之质量特性线材出CASE长度4.2需要进行实验计划之质量特性9. 相关回归分析1. 制程：束线固定输出线材2. 相关分析：质量特性（Q-y）线材出CASE长度I制程参数（P-x）绑附线材时线材位置束线枪刻度相关系数（R）0.989567-0.821889相关分析最适模块Y - a + bxY - a + bx结论：影响质量成败最主要的制程参数是:绑附线材时线材位置3. 回归分析Regressio

7、n of CABLE4.length cm CABLE!.location318153一 6 一帥30vmmn3o o33G0303315318306305312CABLED. locit ion回归方程式 y二 20.9556 + 0.933333X制程参数（绑附线材时线材位置）的最佳操作范围为:3115.5Regressi on An alysis-L in ear model:Y=a+bxDepe ndent variable:Cabel 4en gthIn depe ndent variable: CABLE 4.lo cati onStan dardTProb.ParameterEs

8、timateErrorValueLevelIn tereept20.95566.424683.261730.00217Slope0.9333330.020722845.0390.00000SourceSum of SquaresDfModel731.73331Residual15.51111143Laek-of-fit6.17777813Pure error9.33333330Total(Corr.)747.2444444Correlation Coeffieie nt= 0.989567Mean SquareF-Ratio Prob.Level731.73332028.5160.000000

9、.3607240.4752141.527470.164640.311111R-squared=97.92 peree ntAn alysis of Varia neeSt nd. Error of Est.=0.6006034. 回归分析1?3163153143133回归方程式 y= 316.988 + 1.40345X制程参数（束线枪刻度）的最佳操作范围为：2.5 .5去因绑附此处线材之束线只能承受束线枪刻度到4的强度,若束线枪刻度超过4,则束线并非是由束线枪所 剪断,而是自行断裂。所以束线枪刻度的最佳操作范 围只能设在14。Regressi on An alysis-L in ear mo

10、del:Y=a+bxDepe ndent variable:Cabel3en gthIn depe ndent variable: CABLE3 .l ocati onStan dardTProb.ParameterEstimateErrorValueLevelIn tereept316.9880.515117615.370.00000Slope-1.403450.202827-6.919420.00000SourceSum of SquaresDfModel57.1203451Residual27.43965523Laek-of-fit14.6396553Pure error12.80000

11、020Total(Corr.)84.56000024Correlation Coeffieie nt= -0.821889Mean SquareF-RatioProb.Level57.12034547.878440.000001.1930284.8798857.624820.001370.640000R-squared=67.55peree ntAn alysis of Varia neeSt nd. Error of Est.=-1.0922610. 基本统计量1. 制程：束线固定输出线材位置2. 质量特性：线材出CASE长度（改善后）3. 基本统计量对策1:束线枪刻度固定为3对策2:绑附线

12、材时线材位置固定于312mn处(1) 313(11) 312(21) 312(2)312(12) 312(22) 313(3) 313(13) 314(23) 312(4) 312(14) 310(24) 311(5) 313(15) 313(25) 312(6)311(16) 314(26) 311(7) 312(17) 312(27) 311(8) 312(18) 310(28) 312(9) 311(19) 314(29) 313(10) 313(20) 313(30) 3124. 重要统计量：平均值：312.167标准偏差：1.053185. 本质量特性之规格：311.15於3511.

13、 直方图分析1. 制程：束线固定输出线材2. 质量特性：线材出CASE长度3. 直方图:Frequency HistarndguQJvlh曲309,5 310.5311.531Z.5313.5314.53BLE5. lengtli4. 分析：属于常态分配型不属常态分配型离岛型 双峰型 偏态型 其他5. 分析:12. 质量（Q）制程能力诊断表制程：束线固定输出线材位置（改善后）质量特性重要性取样频 率平均值X标准偏差b上限下限CpCaCpk安全区管理 改善区技术 改善 区线材出CASE 长度15PCS/nr312.1671.05318317.5304.82.009780.161.68813. 改

14、善前后成对数据比较12Frequency HistogramdCJuvTlhEJ8 4 0 4 8改善前 改善後307.5 309.5 399.5 310.5 311.5 312-5 313.S 314.5 315.5 31G.5 317.514. 管制图分析1. 制程：束线固定输出线材2. 质量特性：线材出CASE长度3. 集中趋势管制图:123313.56312.2310.81(9912314331311102 1 J G J li 11 LU II. e| li J 1. H I, J B 4 L J |:、丄尸*J,Charting CABLES .LNGIH正常 异常4.离中趋势管制

15、图:bS.0744fc52 A00312ISsubgroupvc 3正常异常5.异常现象说明:6.异常原因分析:15. 管制图分析1. 制程：束线固定输出线材位置2. 质量特性：线材出CASE长度3. 非机遇原因造成之异常形态3.1超出管制上下限3.2连续七点以上在中心线的同一边3.3五点中有四点在1 一以外3.4三点中有二点在2 一以外3.5连续七点上（或下降）3.6连续十五点在1以内4. 分析：4.1集中趋势管制图正常异常，异常形态为4.2离中趋势管制图正常异常，异常形态为5. 异常原因分析：范例二雷射二极管制程能力改善专题作者简介： 组员：吴志铭庄志祥宋国隆郭泽绵、流程简介说明相关1:C

16、HIP POSITIONONTIMEPDPOSITIONSUB.FORCE制程SUBTEMPONHEADERPOSITION ONPOWER参数(P)2:PREHEATING TEMP.PD SIZEHEADERTEMP流程 顺序1.CHIP ON SUB.2.RTA3.PDONHEADER4.SUB.ONHEADER5.W/B相关 质量 特性(Q)PUSH FORCE BEAMPATTERNPUSH FORCEImBEAMPATTERNPULLFORCE最重要之QPUSH FORCEPUSH FORCEImBEAMPATTERNPULLFORCE、P/Q因果关系图111PUSHFORCE0P

17、ULLFORCE0BEAMPATTERNIm密切相关：有相关性：O三、质量（Q ）制程能力诊断表制 程：LASER DIODE PACKAGE 数据期间：2/24/983/5/98PushForce130 pcs/week195.5675.2692001200.1950.8080.037PullForce230 pcs/week9.911.0531160.7910.6370.345Im3125PCS/LOT41.384.88220016.7940.5922.7571四、直方图分析1制程：LASER DIODE PACKAGE2质量特性：1m 3直方图Frequency Histogram29.

18、5 31.5 33.5 35 5 37 5 39 5 41 5 43 5 45 5 47.5 49 5 51.54.分析:近似常态分配型不属常态分配型离岛型双峰型偏态型5分析：属于常态分配型，可进行制程能力分析。五、直方图分析1.制程：IASER DIODE PACKAGE2质量特性：PUSH FORCE3直万图Frequcctj NduL-vnhuJIJ3fl199zm3BHFusHaeo ronci4. 分析：近似常态分配型不属常态分配型离岛型双峰型偏态型5分析：经分析是属于偏态型，除进行技术研究外，并拟同时作制程能力分析。六、直方图分析1 制程：LASER DIODE PACKAGE2.

19、 质量特性：PUSH FORCE3直方图nulilshubjFrequeic H9 3勺勺10 3HJLLFaCE.rorcc4.分析:属常态分配型不属常态分配型离岛型 双峰型偏态型5分析：1: 2 pcs (pull force=7.2gf) , 1 pcs (pull force=8.3 gf)经证实是由 chip 表面污染导致 pull force 下降。2： 1 pcs (pull force=11.9经分析是由于金线线径过大所致(1.3 mil)。七、制程能力分析与对策1.质量特性之综合分析SHEAR FORCEwPULL FORCES1Im2.安全区对策2.1有关制程参数之对策!程

20、参愚巧法PD size4 士 1 X 4 士 1 mil2PD positi on使HEADER凹槽大小与PD大小近似。2.2有关质量特性之对策Im125 pcs/lot125 pcs/lot3管理改善区对策品性:1:加强人员训练，减少由于CHIP残胶，残蜡及由于 OPR在制造过程中tray particle造成的CHIPSURFACEpullCONTAMINATION 。force2:利用相关回归分析找岀P与Q的因果关系，将制程平均植往规格中心修正。push利用相关回归分析找岀P与Q的因果关系，将制程平均植往规格中force心修正。八、结论1.Im :根据制程能力分析的结果（Cp=6.794

21、;Ca=0.592 ）落在制程能力改善方向图的安全区，我们将PD SIZE&PD POSITION 标准化，并使用管制图加以管制。2. PULL FORCE根据制程能力分析的结果（Cp=0.791;Ca=0.637落在制程能力改善方向图的管理改善区，我们将利用相关回归分析或DOE找出bon di ng time,temperature,pow与PULL FORCE的定量关系，以期获得最佳的生产条件（P j组合）。3. PUCH FORCE根据制程能力分析的结果，我们已利用相关回归分析找出在操作时间为15秒的条件下，制程参数（合金化温度）最佳操作范围为252266C范例三LBL-9765G亮度过

22、暗分析与改善i.原作者简介陈美枝小姐专科毕业光宝电子股份有限公司工程处技术师苏淑云 小姐专科毕业光宝电子股份有限公司工程处样品技术师李凤銮小姐高中毕业光宝电子股份有限公司光电制造工程处技术师一、选题理由近来由于客户抱怨 LBL-9765G亮度过暗，为紧急解决此一问题 ，目前以 BIN TESTER做SORTING,但如果不适时分析,生产线势必造成不良品过 多，导致生产浪费、制程简介:相关制程参数(P )1. 银胶量多 寡2. 钢嘴吸力1. PowerForce2. Time1. 点胶2. Preassure Time导光板反射片1. 电压2. 电流流程顺序AMABCOATING组装贴片F/T相

23、关质量特性(Q)1.掉晶粒2.破损焊线不良1. 点胶量过小2. 塌线1. 过暗2. 塌线1.过暗1. 电压不 符2. 过暗3. 电流不 符最重要之 Q掉晶粒焊线不良点胶量过小过暗亮度电流不符三、P/Q因果关系图 掉晶粒5晶粒破损5焊线不良O6点胶量过小5亮度过暗OOO13塌线OO6电压电流不符5密切关系 5O有相关性3O稍有相关1四、LBL-9765G亮度柏拉图分析1. 制程:LBL-9765G亮度分析2. 此制程有关缺点柏拉图：柏拉圖分析3分析：第一优先改善项目：裸晶亮度第二优先改善项目：点胶量大小五、LBL-9765G亮度柏拉图分析1. 制程:LBL-9765G亮度分析2. 此制程有关缺点

24、柏拉图：120100 00 -6040 200 亮度過谄 埸腺 鋅黠不良 晶粒破損點霹量過小電流不符掉i3. 分析:第一优先改善项目：亮度过低第二优先改善项目：塌线六、直方图分析1. 制程：测试站2. 质量特性：亮度3. 直方图：FreiuencrlllGlDg rimI1-2* -I_I12KW1BT97G5MFC4. 分析：属于常态分配型O属常态分配型O属离岛型O双峰型O偏态型 O其他七、质量（Q ） 制程能力诊断表（改善前）Process Capability An alysisProcess Capability for T9765.MFGSpecificati on:Normal d

25、isributi on:6.0 Sigma limits:Upper18Cou nt45+3.0 Sigma 17.4643Nomi nal15*Mea n14.1042Mea n14.1042Lower12*Sigma1.12002-3.0 Sigma 10.7442Estimated bey ond spec.:Capability in dices:Observed bey ond spec.:High0.025%CP0.892839High0.00%Low3.014%CR1.12002Low4.444%CPK0.626244Total3.039%(upper)1.15943Total4

26、.444%(lower)0.626244K-0.298593CPM0.694192*estimated parameter八、运用回归分析进行改善经过初步分析成品亮度（Y ）不均之问题，与原料之亮度（X ）应有密切关 系，为确认此关系故运用回归分析法进行改善研究，经过采取46组成对数据分析后，果然后发现两者之相关系数高达0.7988,因此依据两者之回归方程式（Y=0.803859+0.7891 X）重新修订原料亮度之规格，以彻底解决成品亮 度之质量问题。Regressi on An alysis-L in ear model:Y=a+bXIn depe ndent variable:Depe

27、nde nt Variable: IV13RAWA.ACTSta ndardTProb.ParameterEstimateErrorValueLevelIn tereept0.8038592.103070.3822320.70409Slope0.78910.130346.054150.00000An alysis of Varia neeSourceSum of SquaresDfMean SquareF-RatioProb.LevelModel23.386689123.38668936.652720.0000Residual28.712767450.638061Laek-of-fit23.0

28、03917400.5750980.503690.89823Pure error5.708850051.1417700Total(corr.)52.09945546R-squared=44.89 peree ntCorrelation Coeffieie nt=0.669989Stnd. Error of Est.=0.798788九、质量（Q ） 制程能力诊断表（改善后）制程：亮度过暗分析数据期间：8/19Process Capability An alysisProcess Capability for I13.I13Specificati on:Normal disributi on:6.

29、0 Sigma limits:Upper18Cou nt25+3.0 Sigma 17.5366Nomi nal15*Mea n15.5128Mea n15.5128Lower12*Sigma0.674596-3.0 Sigma 13.489Estimated bey ond spec.:Capability in dices:Observed bey ond spec.:High0.11%CP1.48237High0.00%Low0.00%CR0.674596Low0.00%CPK1.22898Total0.011%(upper)1.22898Total0.00%(lower)1.73576

30、K0.170933CPM1.17121Sample 1 / Sample 2成 品 亮 度影 响 亮 度2515.51280.67459618 cd/m212 cd/m21.48230.17091.2289J分析人员：部门主管：十、成品亮度改善前后之检定Two-Sample An alysis ResultsT9765.MFGI13.I13PooledSample Statistics:Numbrer of Obs.452570Average14.104215.512814.6073Varia nee1.254450.4550790.972321Std. Deviation1.120020.6

31、745960.986063Media n14.0215.6914.73Differe nee between Mea ns=-1.40858Co nf. 1 nterval For Diff. in Mea ns:95Perce nt(Equal Vars.)Sample 1-Sample 2-1.89951-0.91764798 D.F(Un equal Vars.)Sample 1-Sample 2-1.83709-0.98006967.5 D.F.Ratio of Varia nces=2.75656Conf. In terval for Ratio of Varia nees: 0 P

32、erce ntHypothesis Test for H0:Diff=0vs Alt:NEat Alpha = 0.05Computed t statistic = -5.72669Sig. Level = 2.53655E-7 so reject H0.结论：从检定结果显示，改善后之亮度确实有效提升1 一、改善后直方图分析1. 制程：测试站2. 质量特性：亮度3. 直方图：Freciueicr HitroDnml 1 I1 lI. I.1 J_L14皿力lbl&.ilbWmjii4. 分析：属常态分配型o属常态分配型O属离岛型 O双峰型 O偏态型 O其他5. 分析：经修改后，亮度提升，不会有

33、低于下限值出现（原先规格:AVG. 14 med即可投 入,未限MIN.亮度）十二、制程能力改善方向图製程能力改善方向5IX I Q IX (I I 0 Xf . | x Rt . J qt O !l O M O R： K flp Vx- 0. . 0 0.Q-J -J 彳 * ! V !. U ；a 啊V !? -XV JI X丿出 S： 厶 ! !=.也：! 4 ! 8 d 4X ! ” 4b 用 占1 1 t： _* - - - A r = - -T、 F=hI tJl詳4 7 * 乎口 G A. V . .W *： ff v;Hr；：99L：73* :Ca0170?:一 -等离辗J.=丿 iL . A r 斗、* ； F V ? - ? I J A= 壬 ，- .a A . J A - J. . . s : y : f : s ! i * i-fl- r - *: :- y :- : * ： ： _： 兰 Q,空 ：电|g鼻！ *也*X . r ；.